【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及半導體光電領域，尤其涉及一種光電測試方法及光電檢測裝置。
技術介紹
1、在常規uv(紫外)光模組的電性測試過程中，一般使用一臺電源或源表，對uv光模組通電測試，通過人工判斷電壓/電流是否在合格范圍內，同步確認uv光器件的發光亮暗情況，因uv光輻射對人體有傷害，測試人員需戴防uv面罩作業，戴面罩會過濾正常作業時所需的光線，作業過程中常有誤判現象，且測試效率低下。
2、因此，亟需一種光電測試方法及光電檢測裝置以解決上述技術問題。
技術實現思路
1、本專利技術的目的在于，提供一種光電測試方法及光電檢測裝置，用于改善現有技術的光電檢測裝置對uv光模組進行通電測試的測試效率低下的技術問題。
2、為解決上述技術問題，本專利技術提供了一種光電測試方法，方法包括：
3、s10，獲取待測uv模組光源點亮后的實際發光圖形；
4、s20，比較實際發光圖形與標準發光圖形之間的匹配度；
5、s30，根據匹配度確定待測uv模組光源點亮后的工作狀態是否異常。
6、優選地，s10步驟具體包括：
7、s101，將待測uv模組固定于一光電測試裝置中的固定載具上；
8、s102，通過光電測試裝置中的測試探針套件點亮待測uv模組；
9、s103，通過光電測試裝置中的影像測試組件獲取待測uv模組的實際發光圖形。
10、優選地，s101步驟中，固定載具包括多個鏤空部，每一個鏤空部內對應設置一個
11、優選地，s103步驟中，影像測試組件包括攝像模組。
12、優選地，s20步驟中，采用處理圖像分析算法比較實際發光圖形與標準發光圖形之間的匹配度，處理圖像分析算法包括圖像匹配算法、邏輯匹配算法以及人工智能匹配算法中的任意一種。
13、優選地，s30步驟具體包括：
14、s301，當匹配度大于或等于50％時，確定待測uv模組光源點亮后的工作狀態為正常；或者，當匹配度小于50％時，確定待測uv模組光源點亮后的工作狀態為異常。
15、s302，將包括uv模組光源點亮后的工作狀態生成發光信息存儲于計算機的存儲器中。
16、相應地，本專利技術還提供一種光電檢測裝置，包括測試模塊、與測試模塊電連接的比較模塊及與比較模塊電連接的處理模塊，測試模塊用于獲取待測uv模組光源的實際發光圖形，比較模塊用于比較實際發光圖形與標準發光圖形之間的匹配度，處理模塊用于根據匹配度確定待測uv模組光源點亮后的工作狀態是否異常。
17、優選地，測試模塊包括測試底座、與測試底座固定連接的支架、設置于支架上的影像測試組件以及夾持組件，夾持組件遠離支架的一端設置有測試探針套件。
18、優選地，測試模塊包括光電測試裝置還包括隔離罩，隔離罩完全覆蓋支架以及測試底座。
19、優選地，測試模塊包括光電測試裝置還包括固定載具，固定載具包括多個鏤空部，每一個鏤空部用于放置uv模組。
20、本專利技術的有益效果是：區別于現有技術的情況，本專利技術提供一種光電測試方法及光電檢測裝置，光電測試方法包括：首先，獲取待測uv模組光源點亮后的實際發光圖形，其次，比較實際發光圖形與標準發光圖形之間的匹配度，最后，根據匹配度確定待測uv模組光源點亮后的工作狀態是否異常；上述方法通過根據實際發光圖形與標準發光圖形之間的匹配度，以確定待測uv模組光源點亮后的工作狀態是否異常，從而能夠低成本地、高效率地、高準確度地對待測uv模組光源進行光電測試，進一步提高了光電檢測裝置的測試效率。
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1.一種光電測試方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的光電測試方法，其特征在于，所述S10步驟具體包括：
3.根據權利要求2所述的光電測試方法，其特征在于，所述S101步驟中，所述固定載具包括多個鏤空部，每一個所述鏤空部內對應設置一個所述UV模組。
4.根據權利要求2所述的光電測試方法，其特征在于，所述S103步驟中，所述影像測試組件包括攝像模組。
5.根據權利要求1所述的光電測試方法，其特征在于，所述S20步驟中，采用處理圖像分析算法比較所述實際發光圖形與標準發光圖形之間的匹配度，所述處理圖像分析算法包括圖像匹配算法、邏輯匹配算法以及人工智能匹配算法中的任意一種。
6.根據權利要求1所述的光電測試方法，其特征在于，所述S30步驟具體包括：
7.一種光電檢測裝置，其特征在于，包括：
8.根據權利要求7所述的光電檢測裝置，其特征在于，所述測試模塊包括測試底座、與所述測試底座固定連接的支架、設置于所述支架上的影像測試組件以及夾持組件，所述夾持組件遠離所述支架的一端設置有測試探針套件
9.根據權利要求8所述的光電檢測裝置，其特征在于，所述測試模塊包括光電測試裝置還包括隔離罩，所述隔離罩完全覆蓋所述支架以及所述測試底座。
10.根據權利要求8所述的光電檢測裝置，其特征在于，所述測試模塊包括光電測試裝置還包括固定載具，所述固定載具包括多個鏤空部，每一個所述鏤空部用于放置所述UV模組。
...【技術特征摘要】
1.一種光電測試方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的光電測試方法，其特征在于，所述s10步驟具體包括：
3.根據權利要求2所述的光電測試方法，其特征在于，所述s101步驟中，所述固定載具包括多個鏤空部，每一個所述鏤空部內對應設置一個所述uv模組。
4.根據權利要求2所述的光電測試方法，其特征在于，所述s103步驟中，所述影像測試組件包括攝像模組。
5.根據權利要求1所述的光電測試方法，其特征在于，所述s20步驟中，采用處理圖像分析算法比較所述實際發光圖形與標準發光圖形之間的匹配度，所述處理圖像分析算法包括圖像匹配算法、邏輯匹配算法以及人工智能匹配算法中的任意一種。
6.根據...
【專利技術屬性】
技術研發人員：周橋，錢永存，陳景文，王永忠，
申請(專利權)人：武漢優煒芯科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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