溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。
一種集成電路設(shè)計的漏電流分布的模擬方法；該模擬方法分析一個集成電路的設(shè)計圖，以了解該集成電路的晶體管及電容的尺寸；然后分析出該設(shè)計圖因為制程變異而可能產(chǎn)生的漏電流分布。由此，設(shè)計者可在集成電路設(shè)計實際地被半導(dǎo)體制造廠制造前，預(yù)先知道該集成電...該專利屬于呂一云所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過呂一云授權(quán)不得商用。