溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。

在利用函數對反應過程數據進行近似從而檢測異常的自動分析裝置中，根據檢查項目的不同，有時近似精度差、反應異常的檢測精度下降。數據處理方法儲存前述吸光度和測定前述吸光度的時刻作為時序數據，將吸光度設為x、將時間設為t、將表示乘法的符號設為*時，...
該專利屬于株式會社日立高新技術所有，僅供學習研究參考，未經過株式會社日立高新技術授權不得商用。

詳細技術文檔下載地址

溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。