溫馨提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。
本發(fā)明公開了一種應(yīng)變SiGe垂直CMOS集成器件及制備方法,在600~780℃,在襯底NMOS和PMOS有源區(qū)上分別連續(xù)生長(zhǎng)N型Si外延層、N型應(yīng)變SiGe層、P型應(yīng)變SiGe層、N型應(yīng)變SiGe層、N型Si層和N型Si層、N型應(yīng)變SiGe...該專利屬于西安電子科技大學(xué)所有,僅供學(xué)習(xí)研究參考,未經(jīng)過西安電子科技大學(xué)授權(quán)不得商用。