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本發明公開了三余度伺服閥及調試閥壓力的方法和調試方法用的組件，本發明僅在閥殼體溢流腔與底部回油孔之間薄壁上設有一個阻尼孔，且在調試單個先導級時在回油孔上增加一個壓力調試組件，與現有技術相比，其優點和有益效果是：無需復雜零件，省略了高精度的加...
該專利屬于上海航天控制工程研究所所有，僅供學習研究參考，未經過上海航天控制工程研究所授權不得商用。

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