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本發明提供一種PMOS晶體管的制造方法,包括:提供半導體襯底;在半導體襯底上形成柵極;向所述半導體襯底、柵極以及柵極側墻注入三氟化氮,向所述半導體襯底注入P型源漏摻雜離子;進行退火工藝。在進行退火工藝后三氟化氮被激活,氟離子在所述半導體襯底...該專利屬于中芯國際集成電路制造(上海)有限公司所有,僅供學習研究參考,未經過中芯國際集成電路制造(上海)有限公司授權不得商用。
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本發明提供一種PMOS晶體管的制造方法,包括:提供半導體襯底;在半導體襯底上形成柵極;向所述半導體襯底、柵極以及柵極側墻注入三氟化氮,向所述半導體襯底注入P型源漏摻雜離子;進行退火工藝。在進行退火工藝后三氟化氮被激活,氟離子在所述半導體襯底...