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一種量測坐標校正系統及方法，該系統用于：接收探針量測系統的探針上的探頭在校正物體上選擇的一個參考點；根據探頭偵測到的該參考點的坐標，計算該校正物體的第一標準中心坐標；當影像量測系統的鏡頭移動到該校正物體的上方位置時，利用影像邊界掃描方法獲取...該專利屬于鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司授權不得商用。