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本實用新型公開了一種單晶探頭探測平面鍛件平底孔對比試塊，所述對比試塊為圓柱體，所述對比試塊的一側底面上設置有平底孔，所述平底孔垂直于底面，所述平底孔與另一側底面的距離為L，當L小于等于152mm時，所述對比試塊的直徑為50.8mm±0.76...該專利屬于南京迪威爾高端制造股份有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過南京迪威爾高端制造股份有限公司授權不得商用。
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