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本發明公開一種太陽能芯片的抗反射層的檢測方法及檢測裝置，主要將一白色光源投射在一待測太陽能芯片上，并利用攝像單元對太陽能芯片進行影像的擷取以產生一影像數據，而后再對影像數據的色度進行分析，在分析的過程中可將影像數據區分成多個影像單元，并分別...
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