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本發明提供一種能夠使用熒光X射線正確且迅速地進行由透射X射線裝置檢測出的異物的位置的元素分析的X射線分析裝置。該X射線分析裝置（1）具備：透射X射線檢查部（10），其具有第一X射線源（12）和檢測從第一X射線源透射試料（100）的透射X射線...
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