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用于測試集成電路管芯的探針卡劃分方法包括：提供具有第一數量的區別部分的第一探針卡劃分布局。每個區別部分都使用用于測試的區別探針卡。第一探針卡劃分布局被再劃分為具有第二數量的區別部分的第二探針卡劃分布局。第二數量小于第一數量。本發明還提供了探...該專利屬于臺灣積體電路制造股份有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過臺灣積體電路制造股份有限公司授權不得商用。
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用于測試集成電路管芯的探針卡劃分方法包括：提供具有第一數量的區別部分的第一探針卡劃分布局。每個區別部分都使用用于測試的區別探針卡。第一探針卡劃分布局被再劃分為具有第二數量的區別部分的第二探針卡劃分布局。第二數量小于第一數量。本發明還提供了探...