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本發明涉及一種兼容高低溫測試的探針卡，包括基板、底座以及探針，所述底座固定于所述基板上，所述探針固定于所述底座上，所述探針的一端與基板上的電路相連通，另一端與晶圓相接觸，所述基板上還設有冷卻裝置，所述冷卻裝置包括殼體，所述殼體上設有進氣口和...
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