一種基于git的芯片前端開發系統及方法，通過包括設計模塊和驗證模塊的系統，在設計人員提交設計文件后更新設計模塊內的設計文件，同時更新所有開發人員(包括設計人員和驗證人員)分支下設計文件的方式，讓開發人員能夠及時獲知設計文件更新的信息并獲...

本發明公開了一種便捷的交換設備存儲單元管理辦法。在交換網絡中，交換設備的功能是對報文進行存儲轉發，存儲地址管理的主要負責向進入交換的報文不斷提供空閑儲存地址并回收結束占用的地址。本發明通過地址庫，地址分配站，地址回收站，報文庫四個模塊來...

本發明涉及一種封裝互聯結構、制備方法及電子系統，該結構包括基板、橋接芯片、中介層芯片集合和頂層芯片集合，其中基板內部開有槽體，橋接芯片嵌入槽體內，橋接芯片上層布有布線層實現中介層芯片組片間互聯，中介層芯片集合上下層均有布線層，頂層芯片集...

本發明涉及一種溝槽柵半導體器件及其制備方法，所述溝槽柵半導體器件包括：P+襯底；位于所述P+襯底上的N

本發明一種基于DICE的抗多節點單粒子翻轉和時鐘信號單粒子翻轉的D型鎖存器。通過設計由1個C單元及延遲結構組成的輸入電路，可以抵抗輸入信號的單粒子瞬態脈沖；由4個時鐘控制的傳輸單元、DICE結構組成的鎖存電路和由3個C單元及1個反相器組...

一種具有失調調節功能的溫度傳感器電路，包括感溫核電路、10位SAR ADC、一級轉換寄存器、二級輸出寄存器、上下限寄存器、失調校準寄存器、加法器、比較器。感溫核電路用于感知溫度對應的電壓值，經10位SAR ADC進行數字化轉換，所得10...

一種針對微系統內FPGA及FLASH單元的測試方法，采用由PXI測試儀、多個通用IO測試板卡以及測試夾；PXI測試儀對測試向量進行編碼，控制通用IO板卡提供測試通道，測試夾具保障測試對象的電氣連接。測試系統具備針對測試對象的自動化測試能...

一種衛星電推進系統測控單元，主要由主控和射頻功率處理單元控制模塊、直流電源處理單元控制模塊、貯供單元控制模塊以及電源模塊組成。主控和射頻功率處理單元控制模塊基于抗輻照可重構計算平臺設計，實現多通道遙測信號采集與處理、數據存儲等功能，基于...

本發明公開了一種面向FPGA的單粒子翻轉仿真系統及仿真方法，所述系統包括故障注入控制系統，用于對故障模型進行選擇，發送障注入指令控制故障注入系統進行故障注入，接收來自待測FPGA硬件的輸出并將其與預先獲取的待測電路在無故障情況下的輸出數...

本發明公開了一種抗單粒子瞬態和抗單粒子翻轉的抗輻射加固觸發器電路，包括：反相器電路、時鐘控制反相器電路、鎖存單元、延遲電路和驅動反相器電路；第一反相器電路的輸出端接第一時鐘控制反相器電路的輸入端和延遲電路的輸入端；延遲電路的輸出端接第二...

本發明公開了一種面向通信的多通道可編程射頻捷變收發處理微系統，滿足射頻收發與基帶處理一體化的應用需求，通過融合系統級封裝技術、布局布線技術和隔離技術，將多個射頻單元、可編程邏輯單元與存儲器單元集成于單一封裝體內，具備隔離度高、多頻多模、...

本發明公開了一種以太網接口電路單粒子效應檢測系統及方法，在真實的以太網通信環境下，試驗人員通過遠程終端與上位機系統的配置，按照設定的試驗流程和測試模式，進行多場景多向量多輪次的單粒子效應測試。本發明可以通過誤碼率、丟包率、時延等測試向量...

本申請公開了一種冗余互鎖的抗多位單粒子翻轉觸發器電路，包括輸入輸出電路、傳輸門電路、時鐘輸出電路以及冗余互鎖的主從鎖存器電路。反相器電路用于反相輸入數據信號D、時鐘信號以及輸出數據到觸發器電路的輸出端Q。傳輸門電路用于控制信號在主從鎖存...

一種LC型壓控振蕩器，包括LC諧振回路、尾電流源、輸出緩沖器；LC諧振回路通過電容陣列進而控制壓控振蕩器的諧振頻率；尾電流源電路通過電阻開關陣列控制電流功耗和振幅的大小；輸出緩沖器用于提高電路的輸出驅動能力，改善信號的占空比；所述LC諧...

一種集成電路片內存儲器單粒子翻轉評估方法及系統，包括：在對集成電路進行高能離子輻照的條件下，按照指定順序對集成電路內部存儲器的每個地址進行數據寫入，再讀出該地址的數據，將每個地址的寫入數據與從該地址的讀出數據進行比較；如果讀出數據與寫入...

一種用于SPARC V8指令集動態仿真驗證的參考模型，包括存儲單元，指令預處理單元，陷阱處理單元，指令執行單元及寄存器堆。存儲單元用于存儲指令與數據；指令預處理單元從存儲單元中取指令碼，將指令碼按照SPARC V8指令集的定義進行翻譯，...

本發明提供了一種抗輻照FPGA內嵌PCIExpress IP核的測試電路和方法，電路包括：測試用輸入端口TDI，連接至N個被測PCIExpress IP核的測試用輸入端口TI；測試用輸出管腳TDO，連接至其中一個被測PCIExpress...

本申請涉及熱點識別領域，具體而言，涉及一種熱點檢測方法及裝置，一定程度上可以解決通過光刻仿真方式進行熱點檢測時準確性差的問題。所述的熱點檢測方法包括：存儲多張包括電路版圖的第一圖像至圖像庫中，所述電路版圖包含熱點；確定所述圖像庫中與待測...

一種用于MOS芯片的陶瓷倒裝焊封裝結構，MOS芯片上側具有漏極、所述漏極與漏極轉接結構上側的焊接面焊接，所述漏極轉接結構下側的轉接面與陶瓷外殼的漏極焊接區域焊接；下側具有源極和柵極，所述源極與陶瓷外殼的源極焊接區域焊接，所述柵極與陶瓷外...

本發明公開了一種基于模數轉換電路的抗輻照電荷泵鎖相環鎖定檢測電路，包括：電壓電壓轉換電路、模數轉換電路和精度可調判斷電路。本發明利用兩個電壓電壓轉換電路，在保證鎖相環環路正常工作的條件下，將控制電壓這一敏感信號引出，進而利用模數轉換電路...