一種電子器件外觀檢驗(yàn)治具及其檢驗(yàn)方法,多層翻轉(zhuǎn)復(fù)合結(jié)構(gòu)(1)可拆卸安裝在所述萬(wàn)向移動(dòng)平臺(tái)(2)上,多層翻轉(zhuǎn)復(fù)合結(jié)構(gòu)(1)包括至少二層翻轉(zhuǎn)板;每層翻轉(zhuǎn)板包括滑動(dòng)限位區(qū)和放置功能區(qū),放置能區(qū)設(shè)置網(wǎng)孔矩陣,所述網(wǎng)孔邊緣銑圓角;上層翻轉(zhuǎn)板的網(wǎng)孔...