本發(fā)明公開一種高保持時鐘自適應(yīng)PTP流量的補償方法及高保持時鐘自適應(yīng)PTP流量的補償系統(tǒng)，根據(jù)PTP網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)包輸入時刻的數(shù)據(jù)流量大小動態(tài)調(diào)節(jié)鎖相環(huán)環(huán)路帶寬，抑制外部噪聲造成的時鐘基準抖動，并采用從鎖相環(huán)中提取的時鐘的相位信息對本地時鐘進...

本發(fā)明公開一種同步雙鎖相環(huán)調(diào)節(jié)方法，包括以下步驟：獲取本地時鐘與上級基準時鐘的相位差；校準模式下，將本地時鐘通過頻率合成方式調(diào)整至高頻值，以該高頻值作為計數(shù)頻率；改變分頻計數(shù)器B的脈沖計數(shù)值，快速改變本地時鐘的相位，使本地時鐘的相位與上...

本發(fā)明公開一種提高晶體振蕩器抗震性的方法及晶體振蕩器，其中提高晶體振蕩器抗震性的方法為：提供引腳、線路板以及晶體，使所述晶體固定在所述線路板上，使所述引腳與所述線路板連接，至少將引腳與線路板連接的部分采用柔性線路板(FPC)制成。本發(fā)明...

本發(fā)明涉及晶振技術(shù)領(lǐng)域，提供一種小型化、低功耗的晶體振蕩器，包括晶片、加熱器件以及殼體，所述晶片與所述加熱器件真空封裝于所述殼體內(nèi)。通過將加熱器件和晶片封裝在真空的殼體內(nèi)，使得殼體內(nèi)的溫度穩(wěn)定所需要的熱量遠遠小于傳統(tǒng)的對石英晶體殼體外壁...

本發(fā)明公開一種提高晶體振蕩器溫度精度的方法，在基板上至少離散布置有晶體、控溫模塊以及溫度傳感器，使用具有良好導(dǎo)熱性能的填充材料對所述晶體、所述控溫模塊以及所述溫度傳感器之間的間隙進行填充，使所述溫控模塊與所述溫度傳感器的溫度趨于一致；另...

本發(fā)明公開一種晶體振蕩器接地方法及晶體振蕩器，其中晶體振蕩器接地方法包括以下步驟：步驟S100、提供基板和導(dǎo)電殼體，殼體帶有可焊的引腳，基板帶有與引腳對應(yīng)的焊盤；步驟S200、于焊盤和/或引腳上涂覆錫膏；步驟S300、于基板上與殼體的外...

本發(fā)明公開了一種晶體振蕩器老化特性的自動測試方法及系統(tǒng)。所述方法包括：按照配置的老化特性測試參數(shù)啟動晶振測量單元；按照預(yù)設(shè)的頻率采集時間間隔產(chǎn)生頻率采集信號，向晶振測量單元發(fā)送所述頻率采集信號以采集待測晶體振蕩器在對應(yīng)時間點的頻率；接收...

本發(fā)明涉及晶體振蕩器頻率調(diào)整裝置技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種高穩(wěn)恒溫數(shù)字壓控晶體振蕩器系統(tǒng)。本發(fā)明所述的一種高穩(wěn)恒溫數(shù)字壓控晶體振蕩器系統(tǒng)，包括數(shù)模轉(zhuǎn)換器、第一穩(wěn)壓裝置、恒溫晶體振蕩器、及恒溫槽，由于數(shù)模轉(zhuǎn)換器、第一穩(wěn)壓裝置、及恒溫晶體振蕩器...

本發(fā)明涉及一種恒溫晶體振蕩器頻率校準方法、裝置及系統(tǒng)。讀取預(yù)先設(shè)置的測試條件，并寫入晶體振蕩器，讀取晶體振蕩器在不同測試條件下的輸出頻率，對測試條件與輸出頻率的關(guān)系數(shù)組進行最小二乘法曲線擬合得到關(guān)于二者的多項式函數(shù)，利用多項式函數(shù)，計算...

本發(fā)明公開一種恒溫晶體振蕩器，包括線路板、發(fā)熱器件和晶體，所述發(fā)熱器件具有晶體安裝面和線路板安裝面，所述線路板安裝面位于所述發(fā)熱器件遠離所述晶體安裝面的一側(cè)，所述線路板具有第一焊接面，所述線路板安裝面的尺寸小于所述第一焊接面的尺寸，所述...

本發(fā)明公開一種油導(dǎo)熱型恒溫晶體震蕩器加熱槽，包括槽體、晶體及用于封蓋槽體的槽蓋，槽體包括與槽蓋相接觸的第一側(cè)面，晶體包括晶體本體部及與晶體本體部垂直連接的晶體固定部，晶體本體部位于槽體內(nèi)，晶體本體部與槽體之間具有可放置導(dǎo)熱油的空腔，用以...

本發(fā)明公開了一種恒溫晶體振蕩器的控溫電路，所述溫控電路包括溫度傳感器、加熱電路、微控制單元、低通濾波器和平衡橋電路，所述平衡橋電路將平衡橋電路的第一節(jié)點與第二節(jié)點之間的電壓差輸入到加熱電路進行加熱，并使所述加熱電路中加熱三極管的電流與所...

本發(fā)明公開了一種DAC電壓輸出控制方法、裝置和晶體振蕩器的頻率補償系統(tǒng)。所述方法包括：獲取設(shè)定時間間隔內(nèi)DAC待輸出的第一電壓值；根據(jù)所述第一電壓值計算所述設(shè)定時間間隔內(nèi)的目標電壓范圍，根據(jù)所述目標電壓范圍，在所述設(shè)定時間間隔內(nèi)確定待輸...

本發(fā)明公開了一種晶體振蕩器溫度特性自動測量方法和系統(tǒng)。所述方法包括：設(shè)置待測晶體振蕩器的多個溫度測試點；根據(jù)溫度測試點，依次產(chǎn)生調(diào)溫信號，發(fā)送給晶振測量單元，以調(diào)整晶振測量單元為待測晶體振蕩器提供的環(huán)境溫度；當晶振測量單元的環(huán)境溫度每達...

本發(fā)明公開了一種晶體振蕩器波形參數(shù)自動測量系統(tǒng)和方法。所述系統(tǒng)包括：測量控制單元、數(shù)字示波器和晶振測量單元；測量控制單元用于控制晶振測量單元將與晶振選擇信號對應(yīng)的待測晶體振蕩器與數(shù)字示波器相連接；接收數(shù)字示波器發(fā)送的采樣序列，獲取待測晶...

本發(fā)明公開了一種恒溫晶體振蕩器拐點溫度自動測量方法和系統(tǒng)。所述方法包括：設(shè)置待測恒溫晶體振蕩器的M個溫度測試點，其中，M為自然數(shù)；獲取與所述M個溫度測試點對應(yīng)的待測恒溫晶體振蕩器的M個頻率測量值中的極值點；將與所述M個頻率測量值中的極值...

本發(fā)明公開一種雙槽恒溫晶體振蕩器，包括外電路板、內(nèi)電路板、外加熱槽、外發(fā)熱器件以及晶體，所述外加熱槽設(shè)置于所述外電路板上，所述外加熱槽外圍、所述外電路板上設(shè)置所述外發(fā)熱器件，所述外加熱槽內(nèi)并平行于所述外電路板設(shè)置所述內(nèi)電路板，所述內(nèi)電路...

本發(fā)明公開一種發(fā)熱器件，包括封裝環(huán)，封裝環(huán)具有封裝環(huán)側(cè)壁，封裝環(huán)側(cè)壁中心具有封裝環(huán)中心孔，在封裝環(huán)側(cè)壁內(nèi)設(shè)置用于對晶體加熱的發(fā)熱絲和用于檢測發(fā)熱絲溫度的測溫器件。本發(fā)明還公開一種恒溫晶體振蕩器，包括晶體，在晶體外圍環(huán)形設(shè)置上述發(fā)熱器件。...

本發(fā)明公開了一種時鐘閏秒處理方法及其系統(tǒng)，方法包括：使用存儲器存儲閏秒值，閏秒值初始由接收機獲取；當系統(tǒng)處于正常運行狀態(tài)時，通過接收機實時獲取UTC時間；根據(jù)高穩(wěn)恒溫晶振分頻計時獲取GPS時間；當系統(tǒng)重啟時，通過接收機實時獲取UTC時間...