本發明公開一種存儲器的信息存儲方法、裝置、存儲器和存儲介質，該存儲器的信息存儲方法包括：在目標字線中寫入目標參數數據；將與目標字線相鄰的兩組相鄰字線保持擦除狀態；在其余字線中寫入目標參數數據，其余字線為目標字線以及兩組相鄰字線之外的字線...

本申請公開了存儲芯片的信息管理系統，包括：至少一個信息采集模組，各個所述信息采集模組分別部署于對應的測試位置，用于對待測試芯片表面的身份識別碼進行信息采集，以得到采集數據；至少一個測試模組，各個所述測試模組分別設置有對應的所述信息采集模...

本申請提供一種SPI?NAND?FLASH存儲芯片的測試方法及測試設備，該SPI?NAND?FLASH存儲芯片的測試方法包括：根據用戶輸入的讀取數據、寫入數據和擦除數據的測試指令，按初始頻率對SPI?NAND?FLASH存儲芯片執行相應...

本申請實施例提供的基于AI模型的數據處理方法、芯片架構和智能終端，涉及AI技術領域。基于AI模型的數據處理方法，用于芯片架構，芯片架構包括：計算芯片、閃存和運行內存；閃存中存儲有AI模型，基于AI模型的數據處理方法包括：在目標觸發事件發...

本發明公開一種存儲器的擦除控制方法、裝置和存儲介質，該存儲器的擦除控制方法包括：根據Nand?flash存儲器的P/E循環次數，確定當前Nand?flash存儲器的當前次數階段；基于當前次數階段，為存儲單元配置對應的柵極偏置電壓，柵極偏...

本發明公開一種NAND?FLASH的自動化測試方法、裝置、系統和主機，方法包括：與NAND?FLASH建立SPI協議通信；根據用戶輸入的寫數據自動測試指令，從本地提取預先存儲的預設數據寫入NAND?FLASH，并讀取NAND?FLASH...

本發明公開一種芯片的存儲管理方法和系統，方法包括：掃描芯片的身份標簽，獲取芯片的身份信息；根據芯片的身份信息為芯片分配存儲空間，并控制存儲空間打開；若確定芯片存入存儲空間內，且檢測到存儲空間關閉，則將芯片的身份信息與存儲空間關聯，得到關...

本發明公開一種降低閾值電壓分布的閃存單元擦除方法、裝置和存儲介質，方法包括：根據擦除指令，獲取待擦除存儲塊的編程閃存單元和擦除閃存單元；對編程閃存單元進行抑制處理和對擦除閃存單元進行預編程處理，得到處理后的待擦除存儲塊；對處理后的待擦除...

本發明公開一種NAND?FLASH編程電壓的控制方法、裝置和存儲介質，方法包括：根據NAND?FLASH編程指令獲取預設上升電壓譯碼；接收電荷泵根據預設上升電壓譯碼產生的上升階梯電壓；根據上升階梯電壓將NAND?FLASH的初始電壓階梯...

本發明公開一種基于SPI協議的NAND?FLASH檢測方法、系統、裝置和主機，方法包括：檢測設備與NAND?FLASH建立SPI協議通信；掃描NAND?FLASH的各存儲塊，得到各存儲塊的掃描結果；檢測各存儲塊的擦寫次數，得到各存儲塊的...

本發明公開一種NAND?FLASH壽命的快速測試方法、系統、裝置和主機，方法包括：測試設備擦除測試塊的原始數據，并將測試數據寫入測試塊；讀取測試塊得到讀取數據，并判斷讀取數據是否與測試數據一致；若讀取數據與測試數據一致，則跳過預設時間間...

本發明公開一種NAND?FLASH讀取功能的測試方法、系統、裝置和主機，方法包括：NAND?FLASH根據讀取功能測試指令，將各端口的讀取數據發送至本地的奇偶校驗模塊；控制奇偶校驗模塊根據各端口的讀取數據生成待驗證讀取數據；將待驗證讀取...

本發明公開一種NAND?FLASH壞塊的管理方法、系統、裝置和閃存，方法包括：根據各邏輯地址獲取對應的存儲塊；判斷存儲塊是否為壞塊，其中，壞塊為存儲功能不良的存儲塊；若存儲塊為非壞塊，則維持存儲塊的邏輯地址不變；若存儲塊為壞塊，則將壞塊...

本申請公開一種高帶寬的閃存芯片、存儲器及數據讀取方法，其中高帶寬的閃存芯片包括呈陣列分布的N個閃存模塊，N個閃存模塊用于存儲數據，任一閃存模塊包括閃存單元、地址解碼器、數據寄存器以及IO接口組，閃存單元用于在讀取模式下輸出數據以及編程模...

本發明公開一種NAND?FLASH控制器的糾錯方法、裝置和閃存，方法包括：控制器接收預設數據，并判斷存儲模塊的當前擦寫次數與T1和T2的關系；若當前擦寫次數小于T1，則控制第一糾錯模塊對預設數據進行糾錯編碼，得到第一編碼預設數據；若當前...

本技術公開一種存儲芯片功耗測試裝置，其包括承載裝置、電源、功耗檢測器件、主控制器和上位機；承載裝置承載待測試存儲芯片，具有至少兩個接口分別電連接不同類型的待測試存儲芯片；電源為承載于承載裝置上的待測試存儲芯片供電，功耗檢測器件用于檢測承...

本申請實施例提供一種數據處理方法、芯片、存儲介質和計算機程序產品，涉及數據處理技術領域。所述方法，應用于對NAND閃存進行管理的文件系統，該方法包括：獲取寫入指令；基于實時任務場景和/或待存儲數據的數據特性動態確定當前工作模式；當前工作...

本技術公開一種閃存存儲器標記裝置，包括單片機，所述單片機包括檢測模塊和標記模塊，所述檢測模塊與待測閃存存儲器電連接，用于檢測所述待測閃存存儲器中出現位翻轉現象的塊；所述標記模塊與所述檢測模塊以及所述待測閃存存儲器電連接，所述標記模塊可對...

本技術公開一種SPI芯片時序的測試系統，所述測試系統包括：上位機；通信模塊，所述通信模塊與所述上位機以及待測SPI芯片電連接；時鐘同步模塊，與所述通信模塊以及所述待測SPI芯片電連接，用于控制所述通信模塊與所述待測SPI芯片時鐘同步。本...

本技術公開一種Nand?flash存儲器測試裝置，包括：若干個不同型號的SoC平臺，所述SoC平臺配置有動態隨機存取存儲器，所述SoC平臺均與待測閃存存儲器電連接，以測試待測閃存存儲器在若干個所述SoC平臺上的兼容性；單片機，所述單片機...