耐電壓測試儀擊穿電流檢定設(shè)備制造技術(shù)

本實(shí)用新型專利技術(shù)涉及耐電壓測試儀擊穿電流檢定設(shè)備，有效解決調(diào)節(jié)繁瑣，使用麻煩，不易匹配測量電流的問題，結(jié)構(gòu)是，箱體前面板上自左至右裝有擊穿電流選擇開關(guān)、擊穿電流輸入高端接線端子和擊穿電流輸入低端接線端子，檢定電路由第一電阻至第二十三電阻串接在一起構(gòu)成，第一電阻的一端同箱體上的擊穿電流輸入高端接線端子相連，每兩相鄰電阻的共端及第二十三電阻R23的最后端分別與擊穿電流選擇開關(guān)的滑動端相連，擊穿電流選擇開關(guān)的固定端同箱體上的擊穿電流輸入低端接線端子相連，構(gòu)成23個(gè)擊穿電流的檔位結(jié)構(gòu)，擊穿電流選擇開關(guān)周邊的箱體上有與23個(gè)擊穿電流的檔位相對應(yīng)的電流量刻度表，本實(shí)用新型專利技術(shù)結(jié)構(gòu)簡單，易生產(chǎn)，成本低，使用方便，測量準(zhǔn)確。（*該技術(shù)在2024年保護(hù)過期，可自由使用*）

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
耐電壓測試儀擊穿電流檢定設(shè)備
本技術(shù)涉及儀器，特別是一種耐電壓測試儀擊穿電流檢定設(shè)備。
技術(shù)介紹
擊穿電流檢定是指“擊穿報(bào)警電流設(shè)定誤差的檢定”，傳統(tǒng)測量設(shè)備為耐電壓測試儀的電壓接口 v、0之間經(jīng)可調(diào)電阻Ri及電流表串接在一起(如圖1所示)，圖1中可調(diào)電阻Ri取值由以下公式?jīng)Q定:

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種耐電壓測試儀擊穿電流檢定設(shè)備，包括箱體及其檢定電路，其特征在于，箱體（4）前面板上自左至右依次裝有擊穿電流選擇開關(guān)（3）、擊穿電流輸入高端接線端子（1）和擊穿電流輸入低端接線端子（2），檢定電路是由取樣的第一電阻R1至第二十三電阻R23串接在一起構(gòu)成，第一電阻R1的一端同箱體上的擊穿電流輸入高端接線端子（1）連接在一起，每兩相鄰電阻的共端及第二十三電阻R23的最后端分別單獨(dú)與擊穿電流選擇開關(guān)（3）的滑動端相連，擊穿電流選擇開關(guān)（3）的固定端同箱體上的擊穿電流輸入低端接線端子（2）相連，改變擊穿電流選擇開關(guān)滑動端與電阻不同接觸位置，構(gòu)成檢定0.5mA、1mA、2mA、3mA、4mA、5mA、6mA、7mA、8mA、10mA、12mA、15mA、20mA、25mA、30mA、40mA、50mA、60mA、80mA、100mA、150mA、200mA、500mA共23個(gè)擊穿電流的檔位結(jié)構(gòu)，擊穿電流選擇開關(guān)（3）伸出箱體，擊穿電流選擇開關(guān)（3）周邊的箱體上有與23個(gè)擊穿電流的檔位相對應(yīng)的電流量刻度表（5）。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種耐電壓測試儀擊穿電流檢定設(shè)備，包括箱體及其檢定電路，其特征在于，箱體(4)前面板上自左至右依次裝有擊穿電流選擇開關(guān)(3)、擊穿電流輸入高端接線端子(I)和擊穿電流輸入低端接線端子(2)，檢定電路是由取樣的第一電阻Rl至第二十三電阻R23串接在一起構(gòu)成，第一電阻Rl的一端同箱體上的擊穿電流輸入高端接線端子(I)連接在一起，每兩相鄰電阻的共端及第二十三電阻R23的最后端分別單獨(dú)與擊穿電流選擇開關(guān)(3)的滑動端相連，擊穿電流選擇開關(guān)(3)的固定端同箱體上的擊穿電流輸入低端接線端子(2)相連，改變擊穿電流選擇開關(guān)滑動端與電阻不同接觸位置，構(gòu)成檢定0.5mA、lmA、2mA、3mA、4mA、5mA、6mA、7mA、8mA、10mA、12mA、I5mA、20mA、25mA、30mA...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：賈紅斌，周秉時(shí)，李嵐，
申請(專利權(quán))人：河南省計(jì)量科學(xué)研究院，
類型：新型
國別省市：河南;41