具回饋測(cè)試功能的探針模塊制造技術(shù)

一種具回饋測(cè)試功能的探針模塊，是設(shè)于一印刷電路板及一待測(cè)電子裝置間，包括一基板、一針架、二探針、二路徑轉(zhuǎn)換元件及一電容。該基板具有二連接線路及二空間轉(zhuǎn)換線路，且空間轉(zhuǎn)換線路的一端與該印刷電路板電性連接；該針架設(shè)于該基板與該待測(cè)電子裝置間；該二探針設(shè)于該針架上，且一端凸伸出該針架外與該基座的該連接線路連接，另一端則凸伸出該針架外點(diǎn)觸該待測(cè)電子裝置；該二路徑轉(zhuǎn)換元件設(shè)于該針架，且各別電性連接該基板的各該空間轉(zhuǎn)換線路及各該連接線路的另一端；該電容設(shè)于該針架上，且兩端分別電性連接該二路徑轉(zhuǎn)換元件。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
【專利摘要】一種具回饋測(cè)試功能的探針模塊，是設(shè)于一印刷電路板及一待測(cè)電子裝置間，包括一基板、一針架、二探針、二路徑轉(zhuǎn)換元件及一電容。該基板具有二連接線路及二空間轉(zhuǎn)換線路，且空間轉(zhuǎn)換線路的一端與該印刷電路板電性連接；該針架設(shè)于該基板與該待測(cè)電子裝置間；該二探針設(shè)于該針架上，且一端凸伸出該針架外與該基座的該連接線路連接，另一端則凸伸出該針架外點(diǎn)觸該待測(cè)電子裝置；該二路徑轉(zhuǎn)換元件設(shè)于該針架，且各別電性連接該基板的各該空間轉(zhuǎn)換線路及各該連接線路的另一端；該電容設(shè)于該針架上，且兩端分別電性連接該二路徑轉(zhuǎn)換元件。【專利說(shuō)明】具回饋測(cè)試功能的探針模塊
本專利技術(shù)是與探針有關(guān)；特別是指一種具回饋測(cè)試功能的探針模塊。
技術(shù)介紹
用以檢測(cè)電子產(chǎn)品的各精密電子元件間的電性連接是否確實(shí)的方法，是以一探針卡作為一檢測(cè)裝置與待測(cè)電子裝置之間的測(cè)試信號(hào)與電源信號(hào)的傳輸接口。 而隨著數(shù)字科技的進(jìn)步，待測(cè)電子裝置的指令周期與每秒的信號(hào)傳輸量亦日益增大，而使得檢測(cè)裝置的處理器所產(chǎn)生的測(cè)試信號(hào)的頻率，并無(wú)法滿足待測(cè)電子裝置所需的高頻測(cè)試信號(hào)的信號(hào)傳輸量需求。是以，為解決上述困擾，遂利用待測(cè)電子裝置本身來(lái)產(chǎn)生所需的高頻測(cè)試信號(hào)，再通過(guò)探針卡傳送回待測(cè)電子裝置進(jìn)行檢測(cè)，進(jìn)而達(dá)到高頻測(cè)試的目的。 請(qǐng)參閱圖1，現(xiàn)有的探針卡是于其印刷電路板70上設(shè)置有繼電器(Relay) 72，并通過(guò)印刷電路板上的線路控制該繼電器72切換檢測(cè)裝置300的直流測(cè)試信號(hào)，以及待測(cè)電子裝置400自我檢測(cè)的高頻測(cè)試信號(hào)的信號(hào)路徑。而眾所皆知的是，當(dāng)信號(hào)線路越長(zhǎng)時(shí)，其附帶的微量電感越大。換言之，當(dāng)高頻測(cè)試信號(hào)的頻率越高時(shí)，現(xiàn)有的探針卡因其用以傳輸測(cè)試信號(hào)路徑較長(zhǎng)(由探針模塊80通過(guò)基板75、印刷電路板70、繼電器72與電容74后，再由另一繼電器72回到印刷電路板70、基板75及探針模塊80)，造成其微量電感較大，使得高頻信號(hào)傳輸時(shí)，信號(hào)路徑上的阻抗值較大，進(jìn)而造成線路損耗提升，使得高頻的測(cè)試信號(hào)無(wú)法順利通過(guò)，進(jìn)而導(dǎo)致信號(hào)不易被待測(cè)電子裝置所辨識(shí)，而容易有測(cè)試誤判的情形產(chǎn)生。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
有鑒于此，本專利技術(shù)的目的用于提供一種具回饋測(cè)試功能的探針模塊，可有效地減少高頻信號(hào)傳輸時(shí)的信號(hào)路徑長(zhǎng)度。 緣以達(dá)成上述目的，本專利技術(shù)所提供具回饋測(cè)試功能的探針模塊是設(shè)于一印刷電路板以及一待測(cè)電子裝置之間，且包括有一基板、一針架、二探針、二路徑轉(zhuǎn)換元件以及一電容。其中，該基板具有二連接線路以及二空間轉(zhuǎn)換線路，且所述空間轉(zhuǎn)換線路的一端與該印刷電路板電性連接；該針架設(shè)于該基板與該待測(cè)電子裝置之間；該二探針設(shè)于該針架上，且各該探針一端凸伸出該針架外與該基座的各該連接線路的一端電性連接，而另一端則凸伸出該針架外點(diǎn)觸該待測(cè)電子裝置的受測(cè)部位；該二路徑轉(zhuǎn)換元件設(shè)于該針架上，且各該路徑轉(zhuǎn)換元件電性連接該基板的各該空間轉(zhuǎn)換線路及各該連接線路的另一端；該電容設(shè)于該針架上，且其兩端分別電性連接該二路徑轉(zhuǎn)換元件。 依據(jù)上述構(gòu)思，該路徑轉(zhuǎn)換元件為一電感性元件，一端電性連接該空間轉(zhuǎn)換線路，另一端則電性連接該電容與該連接線路。 依據(jù)上述構(gòu)思,該電感性元件為扼流圈(choke)。 依據(jù)上述構(gòu)思，該路徑轉(zhuǎn)換元件為一繼電器，且具有一第一接點(diǎn)、一第二接點(diǎn)以及一第三接點(diǎn)，并可受控制地切換該第一接點(diǎn)與該第二接點(diǎn)導(dǎo)通、或該第一接點(diǎn)與該第三接點(diǎn)導(dǎo)通；另外，該第一接點(diǎn)電性連接該連接線路，該第二接點(diǎn)電性連接該空間轉(zhuǎn)換線路，而該第三接點(diǎn)則電性連接該電容。 依據(jù)上述構(gòu)思，該二路徑轉(zhuǎn)換元件以及該電容是設(shè)置于該針架朝向該基板的面上。 依據(jù)上述構(gòu)思，該針架朝向該基板的面上形成有多個(gè)凹陷處，該二路徑轉(zhuǎn)換元件是分別位于所述凹陷處中。 依據(jù)上述構(gòu)思，該針架朝向該基板的面上形成有至少一凹陷處，該電容是位于該凹陷處中。 依據(jù)上述構(gòu)思，該針架是呈空心，而該二路徑轉(zhuǎn)換元件以及該電容是設(shè)置于該針架之中。 依據(jù)上述構(gòu)思，還包含有多個(gè)導(dǎo)體，且該針架朝向該基板的面上具有多個(gè)穿孔:所述導(dǎo)體分別穿設(shè)于所述穿孔中，且一端各別連接各該路徑轉(zhuǎn)換元件，另一端則抵接所述空間轉(zhuǎn)換線路或所述連接線路，而使所述路徑轉(zhuǎn)換元件電性連接所述空間轉(zhuǎn)換線路及所述連接線路。 依據(jù)上述構(gòu)思，各該導(dǎo)體為具有彈性的金屬頂針。 依據(jù)上述構(gòu)思，本專利技術(shù)更提供有另一種具回饋測(cè)試功能的探針模塊，是設(shè)于一印刷電路板以及一待測(cè)電子裝置之間，且包括有一基板、二探針、二路徑轉(zhuǎn)換元以及一電容；其中，該基板具有二連接線路以及二空間轉(zhuǎn)換線路，且所述空間轉(zhuǎn)換線路的一端與該印刷電路板電性連接；各該探針一端凸與該基座的各該連接線路的一端電性連接，而另一端則點(diǎn)觸該待測(cè)電子裝置的受測(cè)部位；該二路徑轉(zhuǎn)換元件設(shè)于該基板，且各該路徑轉(zhuǎn)換元件電性連接該基板的各該空間轉(zhuǎn)換線路及各該連接線路的另一端；該電容設(shè)于該基板，且其兩端分別電性連接該二路徑轉(zhuǎn)換元件。 依據(jù)上述構(gòu)思，該二路徑轉(zhuǎn)換元件以及該電容是設(shè)置于該基板朝向所述探針的面上。 依據(jù)上述構(gòu)思，該基板朝向所述探針的面上形成有多個(gè)凹陷處，該二路徑轉(zhuǎn)換元件是分別位于所述凹陷處中。 依據(jù)上述構(gòu)思，該基板朝向所述探針的面上形成有至少一凹陷處，該電容是位于該凹陷處中。 依據(jù)上述構(gòu)思，還包含有一針座設(shè)于該基板與該待測(cè)電子裝置之間；另外，所述探針設(shè)于該針架上，且各該探針一端凸伸出該針架外與該基座的各該連接線路電性連接，而另一端則凸伸出該針架外點(diǎn)觸該待測(cè)電子裝置的受測(cè)部位。 由此，通過(guò)上述設(shè)計(jì)，便可有效地減少信號(hào)傳輸時(shí)的信號(hào)路徑長(zhǎng)度，進(jìn)而減少線路上的微量電感，使得傳輸高頻信號(hào)時(shí)，高頻的測(cè)試信號(hào)可順利通過(guò)，進(jìn)不會(huì)被待測(cè)電子裝置所誤判。 【專利附圖】【附圖說(shuō)明】 為能更清楚地說(shuō)明本專利技術(shù)，以下結(jié)合較佳實(shí)施例并配合附圖詳細(xì)說(shuō)明如后，其中: 圖1是現(xiàn)有探針卡的結(jié)構(gòu)圖； 圖2是具有第一實(shí)施例的探針模塊的探針卡結(jié)構(gòu)圖； 圖3是圖2的結(jié)構(gòu)于直流或低頻信號(hào)時(shí)的路徑圖； 圖4是圖2的結(jié)構(gòu)于高頻信號(hào)時(shí)的路徑圖； 圖5是具有第二實(shí)施例的探針模塊的探針卡結(jié)構(gòu)圖； 圖6是具有第三實(shí)施例的探針模塊的探針卡結(jié)構(gòu)圖； 圖7是具有第四實(shí)施例的探針模塊的探針卡結(jié)構(gòu)圖； 圖8是圖7的結(jié)構(gòu)于直流或低頻信號(hào)時(shí)的路徑圖； 圖9是圖7的結(jié)構(gòu)于聞?lì)l信號(hào)時(shí)的路徑圖； 圖10是具有第五實(shí)施例的探針模塊的探針卡結(jié)構(gòu)圖。 【具體實(shí)施方式】 請(qǐng)參圖2所示，本專利技術(shù)第一較佳實(shí)施例的探針卡設(shè)置于一檢測(cè)裝置100以及一待測(cè)電子裝置200之間，且包含有一印刷電路板10以及一探針模塊。該印刷電路板10中布設(shè)有多條信號(hào)線路12，且所述信號(hào)線路的一端用以供與該檢測(cè)裝置100的檢測(cè)端子110連接，另一端則于該印刷電路板10的底面各別形成接點(diǎn)。而該探針模塊則包含有一基板20、一針座30、四探針40、四繼電器R、多個(gè)導(dǎo)體50以及二電容C。其中: 該基板20于本實(shí)施例中為一多層陶瓷板，并埋設(shè)有多條空間轉(zhuǎn)換線路22以及多條連接線路24，且所述空間轉(zhuǎn)換線路22的一端各別與該印刷電路板10的各該信號(hào)線路12連接，而各該連接線路24的兩端、以及各該空間轉(zhuǎn)換線路22的另一端則于該基板20底面各別形成一接點(diǎn)。 該針座30是呈一空心矩形，且設(shè)于該待測(cè)電子裝置200上方，用以供所述探針40設(shè)置，以達(dá)到固定探針4本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種具回饋測(cè)試功能的探針模塊，設(shè)于一印刷電路板以及一待測(cè)電子裝置之間，且包括有：一基板，具有二連接線路以及二空間轉(zhuǎn)換線路，且所述空間轉(zhuǎn)換線路的一端與該印刷電路板電性連接；一針架，設(shè)于該基板與該待測(cè)電子裝置之間；二探針，設(shè)于該針架上，且各該探針一端凸伸出該針架外與該基座的各該連接線路的一端電性連接，而另一端則凸伸出該針架外點(diǎn)觸該待測(cè)電子裝置的受測(cè)部位；二路徑轉(zhuǎn)換元件，設(shè)于該針架上，且各該路徑轉(zhuǎn)換元件電性連接該基板的各該空間轉(zhuǎn)換線路及各該連接線路的另一端；及一電容，設(shè)于該針架上，且其兩端分別電性連接該二路徑轉(zhuǎn)換元件。

【技術(shù)特征摘要】
...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：顧偉正，賴俊良，陳緯，劉信祥，周光中，黃展宏，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：旺矽科技股份有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：中國(guó)臺(tái)灣;71