花鍵軸底徑跳動檢具制造技術

本實用新型專利技術提供了一種花鍵軸底徑跳動檢具，屬于機械技術領域。它解決了現有的三坐標測量儀檢測存在檢驗方法復雜、檢測精度低的問題。本花鍵軸底徑跳動檢具，包括工作臺和設于工作臺上用于支撐花鍵軸的支撐結構，在支撐結構的作用下花鍵軸可沿自身軸線周向轉動，花鍵軸上套設有呈筒狀的輔套，輔套的內部周向均布有沿輔套軸向延伸的內齒，兩相鄰的內齒之間形成齒槽，內齒的齒數等于花鍵軸的花鍵數，且內齒的齒頂與花鍵軸的齒底貼合，花鍵軸的花鍵伸入至輔套的齒槽內且花鍵軸的齒頂與齒槽的齒底間具有間隙，工作臺上設有用于測量輔套外表面徑向跳動的測量單元。本實用新型專利技術具有結構簡單，檢測方便、快速和準確等優點。

【技術實現步驟摘要】

本技術屬于機械
，涉及一種花鍵軸底徑跳動檢具，特別是一種冷擠壓花鍵軸底徑的跳動檢具。
技術介紹
花鍵軸用來傳遞機械扭矩，通常與套設于其上的旋轉件傳動連接，在花鍵軸的外表有縱向鍵槽，套在花鍵軸上的旋轉件也有對應的鍵槽，可保持跟花鍵軸同步旋轉，在旋轉的同時，還可以在花鍵軸上作縱向滑動，如變速箱換檔齒輪等。為保證花鍵軸的合格率，制造完成后需對花鍵軸的底徑跳動進行檢測。現有技術中，大都采用三坐標測量儀對其進行檢測，其存在以下問題：三坐標測量儀成本高，檢驗方法復雜，從而不能快速對花鍵軸的底徑跳動進行檢測，而且檢測精度較低。
技術實現思路
本技術的目的是針對現有的技術存在上述問題，提出了一種結構簡單，檢測方便、快速和準確的花鍵軸底徑跳動檢具。本技術的目的可通過下列技術方案來實現：本花鍵軸底徑跳動檢具，包括工作臺和設于工作臺上用于支撐花鍵軸的支撐結構，在所述支撐結構的作用下花鍵軸可沿自身軸線周向轉動，其特征在于，所述的花鍵軸上套設有呈筒狀的輔套，所述輔套的內部周向均布有沿輔套軸向延伸的內齒，兩相鄰的內齒之間形成齒槽，所述內齒的齒數等于花鍵軸的花鍵數，且所述內齒的齒頂與花鍵軸的齒底貼合，所述花鍵軸的花鍵伸入至輔套的齒槽內且花鍵軸的齒頂與齒槽的齒底間具有間隙，所述的工作臺上設有用于測量輔套外表面徑向跳動的測量單元。花鍵軸的齒頂與齒槽的齒底間留有較大間隙，防止雙重定位干涉。在上述的花鍵軸底徑跳動檢具中，所述輔套的側部具有軸向延伸的開槽，所述的開槽位于輔套的齒槽處并與該齒槽連通，所述的輔套利用自身的收縮力徑向向內收縮。在上述的花鍵軸底徑跳動檢具中，所述的花鍵軸水平設置。在上述的花鍵軸底徑跳動檢具中，所述的測量單元包括設于工作臺上的支架、一端套設于支架上的橫桿和設于橫桿上的百分表，所述百分表的量桿沿輔套的徑向延伸，所述百分表量桿的下端抵靠在輔套的外表面上。在上述的花鍵軸底徑跳動檢具中，所述的支撐結構包括設于工作臺上的固定座一和與固定座一相對設置的固定座二，所述固定座一位于固定座二的一側具有水平設置的頂尖一，所述固定座二位于固定座一的一側具有頂尖二，所述的頂尖一與頂尖二同軸設置。實際上由工作臺、固定座一、固定座二、頂尖一和頂尖二構成了一個完整的高精度偏擺儀，頂尖一與頂尖二之間的距離可進行調節。安裝時，頂尖一伸入至花鍵軸一端的頂針孔內，頂尖二伸入至花鍵軸另一端的頂針孔內。本花鍵軸底徑跳動檢具的工作原理如下：利用花鍵軸本身的兩頂針孔，架設在由工作臺、固定座一、固定座二、頂尖一和頂尖二構成的高精度偏擺儀上，在花鍵前端套入輔套，輔套自身徑向收縮漲緊，再將杠桿百分表搭設于輔套外圓表面，轉動花鍵軸從杠桿百分表上計量數值，內齒的齒頂與花鍵軸的齒底貼合會使花鍵軸底徑跳動完全反應到輔套外圓表面。移動輔套至花鍵中部，同上操作對花鍵軸中部進行底徑跳動檢測，最后移動輔套至花鍵尾部，同上操作對花鍵軸尾部進行底徑跳動檢測，取計入數值的最大值為最終數值。與現有技術相比，本花鍵軸底徑跳動檢具具有以下優點：其結構簡單，設計合理，對花鍵底徑跳動檢測快速方便，通過設置百分表可精確檢測出花鍵軸底徑跳動，相較于三坐標測量儀，其誤差可在0.005毫米之內。附圖說明圖1是本技術提供的一種較佳實施例的結構示意圖。圖2是本技術提供的輔套處的剖視圖。圖中，1、工作臺；2、輔套；21、內齒；22、齒槽；23、間隙；24、開槽；31、支架；32、橫桿；33、百分表；41、固定座一；42、固定座二；43、頂尖一；44、頂尖二。具體實施方式以下是本技術的具體實施例并結合附圖，對本技術的技術方案作進一步的描述，但本技術并不限于這些實施例。如圖1所示的花鍵軸底徑跳動檢具，包括工作臺1和設于工作臺1上用于支撐花鍵軸的支撐結構，在支撐結構的作用下花鍵軸可沿自身軸線周向轉動，花鍵軸上套設有呈筒狀的輔套2，如圖2所示，輔套2的內部周向均布有沿輔套2軸向延伸的內齒21，兩相鄰的內齒21之間形成齒槽22，內齒21的齒數等于花鍵軸的花鍵數，且內齒21的齒頂與花鍵軸的齒底貼合，花鍵軸的花鍵伸入至輔套2的齒槽22內且花鍵軸的齒頂與齒槽22的齒底間具有間隙23，工作臺1上設有用于測量輔套2外表面徑向跳動的測量單元。本實施例中，花鍵軸的齒頂與齒槽22的齒底間留有較大間隙23，防止雙重定位干涉。如圖2所示，輔套2的側部具有軸向延伸的開槽24，開槽24位于輔套2的齒槽22處并與該齒槽22連通，輔套2利用自身的收縮力徑向向內收縮。如圖1所示，花鍵軸水平設置。如圖1所示，測量單元包括設于工作臺1上的支架31、一端套設于支架31上的橫桿32和設于橫桿32上的百分表33，百分表33的量桿沿輔套2的徑向延伸，百分表33量桿的下端抵靠在輔套2的外表面上。如圖1所示，支撐結構包括設于工作臺1上的固定座一41和與固定座一41相對設置的固定座二42，固定座一41位于固定座二42的一側具有水平設置的頂尖一43，固定座二42位于固定座一41的一側具有頂尖二44，頂尖一43與頂尖二44同軸設置。實際上由工作臺1、固定座一41、固定座二42、頂尖一43和頂尖二44構成了一個完整的高精度偏擺儀，頂尖一43與頂尖二44之間的距離可進行調節。安裝時，頂尖一43伸入至花鍵軸一端的頂針孔內，頂尖二44伸入至花鍵軸另一端的頂針孔內。本花鍵軸底徑跳動檢具的工作原理如下：利用花鍵軸本身的兩頂針孔，架設在由工作臺1、固定座一41、固定座二42、頂尖一43和頂尖二44構成的高精度偏擺儀上，在花鍵前端套入輔套2，輔套2自身徑向收縮漲緊，再將杠桿百分表33搭設于輔套2外圓表面，轉動花鍵軸從杠桿百分表33上計量數值，內齒21的齒頂與花鍵軸的齒底貼合會使花鍵軸底徑跳動完全反應到輔套2外圓表面。移動輔套2至花鍵中部，同上操作對花鍵軸中部進行底徑跳動檢測，最后移動輔套2至花鍵尾部，同上操作對花鍵軸尾部進行底徑跳動檢測，取計入數值的最大值為最終數值。本文中所描述的具體實施例僅僅是對本技術精神作舉例說明。本技術所屬
的技術人員可以對所描述的具體實施例做各種各樣的修改或補充或采用類似的方式替代，但并不會偏離本技術的精神或者超越所附權利要求書所定義的范圍。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種花鍵軸底徑跳動檢具，包括工作臺(1)和設于工作臺(1)上用于支撐花鍵軸的支撐結構，在所述支撐結構的作用下花鍵軸可沿自身軸線周向轉動，其特征在于，所述的花鍵軸上套設有呈筒狀的輔套(2)，所述輔套(2)的內部周向均布有沿輔套(2)軸向延伸的內齒(21)，兩相鄰的內齒(21)之間形成齒槽(22)，所述內齒(21)的齒數等于花鍵軸的花鍵數，且所述內齒(21)的齒頂與花鍵軸的齒底貼合，所述花鍵軸的花鍵伸入至輔套(2)的齒槽(22)內且花鍵軸的齒頂與齒槽(22)的齒底間具有間隙(23)，所述的工作臺(1)上設有用于測量輔套(2)外表面徑向跳動的測量單元。

【技術特征摘要】
1.一種花鍵軸底徑跳動檢具，包括工作臺(1)和設于工作臺(1)上用于支撐花鍵軸的支撐結構，在所述支撐結構的作用下花鍵軸可沿自身軸線周向轉動，其特征在于，所述的花鍵軸上套設有呈筒狀的輔套(2)，所述輔套(2)的內部周向均布有沿輔套(2)軸向延伸的內齒(21)，兩相鄰的內齒(21)之間形成齒槽(22)，所述內齒(21)的齒數等于花鍵軸的花鍵數，且所述內齒(21)的齒頂與花鍵軸的齒底貼合，所述花鍵軸的花鍵伸入至輔套(2)的齒槽(22)內且花鍵軸的齒頂與齒槽(22)的齒底間具有間隙(23)，所述的工作臺(1)上設有用于測量輔套(2)外表面徑向跳動的測量單元。2.根據權利要求1所述的花鍵軸底徑跳動檢具，其特征在于，所述輔套(2)的側部具有軸向延伸的開槽(24)，所述的開槽(24)位于輔套(2)的齒槽(22)處并與該齒槽(22)連通，所述的輔套(2...

【專利技術屬性】
技術研發人員：仇偉偉，顏成剛，熊智平，
申請(專利權)人：利歐集團浙江泵業有限公司，
類型：新型
國別省市：浙江;33