The invention discloses a wet etching and wet etching device exhaust system, relates to the technical field of wet etching, solve the adjustment ability of pumping Ventilation System Co. existing wet etching equipment cavity, to ensure wet etching process requirements, to ensure the balance of pressure within the cavity, resulting in acidic gases and volatile by-products gas leakage to the outside of the chamber, causing damage to the technical staff, technical problems caused by the pollution of the environment. Including the wet etching exhaust system: smoke ventilation duct and cover in vacuum cavity wet etching equipment of the cavity on the door cover body; wherein, the ventilation duct and the pumping cavity is connected with the cover body, the vacuum pumping ventilation pipe connected to the pumping unit; the ventilation duct and cavity communicated through the first valve, air pump through the second pipeline valve control unit and the vacuum cover is connected. The invention is applied to wet etching.
【技術實現步驟摘要】
一種濕法刻蝕排氣系統及濕法刻蝕裝置
本專利技術涉及濕法刻蝕
,尤其涉及一種濕法刻蝕排氣系統及濕法刻蝕裝置。
技術介紹
目前,在薄膜晶體管液晶顯示器的生產過程中,常采用濕法刻蝕工藝在基板上形成特定圖案,具體地,將光刻膠覆蓋在基板上的部分金屬膜層上,然后使未被光刻膠覆蓋部分的金屬膜層與酸性溶液進行反應,以去除多余的金屬膜層。通常上述濕法刻蝕反應是在濕法刻蝕設備的腔體內進行的。如圖1所示,現有的濕法刻蝕設備包括腔體1,以及在腔體1的外側設置的抽氣裝置2,以利用抽氣裝置2將濕法刻蝕反應產生的揮發性酸性氣體以及反應副產物氣體抽離腔體1,以保證腔體1內的氣壓穩定。然而,專利技術人發現,在使用濕法刻蝕工藝刻蝕基板的過程中,局部過刻現象的嚴重程度和影響范圍均與濕法刻蝕設備的腔體1的抽換氣大小成正相關關系,而將抽氣裝置2的抽換氣閥門21完全關閉,可以有效改善局部過刻現象,但若將抽換氣閥門21完全關閉,則會使腔體1內的氣壓持續增大,導致揮發性酸性氣體以及反應副產物氣體在氣壓作用下泄漏到腔體1外部,從而對技術人員造成傷害,對環境造成污染。
技術實現思路
本專利技術的目的在于提供一種濕法刻蝕排氣系統及濕法刻蝕裝置,用于在保證濕法刻蝕工藝需求的情況下,保證濕法刻蝕設備的腔體內壓力平衡,避免濕法刻蝕過程中產生的揮發性酸性氣體以及反應副產物氣體泄漏到腔體外部。為達到上述目的,本專利技術提供一種濕法刻蝕排氣系統,采用如下技術方案:該濕法刻蝕排氣系統包括:抽換氣管道和罩在濕法刻蝕設備的腔體的腔門上的真空罩體;其中,所述抽換氣管道與所述腔體相連,所述真空罩體與所述抽換氣管道相連;所述抽換氣 ...
【技術保護點】
一種濕法刻蝕排氣系統,其特征在于,包括:抽換氣管道和罩在濕法刻蝕設備的腔體的腔門上的真空罩體;其中,所述抽換氣管道與所述腔體相連,所述真空罩體與所述抽換氣管道相連;所述抽換氣管道通過第一閥控單元與所述腔體連通,所述抽換氣管道通過第二閥控單元與所述真空罩體連通。
【技術特征摘要】
1.一種濕法刻蝕排氣系統,其特征在于,包括:抽換氣管道和罩在濕法刻蝕設備的腔體的腔門上的真空罩體;其中,所述抽換氣管道與所述腔體相連,所述真空罩體與所述抽換氣管道相連;所述抽換氣管道通過第一閥控單元與所述腔體連通,所述抽換氣管道通過第二閥控單元與所述真空罩體連通。2.根據權利要求1所述的濕法刻蝕排氣系統,其特征在于,所述濕法刻蝕排氣系統還包括設置在所述真空罩體外,且與所述真空罩體相連的大氣壓鼓風裝置。3.根據權利要求1所述濕法刻蝕排氣系統,其特征在于,所述真空罩體與所述腔體的接觸位置還設置有密封圈。4.根據權利要求1所述的濕法刻蝕排氣系統,其特征在于,所述濕法刻蝕排氣系統還包括用于控制所述真空罩體升降的升降架,所述升降架與所述真空罩體相連。5.根據權利要求1所述的濕...
【專利技術屬性】
技術研發人員:李明暉,楊曉峰,呂耀軍,張超,王彬,李桂,
申請(專利權)人:成都京東方光電科技有限公司,京東方科技集團股份有限公司,
類型:發明
國別省市:四川,51
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