一種影像測量方法、裝置以及系統(tǒng)制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術(shù)提供了一種影像測量方法、裝置以及系統(tǒng)，其中，該方法包括：獲取基準(zhǔn)測量物體的測量尺寸，并根據(jù)所述測量尺寸以及基準(zhǔn)測量物體的實際尺寸，計算光學(xué)尺的補償數(shù)據(jù)；所述補償數(shù)據(jù)包括：X軸補償數(shù)據(jù)、Y軸補償數(shù)據(jù)以及垂直度補償數(shù)據(jù)中至少一種；對測量用鏡頭進行多個測量倍率下的中心軸聯(lián)合校正，獲取校正偏差數(shù)據(jù)；當(dāng)獲取到待測量物體的測量數(shù)據(jù)時，根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)、所述補償數(shù)據(jù)以及所述校正偏差數(shù)據(jù)，計算所述待測量物體的尺寸數(shù)據(jù)。本發(fā)明專利技術(shù)實施例在獲取待待測量物體的測量數(shù)據(jù)時，使用補償數(shù)據(jù)以及校正偏差數(shù)據(jù)對測量數(shù)據(jù)進行校正，最終獲得待測量物體的尺寸數(shù)據(jù)，這個過程對數(shù)據(jù)進行了多次校正，所獲得的數(shù)據(jù)更加的準(zhǔn)確。

Image measuring method, device and system

The present invention provides an image measuring method, device and system, wherein, the method comprises: obtaining reference measurements of the measured object, and according to the measurement of size and the actual size of measuring objects, the calculation of compensation data optical ruler; the compensation data including: X axis and Y axis compensation data compensation data and at least one vertical compensation data; on the measurement of multiple measurements with lens magnification central axis joint correction, correction of deviation when measuring data acquisition; data acquisition to the object to be measured when, according to the measurement data and the compensation data and the deviation correction data, calculating the size of data measurement of objects. The embodiment of the invention in the measurement data to obtain the object to be measured when using compensation data and data correction of deviation correction of measurement data, finally get the size data of the object to be measured, this process has carried on many times the correction of the data, the data obtained are more accurate.

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
一種影像測量方法、裝置以及系統(tǒng)
本專利技術(shù)涉及測量
，具體而言，涉及一種影像測量方法、裝置以及系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
品質(zhì)檢驗又稱質(zhì)量檢驗，是指在生產(chǎn)過程中，運用各種檢驗手段，包括感官檢驗、化學(xué)檢驗、儀器分析、物理測試、微生物學(xué)檢驗的方式，對生產(chǎn)的待測量物體進行品質(zhì)、規(guī)格、等級的檢驗，確定待測量物體是否符規(guī)定的過程。品質(zhì)檢驗在現(xiàn)代工業(yè)，尤其是精密制造業(yè)中占據(jù)相當(dāng)重要位置。品質(zhì)檢驗過程中，在對待測量物體的尺寸進行測量的時候，一般是使用影像測量軟件配合XYZ三維手動或者自動平臺，通過移動鏡頭配合圖像算法進行尺寸測量。但是目前的影像測量軟件都是單圖像測量，在進行校正的時候，采用單軸線紋尺校正方式，最終獲得的測量結(jié)果誤差大且檢測速度慢。
技術(shù)實現(xiàn)思路
有鑒于此，本專利技術(shù)實施例的目的在于提供一種影像測量方法、裝置以及系統(tǒng)，能夠提高測量結(jié)果的精度以及檢測的速度。第一方面，本專利技術(shù)實施例提供了一種影像測量方法，包括：獲取基準(zhǔn)測量物體的測量尺寸，并根據(jù)所述測量尺寸以及基準(zhǔn)測量物體的實際尺寸，計算光學(xué)尺的補償數(shù)據(jù)；所述補償數(shù)據(jù)包括：X軸補償數(shù)據(jù)、Y軸補償數(shù)據(jù)以及垂直度補償數(shù)據(jù)中至少一種；對測量用鏡頭進行多個測量倍率下的中心軸聯(lián)合校正，獲取校正偏差數(shù)據(jù)；當(dāng)獲取到待測量物體的測量數(shù)據(jù)時，根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)、所述補償數(shù)據(jù)以及所述校正偏差數(shù)據(jù)，計算所述待測量物體的尺寸數(shù)據(jù)。結(jié)合第一方面，本專利技術(shù)實施例提供了第一方面的第一種可能的實施方式，其中：所述測量尺寸包括：X軸方向測量尺寸；所述實際尺寸包括：X軸方向?qū)嶋H尺寸；通過下述步驟計算所述X軸補償數(shù)據(jù)：將X軸方向測量尺寸以及X軸方向?qū)嶋H尺寸進行相減運算，并根據(jù)相減運算的結(jié)果以及所述X軸方向?qū)嶋H尺寸計算X軸補償數(shù)據(jù)；所述測量尺寸包括：Y軸方向測量尺寸；所述實際尺寸包括：Y軸方向?qū)嶋H尺寸；通過下述步驟計算所述Y軸補償數(shù)據(jù)：將Y軸方向測量尺寸以及Y軸方向?qū)嶋H尺寸進行相減運算，并根據(jù)相減運算的結(jié)果以及所述Y軸方向?qū)嶋H尺寸計算Y軸補償數(shù)據(jù)；當(dāng)光學(xué)尺的X軸以及Y軸不垂直時，所述測量尺寸包括：基準(zhǔn)測量物體的兩個對角線的測量尺寸；將兩個對角線的測量尺寸的比值作為所述垂直度補償數(shù)據(jù)。結(jié)合第一方面，本專利技術(shù)實施例提供了第一方面的第二種可能的實施方式，其中：所述對測量用鏡頭進行多個測量倍率下的中心軸聯(lián)合校正，具體包括：獲取同一個圓在不同倍率下的圓心坐標(biāo)；將其中一個倍率所對應(yīng)的圓心坐標(biāo)作為基準(zhǔn)坐標(biāo)，并計算其他圓心坐標(biāo)與所述基準(zhǔn)坐標(biāo)之間的差值；將獲得的差值作為所述校正偏差數(shù)據(jù)。結(jié)合第一方面，本專利技術(shù)實施例提供了第一方面的第三種可能的實施方式，其中：通過下述步驟獲取待測量物體的測量數(shù)據(jù)：獲取影像元素測量數(shù)據(jù)；根據(jù)測量需求以及所述影像元素測量數(shù)據(jù)，獲取與幾何元素對應(yīng)的測量數(shù)據(jù)；所述幾何元素包括至少一個影像元素；將所述幾何元素對應(yīng)的測量數(shù)據(jù)，作為所述待測量物體的尺寸數(shù)據(jù)。結(jié)合第一方面，本專利技術(shù)實施例提供了第一方面的第四種可能的實施方式，其中：還包括：將所述尺寸數(shù)據(jù)以及預(yù)設(shè)的基準(zhǔn)信息進行差值運算，并判斷所述差值運算的結(jié)果是否在預(yù)設(shè)范圍之內(nèi)，如果是，則通過品質(zhì)檢測。第二方面，本專利技術(shù)實施例還提供一種影像測量裝置，包括：補償數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取基準(zhǔn)測量物體的測量尺寸，并根據(jù)所述測量尺寸以及基準(zhǔn)測量物體的實際尺寸，計算光學(xué)尺的補償數(shù)據(jù)；所述補償數(shù)據(jù)包括：X軸補償數(shù)據(jù)、Y軸補償數(shù)據(jù)以及垂直度補償數(shù)據(jù)中至少一種；校正偏差數(shù)據(jù)獲取模塊，用于對測量用鏡頭進行多個測量倍率下的中心軸聯(lián)合校正，獲取校正偏差數(shù)據(jù)；尺寸數(shù)據(jù)獲取模塊，用于當(dāng)獲取到待測量物體的測量數(shù)據(jù)時，根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)、所述補償數(shù)據(jù)以及所述校正偏差數(shù)據(jù)，計算所述待測量物體的尺寸數(shù)據(jù)。結(jié)合第二方面，本專利技術(shù)實施例提供了第二方面的第一種可能的實施方式，其中：所述測量尺寸包括：X軸方向測量尺寸；所述實際尺寸包括：X軸方向?qū)嶋H尺寸；通過下述步驟計算所述X軸補償數(shù)據(jù)：將X軸方向測量尺寸以及X軸方向?qū)嶋H尺寸進行相減運算，并根據(jù)相減運算的結(jié)果以及所述X軸方向?qū)嶋H尺寸計算X軸補償數(shù)據(jù)；所述測量尺寸包括：Y軸方向測量尺寸；所述實際尺寸包括：Y軸方向?qū)嶋H尺寸；通過下述步驟計算所述Y軸補償數(shù)據(jù)：將Y軸方向測量尺寸以及Y軸方向?qū)嶋H尺寸進行相減運算，并根據(jù)相減運算的結(jié)果以及所述Y軸方向?qū)嶋H尺寸計算Y軸補償數(shù)據(jù)；當(dāng)光學(xué)尺的X軸以及Y軸不垂直時，所述測量尺寸包括：基準(zhǔn)測量物體的兩個對角線的測量尺寸；將兩個對角線的測量尺寸的比值作為所述垂直度補償數(shù)據(jù)。結(jié)合第二方面，本專利技術(shù)實施例提供了第二方面的第二種可能的實施方式，其中：所述校正偏差數(shù)據(jù)獲取模塊具體包括：圓心坐標(biāo)獲取子模塊，用于獲取同一個圓在不同倍率下的圓心坐標(biāo)；差值計算子模塊，用于將其中一個倍率所對應(yīng)的圓心坐標(biāo)作為基準(zhǔn)坐標(biāo)，并計算其他圓心坐標(biāo)與所述基準(zhǔn)坐標(biāo)之間的差值，并將獲得的差值作為所述校正偏差數(shù)據(jù)。結(jié)合第二方面，本專利技術(shù)實施例提供了第二方面的第三種可能的實施方式，其中：還包括：測量數(shù)據(jù)獲取模塊；所述測量數(shù)據(jù)獲取模塊用于：獲取影像元素測量數(shù)據(jù)；根據(jù)測量需求以及所述影像元素測量數(shù)據(jù)，獲取與幾何元素對應(yīng)的測量數(shù)據(jù)；所述幾何元素包括至少一個影像元素；將所述幾何元素對應(yīng)的測量數(shù)據(jù)，作為所述待測量物體的尺寸數(shù)據(jù)。第二方面，本專利技術(shù)實施例還提供一種影像測量系統(tǒng)，包括：XY檢測平臺以及如上述第二方面任意一項所述的影像測量裝置；所述影像檢測裝置還連接有圖像獲取設(shè)備；所述圖像獲取設(shè)備用于獲取放置于XY檢測平臺上的待檢測物體的檢測圖像。本專利技術(shù)實施例所提供的影像測量方法、裝置以及系統(tǒng)，先通過基準(zhǔn)測量物體的測量尺以及實際尺寸，獲取光學(xué)尺的補償數(shù)據(jù)；再對測量用鏡頭進行多個測量倍率下的中心軸聯(lián)合校正，獲取校正偏差數(shù)據(jù)，在獲取待待測量物體的測量數(shù)據(jù)時，使用補償數(shù)據(jù)以及校正偏差數(shù)據(jù)對測量數(shù)據(jù)進行校正，最終獲得待測量物體的尺寸數(shù)據(jù)，這個過程對數(shù)據(jù)進行了多次校正，所獲得的數(shù)據(jù)更加的準(zhǔn)確。為使本專利技術(shù)的上述目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，并配合所附附圖，作詳細(xì)說明如下。附圖說明為了更清楚地說明本專利技術(shù)實施例的技術(shù)方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應(yīng)當(dāng)理解，以下附圖僅示出了本專利技術(shù)的某些實施例，因此不應(yīng)被看作是對范圍的限定，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他相關(guān)的附圖。圖1示出了本專利技術(shù)實施例所提供的一種影像測量方法的流程圖；圖2示出了本專利技術(shù)實施例所提供的影像測量方法中，獲取待測量物體的測量數(shù)據(jù)的具體方法的流程圖；圖3示出了本專利技術(shù)實施例所提供的一種影像測量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4示出了本專利技術(shù)實施例所提供的影像測量裝置中，校正偏差數(shù)據(jù)獲取模塊的具體結(jié)構(gòu)示意圖。具體實施方式為使本專利技術(shù)實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結(jié)合本專利技術(shù)實施例中附圖，對本專利技術(shù)實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本專利技術(shù)一部分實施例，而不是全部的實施例。通常在此處附圖中描述和示出的本專利技術(shù)實施例的組件可以以各種不同的配置來布置和設(shè)計。因此，以下對在附圖中提供的本專利技術(shù)的實施例的詳細(xì)描述并非旨在限制要求保護的本專利技術(shù)的范圍，而是僅僅表示本專利技術(shù)的選定實施例。基于本專利技術(shù)的實施例，本領(lǐng)域技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】
一種影像測量方法，其特征在于，包括：獲取基準(zhǔn)測量物體的測量尺寸，并根據(jù)所述測量尺寸以及基準(zhǔn)測量物體的實際尺寸，計算光學(xué)尺的補償數(shù)據(jù)；所述補償數(shù)據(jù)包括：X軸補償數(shù)據(jù)、Y軸補償數(shù)據(jù)以及垂直度補償數(shù)據(jù)中至少一種；對測量用鏡頭進行多個測量倍率下的中心軸聯(lián)合校正，獲取校正偏差數(shù)據(jù)；當(dāng)獲取到待測量物體的測量數(shù)據(jù)時，根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)、所述補償數(shù)據(jù)以及所述校正偏差數(shù)據(jù)，計算所述待測量物體的尺寸數(shù)據(jù)。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種影像測量方法，其特征在于，包括：獲取基準(zhǔn)測量物體的測量尺寸，并根據(jù)所述測量尺寸以及基準(zhǔn)測量物體的實際尺寸，計算光學(xué)尺的補償數(shù)據(jù)；所述補償數(shù)據(jù)包括：X軸補償數(shù)據(jù)、Y軸補償數(shù)據(jù)以及垂直度補償數(shù)據(jù)中至少一種；對測量用鏡頭進行多個測量倍率下的中心軸聯(lián)合校正，獲取校正偏差數(shù)據(jù)；當(dāng)獲取到待測量物體的測量數(shù)據(jù)時，根據(jù)所述測量數(shù)據(jù)、所述補償數(shù)據(jù)以及所述校正偏差數(shù)據(jù)，計算所述待測量物體的尺寸數(shù)據(jù)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述測量尺寸包括：X軸方向測量尺寸；所述實際尺寸包括：X軸方向?qū)嶋H尺寸；通過下述步驟計算所述X軸補償數(shù)據(jù)：將X軸方向測量尺寸以及X軸方向?qū)嶋H尺寸進行相減運算，并根據(jù)相減運算的結(jié)果以及所述X軸方向?qū)嶋H尺寸計算X軸補償數(shù)據(jù)；所述測量尺寸包括：Y軸方向測量尺寸；所述實際尺寸包括：Y軸方向?qū)嶋H尺寸；通過下述步驟計算所述Y軸補償數(shù)據(jù)：將Y軸方向測量尺寸以及Y軸方向?qū)嶋H尺寸進行相減運算，并根據(jù)相減運算的結(jié)果以及所述Y軸方向?qū)嶋H尺寸計算Y軸補償數(shù)據(jù)；當(dāng)光學(xué)尺的X軸以及Y軸不垂直時，所述測量尺寸包括：基準(zhǔn)測量物體的兩個對角線的測量尺寸；將兩個對角線的測量尺寸的比值作為所述垂直度補償數(shù)據(jù)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對測量用鏡頭進行多個測量倍率下的中心軸聯(lián)合校正，具體包括：獲取同一個圓在不同倍率下的圓心坐標(biāo)；將其中一個倍率所對應(yīng)的圓心坐標(biāo)作為基準(zhǔn)坐標(biāo)，并計算其他圓心坐標(biāo)與所述基準(zhǔn)坐標(biāo)之間的差值；將獲得的差值作為所述校正偏差數(shù)據(jù)。4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項所述的方法，其特征在于，通過下述步驟獲取待測量物體的測量數(shù)據(jù)：獲取影像元素測量數(shù)據(jù)；根據(jù)測量需求以及所述影像元素測量數(shù)據(jù)，獲取與幾何元素對應(yīng)的測量數(shù)據(jù)；所述幾何元素包括至少一個影像元素；將所述幾何元素對應(yīng)的測量數(shù)據(jù)，作為所述待測量物體的尺寸數(shù)據(jù)。5.根據(jù)權(quán)利要求1-3任意一項所述的方法，其特征在于，還包括：將所述尺寸數(shù)據(jù)以及預(yù)設(shè)的基準(zhǔn)信息進行差值運算，并判斷所述差值運算的結(jié)果是否在預(yù)設(shè)范圍之內(nèi)，如果是，則通過品質(zhì)檢測。6.一種影像測量裝置，其特征在于，包括：補償數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取基...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：張超，
申請(專利權(quán))人：蘇州光照精密儀器有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：江蘇,32