一種用于檢測芯片的電子裝置制造方法及圖紙
Electronic device for detecting chip
The invention provides an electronic device for detecting chips, which mainly comprises a host machine, a conducting wire, a control mechanism, a detection mechanism, an analysis mechanism and a display mechanism. It is characterized in that a host and a control mechanism, a detection mechanism, analysis mechanism and a display mechanism is connected by wires, the detecting mechanism by appearance detection device and performance detection device into enough, the control mechanism is connected at both ends of the detection mechanism and mechanism analysis. The invention can accurately observe the appearance, characteristics and performance of the chip through the display mechanism, and the operator can conveniently and accurately operate the chip detection.
【技術實現步驟摘要】
一種用于檢測芯片的電子裝置
本專利技術涉及電子檢測裝置，尤其是涉及一種用于檢測芯片的電子裝置。
技術介紹
目前，集成電路制造業飛速發展，芯片使用越來越廣泛，所以對芯片性能的測試頁越來越重要。
技術實現思路
本專利技術的目的是提供一種可通過顯示機構準確無誤地觀察出芯片的外觀特征及性能，操作者能夠對芯片檢測方便準確地操作的芯片檢測裝置。本專利技術的技術方案是：一種芯片檢測裝置，主要包括主機、導線、控制機構、檢測機構、分析機構和顯示機構，其特征在于：所述主機、控制機構、檢測機構、分析機構和顯示機構由導線連接，所述檢測機構由外觀檢測裝所述外觀檢測裝置和性能檢測裝置為并聯連接置和性能檢測裝置夠成，所述控制機構連接在檢測機構和分析機構兩端。進一步，所述外觀檢測裝置和性能檢測裝置為并聯連接。本專利技術具有的優點和積極效果是：本專利技術可通過顯示機構準確無誤地觀察出芯片的外觀特征及性能，操作者能夠對芯片檢測方便準確地操作。附圖說明圖1是本專利技術的結構示圖。圖中：1、主機2、檢測機構201、外觀檢測機構202、性能檢測機構3、控制機構4、分析機構5、顯示機構6、導線具體實施方式下面結合附圖及具體實施方式對本專利技術作進一步說明。如圖1所示，本專利技術提供一種芯片檢測裝置，主要包括主機1、導線6、控制機構3、檢測機構2、分析機構4和顯示機構5。所述主機1、控制機構3、檢測機構2、分析機構4和顯示機構5由導線6連接，所述檢測機構2由外觀檢測裝置201和性能檢測裝置202夠成，所述控制機構3連接在檢測機構2和分析機構4兩端。進一步，所述外觀檢測裝置201和性能檢測裝置202為并聯連...
【技術保護點】
一種芯片檢測裝置，主要包括主機、導線、控制機構、檢測機構、分析機構和顯示機構，其特征在于：所述主機、控制機構、檢測機構、分析機構和顯示機構由導線連接，所述檢測機構由外觀檢測裝置和性能檢測裝置夠成，所述控制機構連接在檢測機構和分析機構兩端。
【技術特征摘要】
1.一種芯片檢測裝置，主要包括主機、導線、控制機構、檢測機構、分析機構和顯示機構，其特征在于：所述主機、控制機構、檢測機構、分析機構和顯示機構由導線連接，所述檢測機構由...
【專利技術屬性】
技術研發人員：郭坤祺，
申請(專利權)人：鎮江坤泉電子科技有限公司，
類型：發明
國別省市：江蘇,32
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