由單軸晶體和非軸晶體材料的組合棱鏡構成的光學拾取器制造技術

本發明專利技術提供了一種光學拾取器，它包括一個組合棱鏡，在該組合棱鏡中一個非軸晶體制成的棱鏡與單軸晶體制成的棱鏡相互粘合并與一光柵粘合，借助于單軸晶體棱鏡分裂出非常光和尋常光，再借助于光柵分別把非常光和尋常光都衍射成０級光線，＋１級光線和－１級光線，然后對上述衍射光進行光檢測。可使光學系統的光學元件數量減少、光程縮短，利于設備的小型化。（*該技術在2016年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種用于磁光盤和光盤等裝置中的光學拾取器，更為明確地講，是旨在通過使用由兩塊棱鏡，偏振膜和光柵構成的組合棱鏡來減少光學系統的元件數量和縮短系統的光路長度。一般來講，用于磁光盤和光盤等中的光學拾取器具有一個用于檢測來自記錄介質的射頻信號的光學系統，一個用于檢測聚焦誤差的光學系統，和一個用于檢測道跟蹤誤差的光學系統。如附圖說明圖1所示，在上述光學拾取器的光學系統中，一個光學系統被安排在使光入射到記錄介質2上的出發光路上。安排在出發光路上的該光學系統由激光光源1，和一個鄰接著光源1安排在光軸上的準直透鏡3，記錄介質2，第一偏振分束器4和第一凸透鏡5構成。因而，發自光源1的光由準直透鏡3準直，透過第一偏振分束器4，入射到第一凸透鏡5，并由第一凸透鏡5會聚到記錄介質2上。此外，在光學拾取器的光學系統中，有一個光學系統被安排在用于檢測記錄介質2所反射的光的返回光路上。安排在返回光路上的該光學系統用于檢測自記錄介質2返回的光束，這部分光由第一偏振分束器4分出來。由第一偏振分束器4反射的返回光束光軸上設置有一個半波片6，第二凸透鏡7，凹透鏡8，第二偏振分束器9，以及一個用于檢測透過該第二偏振分束器9的光束的二分光電檢測器10，和一個用于檢測由第二偏振分束器9反射并透過柱面透鏡11的光束的四分光電檢測器12。經第一偏振分束器4反射的返回光，其偏振面被半波片6轉動了45度之后，被第二凸透鏡7和凹透鏡8會聚在預定焦長處，并入射到第二偏振分束器9上。然后，透過第二偏振分束器9的光再由二分光電檢測器10檢測出來。由第二偏振分束器9反射的光，由于柱面透鏡11的緣故而引起象散，并因而由四分光電檢測器12所檢測。在這個時候，二分光電檢測器10用于按推挽法檢測道跟蹤誤差信號，而四分光電檢測器12用于按著象散法檢測聚焦誤差信號。而且，四分光電檢測器12還用于檢測來自于記錄介質2的射頻信號。在上述光學拾取器中，必須有一個柱透鏡11才能檢測聚焦誤差信號。而且第一凸透鏡必須與凹透鏡相結合，為的是在用二分光電檢測器10和四分光電檢測器12檢測返回光時提高放大率，因此許多部件都是必不可少的。于是，由于生產成本隨著部件數量的增多而增加，因此，希望減少部件的數量。而且，在上述光學拾取器中，為了在用二分光電檢測器10和四分光電檢測器12檢測返回光時提高放大率，第一凸透鏡與凹透鏡必須相互結合起來。但是，在第一凸透鏡與凹透鏡按這種方式相結合的情況下，光學系統光路的長度將變得過長。而且，光學系統過長的光路還影響器件的小型化。所以，為了使器件小型化就需要一種能夠構造出較短光路光學系統的光學拾取器。此外，作為可以構造出有少量部件和短光路的光學系統的光學拾取器，已被提出采用一種具有偏振選擇特性全息光學元件的器件。然而全息光學元件消光比比較差，且不能大批生產，因而在實際應用這個帶有全息光學元件的器件時，仍存在著一些問題。而且有全息光學元件的器件沒有偏振分束器，這使該器件不能獲得高效率。結果是，諸如信/噪比等信號性能比前述使用偏振分束器的時候下降了。本專利技術是針對上述問題而提出的。因此本專利技術的目的是提供一種光學拾取器，它可使光學系統不使用全息光學元件，但元件數量減少且光程縮短。本專利技術提供了一種用于把光束照射到記錄介質上并檢測記錄介質反射回來的光，進而從記錄介質上讀出信號的光學拾取器，它包括一個發射激光的光發射部分；一個由非軸晶體材料構成并接收光發射部分所發出光的第一光學元件；一個由單軸晶體材料構成并經由偏振膜而粘到第一光學元件上的第二光學元件；一個第一檢測裝置，當光發射部分發出的光透過第一光學元件經偏振膜反射，且該偏振膜反射的光照射到記錄介質上，記錄介質反射的光再入射到第一光學元件并透過偏振膜進入第二光學元件之后，檢測透過第二光學元件的光束；一個設置在記錄介質反射光的光路中的光柵；和一個第二檢測裝置，其所測的光是光發射部分發出的光透過第一光學元件且透過偏振膜和第二光學元件的光。而且，本專利技術提供了一種用于把光束照射到記錄介質上并檢測記錄介質反射回來的光進而從記錄介質上讀出信號的光學拾取器，它包括一個發射激光的光發射部分；一個由非軸晶體材料構成并接收光發射部分所發出光的第一光學元件；一個由單軸晶體材料構成并經由偏振膜而粘到第一光學元件上的第二光學元件；一個在透過第一光學元件而被偏振膜發射的光照射到記錄介質上，且記錄介質反射的光再次透過第一光學元件而進入偏振膜，并繼續透過偏振膜入射到第二光學元件且在通過第二光學元件時被分成非常光和尋常光之后，用于衍射該尋常光和非常光的光柵；一個用于檢測光柵衍射出來的0級光，+1級和-1級光的第一檢測裝置；和一個第二檢測裝置，其所測的光是光發射部分發出的光透過第一光學元件再透過偏振膜并繼續透過第二光學元件的那部分光。本專利技術的上述及其他目的，特征和優點將通過下文參考附圖所做的詳細說明而更加清楚。圖1是現有光學拾取器的一種構成實例平面圖；圖2是從組合棱鏡上方看去該組合棱鏡一個實例的頂視圖；圖3是圖2所示組合棱鏡的側視圖；圖4是圖2所示組合棱鏡的圖解圖；它表示出由偏振膜所產生的偏振方向和第二棱鏡光軸之間的關系；圖5是本專利技術光學拾取器與記錄介質一個實例主要部分的圖解側視圖；圖6是圖5所示光學拾取器與記錄介質主要部分從上方看去的視圖；圖7是表示本專利技術光學拾取器一種構成實例的平面圖；圖8是表示第二光檢測裝置和光斑圖案實例的平面圖；圖9是表示第二光檢測裝置和光斑圖案另一個實例的平面圖；圖10是本專利技術組合棱鏡另一實例從光柵一側看去的平面圖；圖11是圖10所示組合棱鏡從上方看去的平面圖；圖12是表示第二光檢測裝置和光斑圖案另一個實例的平面圖；圖13是組合棱鏡另一個實例的側視圖14是圖13所示組合棱鏡從上方看去的平面圖；圖15是表示本專利技術光學拾取器另一種構成實例的平面圖；圖16是表示本專利技術的光學拾取器的平面圖，其在組合棱鏡附近部分是經過放大的；圖17是表示本專利技術光學拾取器另一構成實例主要部分的放大平面圖；圖18是表示本專利技術光學拾取器再一種構成實例主要部分的放大平面圖；及圖19是表示第二光檢測器和光斑圖案一個實例的平面圖，該例采用的是三光斑法。下面對本專利技術的實際實施例，參改附圖予以詳細說明。下文首先說明本專利技術光學拾取器所用組合棱鏡的一個實施例。如圖2和3所示，本實施例的組合棱鏡包括，一個由第一直角棱鏡21與第二直角棱鏡22通過偏振膜(未畫出)相互粘合而成的耦合棱鏡23，和一個粘在該耦合棱鏡23上的光柵24。上述第一直角棱鏡21由非軸晶體材料如玻璃等等構成。另外，第二直角棱鏡22的形狀基本與第一直角棱鏡21的相同，且由單軸晶體材料構成。第一直角棱鏡21折射率ng，和第二直角棱鏡22尋常光折射率no，和第二直角棱鏡22非常光折射率ne之間的關系由公式no＜ng＜ne，或ne＜ng＜no來表示。然后，按照第一直角棱鏡21與第二直角棱鏡22通過偏振膜其斜面彼此相接合的方式制出耦合棱鏡23。因此，耦合棱鏡23的形狀基本為直角平行六面體狀，且在第一直角棱鏡21一側有第一平面23a和第二平面23b，而在第二直角棱鏡的一側有第三平面23c和第四平面23d。夾在第一直角棱鏡21與第二直角棱鏡22之間的偏振膜是由多層介質膜構成的。如圖4所示，從第四平面本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種光學拾取器，用于把光束投射到記錄介質上并檢測從該記錄介質反射回來的光，從而讀出來自所述記錄介質的信號，它包括：一個用于發射激光的光發射裝置；一個由非軸晶體材料構成，并接收所述光發射裝置發出的所述光的第一光學元件；一個由單軸晶 體材料構成，經由偏振膜粘到所述第一光學元件上的第二光學元件；一個第一檢測裝置，當所述光發射裝置發出的光透過所述第一光學元件而被所述偏振膜反射，且所述偏振膜反射的光照射到記錄介質上，經所述記錄介質反射而返回的光再次進入所述第一光學元件并透 過所述偏振膜繼續進入所述第二光學元件之后，檢測透過所述第二光學元件的光；一個設置在所述記錄介質反射光光路中的光柵；及一個第二檢測裝置，當所述光發射裝置發出的光透過所述第一光學元件且透過所述偏振膜的光再透過所述第二光學元件之后，對該光 進行檢測。

【技術特征摘要】
JP 1995-4-18 092833/951.一種光學拾取器，用于把光束投射到記錄介質上并檢測從該記錄介質反射回來的光，從而讀出來自所述記錄介質的信號，它包括一個用于發射激光的光發射裝置；一個由非軸晶體材料構成，并接收所述光發射裝置發出的所述光的第一光學元件；一個由單軸晶體材料構成，經由偏振膜粘到所述第一光學元件上的第二光學元件；一個第一檢測裝置，當所述光發射裝置發出的光透過所述第一光學元件而被所述偏振膜反射，且所述偏振膜反射的光照射到記錄介質上，經所述記錄介質反射而返回的光再次進入所述第一光學元件并透過所述偏振膜繼續進入所述第二光學元件之后，檢測透過所述第二光學元件的光；一個設置在所述記錄介質反射光光路中的光柵；及一個第二檢測裝置，當所述光發射裝置發出的光透過所述第一光學元件且透過所述偏振膜的光再透過所述第二光學元件之后，對該光進行檢測。2.如權利要求1所述的光學拾取器，其中所述第一光學元件是平行四邊形的，且第二光學元件是梯形的。3.如權利要求1所述的光學拾取器，其中所述第一檢測裝置與所述第二檢測裝置被設置在同一平面上。4.如權利要求1所述的光學拾取器，其中所述的光學拾取器進一步包括一個設置在所述第一光學元件光路中的第二光柵。5.如權利要求1所述的光學拾取器，其中用于檢測通過所述第二光學元件被分裂且通過光柵被衍射的各0級光線，各+1級光線和各-1級光線的裝置包括一個檢測尋常光0級光線的光電探測器；一個檢測非常光0級光線的光電探測器；一個檢測尋常光-1級光線的三分光電探測器；一個檢測非常光+1級光線的三分光電探測器。6.如權利要求5所述的光學拾取器，其中的光學拾取器包括一個檢測所述尋常光+1級光線的二分光電探測器，和一個檢測所述非常光-1級光線的二分光電探測器。7.如權利要求1所述的光學拾取器，其中所述光柵設置在...

【專利技術屬性】
技術研發人員：安藤伸彥，
申請(專利權)人：索尼公司，
類型：發明
國別省市：JP[日本]