中頻模塊老化試驗夾具制造技術(shù)

本實用新型專利技術(shù)涉及中頻模塊老化試驗夾具，包括腔體，一分八開關(guān)與壓緊裝置，腔體上端面分為第一型槽，第二型槽與測試區(qū)，第一型槽與第二型槽分列在所述測試區(qū)兩側(cè)，兩套一分八開關(guān)分別鏡像對稱安裝在第一型槽及第二型槽內(nèi)，若干壓緊裝置并排安裝在測試區(qū)上，壓緊裝置包括壓緊件，測試型腔與PCB板，測試型腔安裝在測試區(qū)上，測試型腔側(cè)部設(shè)置有探針，所述PCB板設(shè)置在所述測試型腔邊部，所述探針通過所述PCB板與所述一分八開關(guān)電連接，所述壓緊件貫穿所述測試型腔與所述測試區(qū)可拆卸連接。本實用新型專利技術(shù)采用一分八開關(guān)來實現(xiàn)控制信號的通斷，控制不同工位測試件的信號輸入輸出，通過切換一分八開關(guān)的通斷達到控制不同工位測試件的目的，提高測試效率。高測試效率。高測試效率。

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
中頻模塊老化試驗夾具


[0001]本技術(shù)涉及微波測試
，特別是涉及中頻模塊老化試驗夾具。

技術(shù)介紹

[0002]數(shù)字中頻模塊為數(shù)字光纖直放站的核心，它實現(xiàn)了數(shù)字中頻信號處理和光纖拉遠等核心功能。由于光纖直放站分為近端機和遠端機，因此中頻板也分為近端數(shù)字中頻模塊和遠端數(shù)字中頻模塊兩部分。S參數(shù)，也就是散射參數(shù)，是中頻模塊微波傳輸中的一個重要參數(shù)。S12為反向傳輸系數(shù)，也就是隔離。S21為正向傳輸系數(shù)，也就是增益。S11為輸入反射系數(shù)，也就是輸入回波損耗，S22為輸出反射系數(shù)，也就是輸出回波損耗。現(xiàn)有的中頻模塊老化測試夾具均為單個測試，效率極低，并且測試時，直接將測試件的引腳壓接在PCB板的微帶線上，這種測試方法可能會出現(xiàn)部分引腳連接錯位的情況，出現(xiàn)誤差。

技術(shù)實現(xiàn)思路

[0003]基于此，有必要針對現(xiàn)有的老化測試效率低，以及引腳電連接偏差的情況，提供中頻模塊老化試驗夾具。
[0004]中頻模塊老化試驗夾具，包括腔體，一分八開關(guān)與壓緊裝置，所述腔體上端面分為第一型槽，第二型槽與測試區(qū)，所述第一型槽與第二型槽分列在所述測試區(qū)兩側(cè)，兩套所述一分八開關(guān)分別鏡像對稱安裝在所述第一型槽及第二型槽內(nèi)，若干所述壓緊裝置并排安裝在所述測試區(qū)上，所述壓緊裝置包括壓緊件，測試型腔與PCB板，所述測試型腔安裝在所述測試區(qū)上，所述測試型腔側(cè)部設(shè)置有探針，所述PCB板設(shè)置在所述測試型腔邊部，所述探針通過所述PCB板與所述一分八開關(guān)電連接，所述壓緊件貫穿所述測試型腔與所述測試區(qū)可拆卸連接。
[0005]優(yōu)選的，所述壓緊件包括壓板，支撐架與壓塊，所述支撐架中部設(shè)置有鏤空部，所述壓板安裝在所述支撐架上方，所述壓塊位于所述測試型腔內(nèi)并正對所述鏤空部，所述壓板與所述壓塊之間設(shè)置有彈簧。
[0006]優(yōu)選的，所述壓板的兩個對角通過螺栓貫穿支撐架后與所述測試區(qū)連接，所述測試區(qū)上對應(yīng)所述壓板另外兩個對角設(shè)置有限位支座，所述支撐架邊角部設(shè)置有通孔。
[0007]優(yōu)選的，所述腔體背離所述壓緊裝置的一側(cè)還設(shè)置有底板，所述第一型槽及第二型槽上設(shè)置有蓋板。
[0008]優(yōu)選的，所述壓塊是聚四氟乙烯制成的。
[0009]本技術(shù)的有益之處在于：1、采用一分八開關(guān)來實現(xiàn)控制信號的通斷，控制不同工位測試件的信號輸入輸出，通過切換一分八開關(guān)的通斷達到控制不同工位測試件的目的，提高測試效率；2、使用測試型腔配合PCB板與一分八開關(guān)電連接，無需直接將測試件直接與一分八開關(guān)電連接，測試更加精準，避免出現(xiàn)偏差錯位。
附圖說明
[0010]圖1為其中一實施例中頻模塊老化試驗夾具立體示意圖；
[0011]圖2為中頻模塊老化試驗夾具爆炸示意圖；
[0012]圖3為圖2中A部放大示意圖。
具體實施方式
[0013]為使本技術(shù)的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖對本技術(shù)的具體實施方式做詳細的說明。在下面的描述中闡述了很多具體細節(jié)以便于充分理解本技術(shù)。但是本技術(shù)能夠以很多不同于在此描述的其它方式來實施，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本技術(shù)內(nèi)涵的情況下做類似改進，因此本技術(shù)不受下面公開的具體實施例的限制。
[0014]需要說明的是，當元件被稱為“固定于”或“設(shè)置于”另一個元件，它可以直接在另一個元件上或者也可以存在居中的元件。當一個元件被認為是“連接”另一個元件，它可以是直接連接到另一個元件或者可能同時存在居中元件。本文所使用的術(shù)語“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及類似的表述只是為了說明的目的，并不表示是唯一的實施方式。
[0015]除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學術(shù)語與屬于本技術(shù)的
的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本技術(shù)的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實施方式的目的，不是旨在于限制本技術(shù)。本文所使用的術(shù)語“和/或”包括一個或多個相關(guān)的所列項目的任意的和所有的組合。
[0016]如圖1~2所示，中頻模塊老化試驗夾具，包括腔體1，一分八開關(guān)2與壓緊裝置3，所述腔體1上端面分為第一型槽11，第二型槽12與測試區(qū)13，所述第一型槽11與第二型槽12分列在所述測試區(qū)13兩側(cè)，兩套所述一分八開關(guān)2分別鏡像對稱安裝在所述第一型槽11及第二型槽12內(nèi)，若干所述壓緊裝置3并排安裝在所述測試區(qū)13上，所述壓緊裝置3包括壓緊件31，測試型腔32與PCB板33，所述測試型腔32安裝在所述測試區(qū)13上，所述測試型腔32側(cè)部設(shè)置有探針321，所述PCB板33設(shè)置在所述測試型腔32邊部，所述探針321通過所述PCB板33與所述一分八開關(guān)2電連接，所述壓緊件31貫穿所述測試型腔32與所述測試區(qū)13可拆卸連接。具體的，在本實施例中，腔體1上端面設(shè)置有第一型槽11與第二型槽12，呈片狀的一分八開關(guān)2嵌合在第一型槽11及第二型槽12內(nèi)，一分八開關(guān)2上表面設(shè)置有微帶線，用于與PCB板33電連接。在第一型槽11及第二型槽12之間設(shè)置測試區(qū)13，用于安裝壓緊裝置3。在本實施例中，設(shè)置有8個并排的壓緊裝置3，以對應(yīng)一分八開關(guān)2。進一步的，測試時，操作員將測試件放入測試型腔32內(nèi)，按壓壓緊件31，使得測試件與測試型腔32接觸良好，并且測試型腔32受力后，同步下降，其邊部的探針321與PCB板33電連接，而PCB板33與所述一分八開關(guān)2是電連接的，具體可以采用焊接金屬絲的方式連接。后續(xù)操作人員可以按照測試要求將夾具與其他儀器儀表連接，通過J30J對測試件及一分八開關(guān)2進行加電及控制，按照J30J引腳定義連接外圍加電電路、模塊控制電路及開關(guān)控制電路，即可開始測試，控制電信號由J30J連接器經(jīng)一分八開關(guān)2上的微帶線及PCB板33后，引入以控制切換測試鏈路，達到測試不同測試型腔32上待測件的目的，極大的提高了測試效率，且便于分類測試。
[0017]如圖2~3所示，所述壓緊件31包括壓板311，支撐架312與壓塊313，所述支撐架312中部設(shè)置有鏤空部，所述壓板311安裝在所述支撐架312上方，所述壓塊313位于所述測試型
腔32內(nèi)并正對所述鏤空部，所述壓板311與所述壓塊313之間設(shè)置有彈簧。具體的，在本實施例中，所述壓塊313是聚四氟乙烯制成的，為耐高溫且低介電常數(shù)的材料。壓板311通過螺栓貫穿支撐架312，與測試區(qū)13連接，在壓板311與壓塊313之間設(shè)置有彈簧，測試時，將測試件放入測試型腔32內(nèi)，測試時，操作人員按壓壓板311，通過彈簧將壓力傳遞給壓塊313，最終作用在測試型腔32內(nèi)的測試件上，使得測試件與測試型腔32內(nèi)壁的探針321末端接觸良好，并且，使用測試型腔32限制測試件，避免測試時出現(xiàn)錯位現(xiàn)象，偏差，導致出現(xiàn)參數(shù)誤差。
[0018]如圖2~3所示，所述壓板311的兩個對角通過螺栓貫穿支撐架312后與所述測試區(qū)13連接，所述測試區(qū)13上對應(yīng)所述壓板311另外兩個對角設(shè)置有限位支座131，所述支撐架312邊角部設(shè)置有通孔。具體的，采用對角為固定壓板311及支撐架312，防止松動，在另外另個對角位置設(shè)置限位支座131，本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護點】

【技術(shù)特征摘要】
1.中頻模塊老化試驗夾具，其特征在于：包括腔體，一分八開關(guān)與壓緊裝置，所述腔體上端面分為第一型槽，第二型槽與測試區(qū)，所述第一型槽與第二型槽分列在所述測試區(qū)兩側(cè)，兩套所述一分八開關(guān)分別鏡像對稱安裝在所述第一型槽及第二型槽內(nèi)，若干所述壓緊裝置并排安裝在所述測試區(qū)上，所述壓緊裝置包括壓緊件，測試型腔與PCB板，所述測試型腔安裝在所述測試區(qū)上，所述測試型腔側(cè)部設(shè)置有探針，所述PCB板設(shè)置在所述測試型腔邊部，所述探針通過所述PCB板與所述一分八開關(guān)電連接，所述壓緊件貫穿所述測試型腔與所述測試區(qū)可拆卸連接。2.如權(quán)利要求1所述的中頻模塊老化試驗夾具，其特征在于：所述壓緊件包括壓板，支...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：何川，董良，張強，
申請(專利權(quán))人：成都國強裕興電子科技有限公司，
類型：新型
國別省市：