提供了伺服控制裝置和光盤(pán)裝置。該伺服控制裝置包括：多個(gè)再現(xiàn)通道；多個(gè)模擬/數(shù)字（A/D）轉(zhuǎn)換器；伺服誤差檢測(cè)電路，產(chǎn)生伺服誤差信號(hào)；伺服信號(hào)處理裝置，對(duì)伺服誤差信號(hào)執(zhí)行預(yù)定處理以產(chǎn)生控制信號(hào)；以及采樣頻率轉(zhuǎn)換器，在伺服誤差檢測(cè)電路與伺服信號(hào)處理裝置之間轉(zhuǎn)換采樣頻率。包括第一時(shí)鐘，作為A/D轉(zhuǎn)換器的采樣時(shí)鐘和伺服誤差檢測(cè)電路的處理時(shí)鐘。包括第二時(shí)鐘，作為伺服信號(hào)處理裝置的處理時(shí)鐘。采樣頻率轉(zhuǎn)換器通過(guò)與第一時(shí)鐘同步地處理伺服誤差檢測(cè)電路的伺服誤差信號(hào)以及與第二時(shí)鐘同步地處理與第一時(shí)鐘同步處理的信號(hào)，來(lái)轉(zhuǎn)換采樣頻率。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專(zhuān)利技術(shù)涉及包括用于例如跟蹤誤差(TE)信號(hào)的檢測(cè)的差分相位檢測(cè)(Dro)電路的伺服控制裝置和光盤(pán)裝置。
技術(shù)介紹
在光盤(pán)控制器大規(guī)模集成電路(LSI)中，對(duì)于諸如藍(lán)光光盤(pán)(BD)和數(shù)字多用途光盤(pán)(DVD)之類(lèi)的只讀存儲(chǔ)器(ROM)光盤(pán)內(nèi)的跟蹤誤差(TE)信號(hào)檢測(cè)，裝備DPD電路必不可少。盡管在過(guò)去，DPD電路基于完全模擬配置，但是最近幾年為了減小電路規(guī)模和抑制 高密度處理中的功耗，逐步采用數(shù)字DPD。(請(qǐng)參見(jiàn)例如第2006-260645號(hào)、第2001-67690號(hào)和第2009-9660號(hào)日本未決專(zhuān)利申請(qǐng))。在采用數(shù)字Dro的伺服系統(tǒng)中，Dro的模/數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換的采樣頻率(fs)需要處于與伺服系統(tǒng)時(shí)鐘同步的固定頻率，因?yàn)槔盟欧?shù)字信號(hào)處理器(DSP)執(zhí)行伺服控制。此外，因?yàn)椴蓸釉恚蓸宇l率fs需要保持在射頻(RF)最高重復(fù)頻率(重復(fù)最小反復(fù)行程(rmtr))的至少兩倍。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
然而，如果系統(tǒng)與恒定角速度(CAV)系統(tǒng)兼容，則系統(tǒng)需要滿足從最內(nèi)圓周到最外圓周的完全搜索(RF頻率2. 4倍)，并且需要根據(jù)電路實(shí)現(xiàn)和功耗而過(guò)分高(至少4. 8倍rmtr)的采樣頻率fs。因此，整個(gè)伺服系統(tǒng)的功耗變高。需要本技術(shù)提供一種能夠在不需要過(guò)分高的采樣頻率的情況下，降低整個(gè)伺服系統(tǒng)的功耗的伺服控制裝置和光盤(pán)裝置。根據(jù)本技術(shù)的實(shí)施例，提供了一種伺服控制裝置，包括多個(gè)再現(xiàn)通道，配置為再現(xiàn)記錄介質(zhì)的信息；以及多個(gè)模擬/數(shù)字(A/D)轉(zhuǎn)換器，相應(yīng)地配置為執(zhí)行多個(gè)再現(xiàn)通道的多個(gè)輸入信號(hào)的采樣和量化。該伺服控制裝置還包括伺服誤差檢測(cè)電路，配置為對(duì)由A/D轉(zhuǎn)換器數(shù)字化的多個(gè)輸入信號(hào)執(zhí)行預(yù)定處理，以產(chǎn)生伺服誤差信號(hào)；伺服信號(hào)處理裝置，配置為對(duì)伺服誤差信號(hào)執(zhí)行預(yù)定處理，以產(chǎn)生用于伺服系統(tǒng)控制的控制信號(hào)；以及采樣頻率轉(zhuǎn)換器，配置為在伺服誤差檢測(cè)電路與伺服信號(hào)處理裝置之間轉(zhuǎn)換采樣頻率。包括第一時(shí)鐘，作為A/D轉(zhuǎn)換器的采樣時(shí)鐘和伺服誤差檢測(cè)電路的處理時(shí)鐘。包括第二時(shí)鐘，作為伺服信號(hào)處理裝置的處理時(shí)鐘。采樣頻率轉(zhuǎn)換器通過(guò)與第一時(shí)鐘同步處理伺服誤差檢測(cè)電路的伺服誤差信號(hào)以及與第二時(shí)鐘同步處理與第一時(shí)鐘同步處理的信號(hào)，來(lái)轉(zhuǎn)換采樣頻率。根據(jù)本技術(shù)的實(shí)施例，提供了一種光盤(pán)裝置，包括多個(gè)再現(xiàn)通道，配置為利用光學(xué)部分再現(xiàn)光盤(pán)的信息；以及多個(gè)模擬/數(shù)字(A/D)轉(zhuǎn)換器，相應(yīng)地配置為執(zhí)行多個(gè)再現(xiàn)通道的多個(gè)輸入信號(hào)的采樣和量化。該光盤(pán)裝置還包括伺服誤差檢測(cè)電路，配置為對(duì)由A/D轉(zhuǎn)換器數(shù)字化的多個(gè)輸入信號(hào)執(zhí)行預(yù)定處理，以產(chǎn)生伺服誤差信號(hào)；伺服信號(hào)處理裝置，配置為對(duì)伺服誤差信號(hào)執(zhí)行預(yù)定處理，以產(chǎn)生用于伺服系統(tǒng)控制的控制信號(hào)；以及采樣頻率轉(zhuǎn)換器，配置為在伺服誤差檢測(cè)電路與伺服信號(hào)處理裝置之間轉(zhuǎn)換采樣頻率。包括第一時(shí)鐘，作為A/D轉(zhuǎn)換器的采樣時(shí)鐘和伺服誤差檢測(cè)電路的處理時(shí)鐘。包括第二時(shí)鐘，作為伺服信號(hào)處理裝置的處理時(shí)鐘。采樣頻率轉(zhuǎn)換器通過(guò)與第一時(shí)鐘同步處理伺服誤差檢測(cè)電路的伺服誤差信號(hào)以及與第二時(shí)鐘同步處理與第一時(shí)鐘同步處理的信號(hào)，來(lái)轉(zhuǎn)換采樣頻率。根據(jù)本技術(shù)的實(shí)施例，可以降低整個(gè)伺服系統(tǒng)的功耗，而無(wú)需過(guò)分高的采樣頻率。附圖說(shuō)明圖I是示出能夠采用根據(jù)本技術(shù)的實(shí)施例的伺服控制裝置的光盤(pán)裝置的配置示例的不意圖；圖2是示出根據(jù)該實(shí)施例的伺服控制裝置的配置示例的示意圖； 圖3是示出根據(jù)該實(shí)施例的采樣頻率轉(zhuǎn)換器的配置示例的示意圖；圖4A和圖4B是示出采樣頻率轉(zhuǎn)換器中的第一起動(dòng)信號(hào)和第二起動(dòng)信號(hào)的發(fā)生器的配置示例的示意圖；圖5A至圖5E是示出根據(jù)該實(shí)施例的采樣頻率轉(zhuǎn)換器中采用的第一時(shí)鐘、第二時(shí)鐘、第三時(shí)鐘、第一起動(dòng)信號(hào)以及第二起動(dòng)信號(hào)的波形示例的示意圖；圖6A至圖6D是示出根據(jù)該實(shí)施例的采樣頻率轉(zhuǎn)換器中的各個(gè)部分的輸入/輸出波形的示意圖；圖7是示出根據(jù)該實(shí)施例的采用Dro系統(tǒng)的跟蹤誤差(TE)檢測(cè)電路的配置示例的電路圖；以及圖8是示出根據(jù)該實(shí)施例的相關(guān)器的配置示例的電路圖。具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合附圖描述本技術(shù)的實(shí)施例。描述順序如下。I.光盤(pán)裝置的配置示例2.伺服控制裝置的配置示例3.采樣頻率轉(zhuǎn)換器的配置示例4. DB)系統(tǒng)的TE檢測(cè)電路的配置示例〈I.光盤(pán)裝置的配置示例〉圖I是示出能夠采用根據(jù)本實(shí)施例的伺服控制裝置的光盤(pán)裝置(光記錄/再現(xiàn)裝置)的配置示例的示意圖。如圖I所示，該光盤(pán)裝置I具有例如光盤(pán)的記錄介質(zhì)2、光學(xué)拾取器(光頭)3、伺服控制裝置4、驅(qū)動(dòng)部分5、RF再現(xiàn)信號(hào)處理器6、解碼/糾錯(cuò)部分7以及主機(jī)接口(IF) 8。在圖I中，示出了跟蹤誤差信號(hào)(TE信號(hào))的處理系統(tǒng)，并且省略了聚焦誤差信號(hào)的處理系統(tǒng)。光學(xué)拾取器3具有激光二極管31，由激光器驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)，并且用于記錄和再現(xiàn)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)；光接收單元32，用于檢測(cè)由激光二極管31輻射的激光；光學(xué)系統(tǒng)33 ;物鏡34等。伺服控制裝置4包括伺服誤差檢測(cè)電路41、包括伺服濾波器等的伺服信號(hào)處理裝置42、采樣頻率轉(zhuǎn)換器43、諸如微控制器單元(MCU)和DSP的控制部分44以及用于執(zhí)行驅(qū)動(dòng)部分5的PWM (或者PDM)控制的脈寬調(diào)制(PWM) /脈沖密度調(diào)制(PDM)電路45。后面將詳細(xì)描述伺服控制裝置4。驅(qū)動(dòng)部分5具有跟蹤驅(qū)動(dòng)器51，并且驅(qū)動(dòng)物鏡34的跟蹤機(jī)構(gòu)部分。RF再現(xiàn)信號(hào)處理器6執(zhí)行再現(xiàn)處理，諸如由光學(xué)拾取器3讀取光盤(pán)2的記錄信息而引起的RF信號(hào)的解調(diào)處理。解碼/糾錯(cuò)部分7對(duì)RF再現(xiàn)信號(hào)處理器的再現(xiàn)信號(hào)和從諸如個(gè)人計(jì)算機(jī)(PC)的主機(jī)裝置9通過(guò)主機(jī)接口 8發(fā)送的數(shù)據(jù)執(zhí)行解碼處理和糾錯(cuò)處理。顯然，該光盤(pán)裝置(光學(xué)記錄/再現(xiàn)裝置)是一個(gè)示例，并且應(yīng)用了本技術(shù)的實(shí)施例的光學(xué)記錄/再現(xiàn)裝置并不局限于圖I的配置。 〈2.伺服控制裝置的配置示例〉下面將專(zhuān)門(mén)描述根據(jù)本實(shí)施例的伺服控制裝置4的配置和功能。圖2是示出根據(jù)本實(shí)施例的伺服控制裝置的配置示例的示意圖。如上所述，伺服控制裝置4具有伺服誤差檢測(cè)電路41、包括伺服濾波器的伺服信號(hào)處理裝置42、采樣頻率轉(zhuǎn)換器43、諸如MCU和DSP的控制部分44、以及用于執(zhí)行驅(qū)動(dòng)部分5的PWM (或者PDM)控制的PWM/PDM電路45。伺服控制裝置4還具有多個(gè)再現(xiàn)通道46-1至46-n、多個(gè)模擬/數(shù)字(A/D)轉(zhuǎn)換器47-1至47-n以及分頻器48、49-1和49-2 在伺服控制裝置4中，A/D轉(zhuǎn)換器47-1至47-n、伺服誤差檢測(cè)電路41以及采樣頻率轉(zhuǎn)換器43的前級(jí)部分與RF系統(tǒng)時(shí)鐘(CLK)同步操作。如下所述，A/D轉(zhuǎn)換器47-1至47_n與第O時(shí)鐘CLKO (RF時(shí)鐘)同步操作，而伺服誤差檢測(cè)電路41和采樣頻率轉(zhuǎn)換器43的前級(jí)部分與第一時(shí)鐘CLKl同步操作。在伺服控制裝置4中，采樣頻率轉(zhuǎn)換器43的后級(jí)部分、伺服信號(hào)處理裝置42以及控制部分44與伺服系統(tǒng)時(shí)鐘同步操作。如下所述，采樣頻率轉(zhuǎn)換器43的后級(jí)部分與第二時(shí)鐘CLK2和第三時(shí)鐘CLK3同步操作。伺服信號(hào)處理裝置42與第二時(shí)鐘CLK2同步操作。控制部分44與第四時(shí)鐘CLK4同步操作。多個(gè)再現(xiàn)通道46-1至46-n是用于再現(xiàn)來(lái)自作為存儲(chǔ)介質(zhì)的光盤(pán)2的已讀取信息的通道。A/D轉(zhuǎn)換器47-1至47_n分別執(zhí)行多個(gè)再現(xiàn)通道46_1至46_n的多個(gè)輸入信號(hào)的采樣，以量化和捕獲它們。各個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器47-1至47_n將數(shù)字化信號(hào)輸出到伺服誤差檢測(cè)電路本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種伺服控制裝置，包括：多個(gè)再現(xiàn)通道，配置為再現(xiàn)記錄介質(zhì)的信息，多個(gè)模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器，相應(yīng)地配置為用于執(zhí)行所述多個(gè)再現(xiàn)通道的多個(gè)輸入信號(hào)的采樣和量化，伺服誤差檢測(cè)電路，配置為對(duì)由A/D轉(zhuǎn)換器數(shù)字化的多個(gè)輸入信號(hào)執(zhí)行預(yù)定處理，以產(chǎn)生伺服誤差信號(hào)；伺服信號(hào)處理裝置，配置為對(duì)所述伺服誤差信號(hào)執(zhí)行預(yù)定處理，以產(chǎn)生用于伺服系統(tǒng)控制的控制信號(hào)，以及采樣頻率轉(zhuǎn)換器，配置為在所述伺服誤差檢測(cè)電路與所述伺服信號(hào)處理裝置之間轉(zhuǎn)換采樣頻率，其中包括第一時(shí)鐘，作為所述A/D轉(zhuǎn)換器的采樣時(shí)鐘和所述伺服誤差檢測(cè)電路的處理時(shí)鐘，包括第二時(shí)鐘，作為所述伺服信號(hào)處理裝置的處理時(shí)鐘，以及所述采樣頻率轉(zhuǎn)換器通過(guò)與第一時(shí)鐘同步地處理所述伺服誤差檢測(cè)電路的伺服誤差信號(hào)以及與第二時(shí)鐘同步地處理與第一時(shí)鐘同步處理的信號(hào)，來(lái)轉(zhuǎn)換采樣頻率。
【技術(shù)特征摘要】
2011.07.28 JP 2011-1657891.一種伺服控制裝置，包括 多個(gè)再現(xiàn)通道，配置為再現(xiàn)記錄介質(zhì)的信息， 多個(gè)模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器，相應(yīng)地配置為用于執(zhí)行所述多個(gè)再現(xiàn)通道的多個(gè)輸入信號(hào)的采樣和量化， 伺服誤差檢測(cè)電路，配置為對(duì)由A/D轉(zhuǎn)換器數(shù)字化的多個(gè)輸入信號(hào)執(zhí)行預(yù)定處理，以產(chǎn)生伺服誤差信號(hào)； 伺服信號(hào)處理裝置，配置為對(duì)所述伺服誤差信號(hào)執(zhí)行預(yù)定處理，以產(chǎn)生用于伺服系統(tǒng)控制的控制信號(hào)，以及 采樣頻率轉(zhuǎn)換器，配置為在所述伺服誤差檢測(cè)電路與所述伺服信號(hào)處理裝置之間轉(zhuǎn)換采樣頻率， 其中 包括第一時(shí)鐘，作為所述A/D轉(zhuǎn)換器的采樣時(shí)鐘和所述伺服誤差檢測(cè)電路的處理時(shí)鐘， 包括第二時(shí)鐘，作為所述伺服信號(hào)處理裝置的處理時(shí)鐘，以及所述采樣頻率轉(zhuǎn)換器通過(guò)與第一時(shí)鐘同步地處理所述伺服誤差檢測(cè)電路的伺服誤差信號(hào)以及與第二時(shí)鐘同步地處理與第一時(shí)鐘同步處理的信號(hào)，來(lái)轉(zhuǎn)換采樣頻率。2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的伺服控制裝置，其中 所述第一時(shí)鐘從數(shù)據(jù)再現(xiàn)系統(tǒng)始發(fā)， 所述第二時(shí)鐘從伺服信號(hào)處理系統(tǒng)始發(fā)，以及 所述第一時(shí)鐘與所述第二時(shí)鐘異步。3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的伺服控制裝置，其中 所述采樣頻率轉(zhuǎn)換器是異步類(lèi)型，并且包括用于執(zhí)行與第一時(shí)鐘同步的積分或者累加的積分器或者累加器。4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的伺服控制裝置，其中 所述記錄介質(zhì)是盤(pán)形介質(zhì)，以及 所述第一時(shí)鐘的頻率被改變，從而與記錄介質(zhì)或者轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)速和記錄介質(zhì)上數(shù)據(jù)再現(xiàn)位置處的半徑的乘積成正比。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的伺服控制裝置，其中 如果所述盤(pán)形介質(zhì)的最內(nèi)圓周半徑或者搜索開(kāi)始半徑定義為ri，而最外圓周半徑或者搜索目標(biāo)半徑定義為ro，則所述第一時(shí)鐘的頻率至少是在半徑ri處的再現(xiàn)信號(hào)的最高重復(fù)頻率的2*(ro/ri)倍。6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的伺服控制裝置，其中 所述記錄介質(zhì)是光盤(pán)，并且 所述伺服誤差檢測(cè)電路包括差分相位檢測(cè)系統(tǒng)的跟蹤誤差檢測(cè)電路。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的伺服控制裝置，其中 所述差分相位檢測(cè)系統(tǒng)的跟蹤誤差檢測(cè)電路包括相關(guān)器，并且所述相關(guān)器包括積分器， 所述采樣頻率轉(zhuǎn)換器是異步類(lèi)型，并且包括用于執(zhí)行與第一時(shí)鐘同步的積分或者累加的積分器或者累加器，并且所述跟蹤誤差檢測(cè)電路的積分器和所述采樣頻率轉(zhuǎn)換器的積分器或者累加器被集成和共享。8.根據(jù)權(quán)利要求I所述的伺服控制裝置，其中 所述伺服信號(hào)處理裝置包括用于執(zhí)行伺服系統(tǒng)的驅(qū)動(dòng)控制的控制部分， 將第四時(shí)鐘作為核心時(shí)鐘提供到所述控制部分， 所述第四時(shí)鐘的頻率不小于所述第二時(shí)鐘的...
【專(zhuān)利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：小林伸嘉，
申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人：索尼公司，
類(lèi)型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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