本實用新型專利技術公開了一種LED光源模塊光電檢測裝置，包括座架，所述的座架上設有可作垂直運動軌跡用于光電檢測的光學積分球，所述在座架上的光學積分球下方位置設有用于輸送被檢測LED光源模塊連片的測試夾具，測試夾具設置于座架上所設有的滑動導電軌上方，設有鏈條與滑動導電軌相連接并由鏈條控制滑動導電軌及測試夾具作水平運動軌跡至光學積分球下方的測試位置上，滑動導電軌及光學積分球均與帶有光學分析儀的計算機相連接并在計算機控制下實現光電檢測工作，避免了人工測試手工操作的現象，有效提高了測試效率及準確度，適合LED照明COB光源模塊大批量的測試工作，其結構緊湊，構思巧妙，機械化程度高，適合普遍推廣使用。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）
【技術實現步驟摘要】
本技術涉及光電測試設備制造
，具體來說是一種LED光源模塊光電檢測裝置。
技術介紹
目前，現有技術中的LED光源模塊多片連接的連片測試檢測工作還處于傳統的人工操作階段，對于插件LED燈珠和貼片LED燈珠的光學測試一般是采用單顆自動測試的方式，由于LED光源趨向于COB模塊化方向發展，為了滿足自動化、大批量生產，采用人工操作單塊測試的方式測試效率低下，測試準確度不高，目前的測試方式難于適應LED照明COB光源模塊大批量的測試工作，嚴重限制了 COB光源模塊的批量生產及廣泛應用。因而設計一種結構緊湊、構思巧妙、可以實現自動化檢測、有效提高測試速度及準確度的LED光源模塊光電檢測裝置是本技術的構思所在。
技術實現思路
本技術的目的是克服上述現有技術的缺點，提供一種結構緊湊、構思巧妙、可以實現自動化檢測、有效提高測試速度及準確度的LED光源模塊光電檢測裝置。本技術可以通過以下技術方案來實現本技術公開了一種LED光源模塊光電檢測裝置，該LED光源模塊光電檢測裝置包括座架，所述的座架上設有可作垂直運動軌跡用于光電檢測的光學積分球，所述在座架上的光學積分球下方位置設有用于輸送被檢測LED光源模塊連片的測試夾具，測試夾具設置于座架上所設有的滑動導電軌上方，設有鏈條與滑動導電軌相連接并由鏈條控制滑動導電軌及測試夾具作水平運動軌跡至光學積分球下方的測試位置上，滑動導電軌及光學積分球均與帶有光學分析儀的計算機相連接并在計算機控制下實現光電檢測工作。所述的座架上設有電機及減速電機與鏈條相連接實現為鏈條提供驅動力。所述被測的LED光源模塊固定在輸送帶的測試夾具上并隨測試夾具移動至下部開口光學積分球體下，積分球自動罩住光源模塊連片，通過單片機(MCU)按一定程序給導電滑軌逐塊接通電源工作發光，當一塊發光時，連片的其它光源模塊無電不工作、不發光，其供電系統按特定程序控制。所述的被測的LED光源模塊，進入光學積分球(或稱暗室)以后光源模塊連片逐塊供電工作發光后，同步輸出相應的光電參數信號至配套的計算機進行計算，格式化，列表在顯示屏可進行人工判別是否優良、合格、不合格，或存貯于計算機內，或輸出打印出紙質檢測報告。本技術與現有技術相比有如下優點本技術在座架上設有用于光電檢測的光學積分球，光學積分球下方位置設有帶測試夾具的滑動導電軌，設有鏈條與滑動導電軌相連接并由鏈條控制滑動導電軌及測試夾具作水平運動軌跡至光學積分球下方的測試位置上，控制滑動導電軌按程序逐一向被測光源模塊供電及光學積分球均與逐一輸出被測光源模塊光電參數信號的MCU軟件程序至帶有光學分析儀的計算機相連接并在計算機控制下實現光電檢測工作，避免了人工測試手工操作的現象，有效提高了測試效率及準確度，適合LED照明COB光源模塊大批量的測試工作，其結構緊湊，構思巧妙，機械化程度高，適合普遍推廣使用。附圖說明附圖I為本技術結構示意圖。具體實施方式下面將結合說明書附圖來對本技術作進一步描述如附圖I所示，本實施例公開了一種LED光源模塊光電檢測裝置，該LED光源模塊光電檢測裝置包括座架1，所述的座架上設有可作垂直運動軌跡用于光電檢測的光學積分球2，所述在座架上的光學積分球下方位置設有用于輸送被檢測LED光源模塊連片的測試·夾具3，測試夾具設置于座架上所設有的滑動導電軌4上方，設有鏈條5與滑動導電軌相連接并由鏈條控制滑動導電軌及測試夾具作水平運動軌跡至光學積分球下方的測試位置上，滑動導電軌及光學積分球均與帶有光學分析儀的計算機6相連接并在計算機控制下實現光電檢測工作。所述的座架上設有電機7及減速電機8與鏈條相連接實現為鏈條提供驅動力。所述被測的LED光源模塊固定在輸送帶的測試夾具上并隨測試夾具移動至下部開口光學積分球體下，積分球自動罩住光源模塊連片，通過單片機(MCU)按一定程序給導電滑軌逐塊接通電源工作發光，當一塊發光時，連片的其它光源模塊無電不工作、不發光，其供電系統按特定程序控制。所述的被測的LED光源模塊，進入光學積分球(或稱暗室)以后光源模塊連片逐塊供電工作發光后，同步輸出相應的光電參數信號至配套的計算機進行計算，格式化，列表在顯示屏可進行人工判別是否優良、合格、不合格，或存貯于計算機內，或輸出打印出紙質檢測報告。當然，本技術光電檢測裝置還應包括供電系統(如配電箱9等)或其他相應的電氣配件等。在此不作詳細描述。本技術的測試流程如下啟動本技術機器后，將帶有多個COB光源模塊的LED光源模塊連片固定在測試夾具上，然后在計算機控制的滑動導電軌作水平運動至光學積分球下方的測試位置上，此時，光學積分球同步自動垂直降落，使LED光源模塊連片正好對準置于光學積分球內部相對形成暗室的測試區域，通過程序控制導電軌道逐一供電點亮，由檢測裝置的供電系統對LED光源模塊連片的各COB光源模塊依次供電工作，光學積分球感應各COB光源模塊的光電檢測信號后經過MCU的軟件程序和光纖傳送相應的光電參數信號數據至帶有光學分析儀的計算機進行光學光譜儀的分析工作，并在計算機上顯示相應的各COB光源模塊的光學參數；列表或存貯，或輸出打印成紙質報告。當測試完成后，光學積分球作垂直上升，測試夾具運動回原始位置，卸下測試之后的LED光源模塊連片并重新裝入下一塊LED光源模塊連片進行測試工作，如此循環。本技術在座架上設有用于光電檢測的光學積分球，光學積分球下方位置設有帶測試夾具的滑動導電軌，設有鏈條與滑動導電軌相連接并由鏈條控制滑動導電軌及測試夾具作水平運動軌跡至光學積分球下方的測試位置上，控制滑動導電軌按程序逐一向被測光源模塊供電及光學積分球均與逐一輸出被測光源模塊光電參數信號的MCU軟件程序至帶有光學分析儀的計算機相連接并在計算機控制下實現光電檢測工作，避免了人工測試手工操作的現象，有效提高了測試效率及準確度，適合LED照明COB光源模塊大批量的測試工作，其結構緊湊，構思巧妙，機械化程度高，適合普遍推廣使用。以上所述，僅為本技術的較佳實施例而已，并非對本技術作任何形式上的限制；凡本行業的普通技術人員均可按說明書附圖所示和以上所述而順暢地實施本技術；但是，凡熟悉本專業的技術人員在不脫離本技術技術方案范圍內，可利用以上所揭示的
技術實現思路
而作出的些許更動、修飾與演變的等同變化，均為本技術的等效實施例；同時，凡依據本技術的實質技術對以上實施例所作的任何等同變化的更動、修飾與 演變等，均仍屬于本技術的技術方案的保護范圍之內。權利要求1.一種LED光源模塊光電檢測裝置，包括座架(1)，其特征在于所述的座架上設有可作垂直運動軌跡用于光電檢測的光學積分球(2),所述在座架上的光學積分球下方位置設有用于輸送被檢測LED光 源模塊連片的測試夾具(3)，測試夾具設置于座架上所設有的滑動導電軌(4)上方，設有鏈條(5)與滑動導電軌相連接并由鏈條控制滑動導電軌及測試夾具作水平運動軌跡至光學積分球下方的測試位置上，滑動導電軌及光學積分球均與帶有光學分析儀的計算機(6)相連接并在計算機控制下實現光電檢測工作。2.根據權利要求I所述的LED光源模塊光電檢測裝置，其特征在于所述的座架上設有電機(7)及減速電機(8)與鏈條相連接實現為鏈條提供驅動力。專利摘要本實用本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種LED光源模塊光電檢測裝置，包括座架（1），其特征在于：所述的座架上設有可作垂直運動軌跡用于光電檢測的光學積分球（2），所述在座架上的光學積分球下方位置設有用于輸送被檢測LED光源模塊連片的測試夾具（3），測試夾具設置于座架上所設有的滑動導電軌（4）上方，設有鏈條（5）與滑動導電軌相連接并由鏈條控制滑動導電軌及測試夾具作水平運動軌跡至光學積分球下方的測試位置上，滑動導電軌及光學積分球均與帶有光學分析儀的計算機（6）相連接并在計算機控制下實現光電檢測工作。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：李轉發，劉明強，李文利，
申請(專利權)人：廣東天下行光電有限公司，
類型：實用新型
國別省市：
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