物品分類裝置及其運轉方法制造方法及圖紙

本發明專利技術提供一種物品分類裝置及其運轉方法，可在運送機構的排出位置使物品向下方的分配機構自然落下，降低發生物品缺陷的可能性，并且，在測試運轉時連續循環運送基準物品，由此能夠重復進行檢查。第1，該物品分類裝置包括：運送機構，具有使物品落下并排出的排出部；物品特性的檢查機構；多個分類容器，設于排出部下方；以及分配機構，根據物品的特性將其分類至分類容器。第2，設置了排出部關閉機構，其設于排出部，在開放時使物品落下，在關閉時阻止物品落下而使其通過該排出部。第3，在分類運轉中，開放排出部關閉機構以使物品落下。第4，在測試運轉中關閉排出部關閉機構以阻止物品落下，由此繼續進行利用運送機構的物品的循環運送。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及，特別是涉及適合LED元件這樣的電子零件分類的。
技術介紹
自以往，即已知如專利文獻I所示的電子零件分類裝置。專利文獻I所記載的電子零件分類裝置中，通過噴嘴11的吹送將由分度盤2的吸附嘴8吸附而運送至排出位置的電子零件W，投入到分配裝置4的投入管12，利用擺動管13的擺動，經由所需的分配構件14的分配口 14A將所投入的電子零件W分配至收納箱15。此電子零件的分類裝置中有下列問題。即，在排出位置將由吸附嘴8吸附的電子零件W排出時，利用噴嘴11沿水平方向吹送電子零件W，而且，投入管12使得電子零件W的·前進方向朝鉛直下方彎曲，所以，若由陶瓷等較脆材質構成的電子零件W有破裂的危險。而且，為了利用噴嘴11進行吹送，需要電磁閥的開/關動作，所以排出時間延長了相當于電磁閥動作延遲(time lag)的時間。在此，若使電子零件W自然落下，將其投入上下延伸的直線狀投入管，則發生如上所述的工件缺陷的可能性會降低，并且，也可以實現排出時間的縮短。作為如此經由排出孔自然落下式的分類裝置，已知專利文獻2所示的電子零件分類裝置。但是，如此的電子零件分類裝置是利用檢查裝置檢查電子零件的光學特性或電氣特性，根據此特性進行分類。因此，在電子零件分類裝置的工作開始時、或者檢查的電子零件的生產批次或品種變更時等情況下，為了調整該檢查裝置，需進行測試運轉。此測試運轉重復檢查預先檢查過電子零件特性的上述檢查裝置的校正用基準芯片，根據其檢查結果調整檢查裝置。如此的測試運轉通常是一天進行大約數次。然而，專利文獻2所示的電子零件分類裝置具有排出孔，所以無法為了測試運轉進行連續的循環運送。該情況下，每當進行一日數次的測試運轉時，操作員即會重復將已經通過檢查裝置且分配至特定分類容器的基準芯片再次向裝置供給的作業，測試運轉用的作業變得煩雜。曾有人考慮下列方法在專利文獻I所示的電子零件分類裝置中進行用于調整檢查裝置的測試運轉時，在排出位置保持吸附嘴8的吸引的狀態下，不進行噴嘴11的吹送，由此在分度盤2上連續循環運送電子零件W，以重復使其通過檢查裝置。然而，此時在測試運轉結束后的排出之際，也無法避免檢查裝置的校正用基準芯片破裂的危險。此外，在
技術介紹
中使用的附圖標記是在專利文獻I中使用的附圖標記。在先技術文獻專利文獻I :日本特許第4474612號特許公報專利文獻2 :日本特許第2814525號特許公報
技術實現思路
為解決上述問題點，本專利技術的目的在于提供一種，在分類運轉時使分類對象物品在運送機構的排出位置自然落下至位于下方的分配機構，或在測試運轉結束時使基準物品在運送機構的排出位置自然落下至位于下方的分配機構，降低作為工件的這些物品發生缺陷的可能性，并在測試運轉時可以連續循環運送基準物品，可利用檢查裝置重復檢查相同的基準物品。為解決上述課題，第I專利技術在物品分類裝置中采用以下結構。第1，該物品分類裝置包括運送機構，具備旋轉體和固定體，該旋轉體在外周設有分別收納物品的多個收納部，該固定體從下方支持 由該旋轉體的各收納部收納的物品，并且，該運送機構具有使物品從設于該固定體的排出部落下并排出的排出位置；檢查機構，沿該運送機構的運送路徑設置，檢查物品的特性；多個分類容器，設于該排出部的下方；以及分配機構，設于該排出部的下方，將被排出的物品根據該物品的特性分類至所需的分類容器。第2，設置排出部關閉機構，其設于該固定體的排出部，在開放時使物品落下，在關閉時阻止物品落下而使其通過該排出部。第3，在將由該運送機構所運送的物品分類至所需的分類容器的分類運轉中，開放該排出部關閉機構而使物品落下。第4，在由該運送機構循環運送物品的測試運轉中，關閉該排出部關閉機構以阻止物品落下，由此繼續進行利用該運送機構的物品的運送。第2專利技術是在第I專利技術中附加了以下結構的物品分類裝置。第I，對該運送機構供給物品的供給路徑為I個。第2，在該分類運轉中，從該供給路徑自動供給物品。第3，在該測試運轉中，停止自該供給路徑的物品的自動供給物品，并且手動供給基準物品。第3專利技術是在第I專利技術中附加了以下結構的物品分類裝置。第I，對該運送機構供給物品的供給路徑為2個。第2，在該分類運轉中，從第I供給路徑自動供給物品的同時，關閉第2供給路徑。第3，在該測試運轉中，從第2供給路徑自動供給基準物品的同時，關閉第I供給路徑。第4專利技術在物品分類裝置的運轉方法中采用下列構成。第1，該物品分類裝置包括運送機構，具備旋轉體和固定體，該旋轉體在外周設有分別收納物品的多個收納部，該固定體從下方支持由該旋轉體的各收納部收納的物品，并且，該運送機構具有使物品從設于該固定體的排出部落下并排出的排出位置；檢查機構，沿該運送機構的運送路徑設置，檢查物品的特性；多個分類容器，設于該排出部的下方；以及分配機構，設于該排出部的下方，將被排出的物品根據該物品的特性分類至所需的分類容器。第2，設置排出部關閉機構，其設于該固定體的排出部，在開放時使物品落下，在關閉時阻止物品落下而使其通過該排出部。第3，在將由該運送機構所運送的物品分類至所需的分類容器的分類運轉中，開放該排出部關閉機構而使物品落下。第4，在由該運送機構循環運送物品的測試運轉中，關閉該排出部關閉機構以阻止物品落下，由此繼續進行利用該運送機構的物品的運送。第5專利技術是在第4專利技術中附加了以下構成的物品分類裝置的運轉方法。第I，對該運送機構供給物品的供給路徑為I個。第2，在該分類運轉中，從該供給路徑自動供給物品。第3，在該測試運轉中，停止自該供給路徑的物品的自動供給的同時，手動供給基準物品。第6專利技術是在第4專利技術中附加了以下構成的物品分類裝置的運轉方法。第I，對該運送機構供給物品的供給路徑為2個。 第2，在該分類運轉中，從第I供給路徑自動供給物品的同時，關閉第2供給路徑。第3，在該測試運轉中，從第2供給路徑自動供給基準物品的同時，關閉第I供給路徑。專利技術效果第I專利技術及第4專利技術是一種，通過選擇排出部關閉機構的開放或關閉而實施的簡單方法，可輕易切換分類運轉與測試運轉。而且，在分類運轉中，僅開放排出部關閉機構使物品因自重落下，因此，可謀求降低對作為工件的物品的損害。而且，在測試運轉中，關閉排出部關閉機構以阻止物品(由于是測試運轉時，故為基準物品)落下，由此可連續地繼續運送基準物品，利用檢查裝置重復檢查同一基準物品，可使測試運轉變得容易。第2專利技術及第5專利技術中，供給路徑為I個，在分類多個物品的分類運轉中自動供給物品，在循環運送同一基準物品的測試運轉中，停止自動供給而手動供給基準物品，由此可不需要為測試運轉而去除殘存于供給路徑的物品這樣的繁雜作業。第3專利技術及第6專利技術中，設置2個供給路徑，在分類運轉與測試運轉時供給路徑不同，在分類運轉中，從第I供給路徑自動供給物品的同時，關閉第2供給路徑；在測試運轉中，從第2供給路徑自動供給基準物品的同時，關閉第I供給路徑，由此可不需要每當切換運轉就要去除殘存于供給路徑的物品的繁雜作業。附圖說明圖I是表示本專利技術的一實施例的電子零件分類裝置的概要說明圖。圖2是運送機構的俯視說明圖。圖3是表示供給位置及檢查位置的運送機構的側視說明圖。圖4是排出位置的剖面說明圖。圖5是表示供給位置處的供給方法的說明圖。圖6是表示檢查位置處的探針與LED芯片的位置關系的說明圖，(A)本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種物品分類裝置，包括：運送機構，具備旋轉體和固定體，該旋轉體在外周設有分別收納物品的多個收納部，該固定體從下方支持由該旋轉體的各收納部收納的物品，并且，該運送機構具有使物品從設于該固定體的排出部落下并排出的排出位置；檢查機構，沿該運送機構的運送路徑設置，檢查物品的特性；多個分類容器，設于該排出部的下方；以及分配機構，設于該排出部的下方，將被排出的物品根據該物品的特性分類至所需的分類容器，其特征在于，設置排出部關閉機構，其設在該固定體的排出部，在開放時使物品落下，在關閉時阻止物品落下而使其通過該排出部；在將由該運送機構運送的物品分類至所需的分類容器的分類運轉中，開放該排出部關閉機構而使物品落下；在由該運送機構循環運送物品的測試運轉中，關閉該排出部關閉機構以阻止物品落下，由此繼續進行利用該運送機構的物品的運送。

【技術特征摘要】
...

【專利技術屬性】
技術研發人員：堀俊一，
申請(專利權)人：澁谷工業株式會社，
類型：發明
國別省市：