本發明專利技術提供一種用于RCS測試的背景提取方法，包括：獲取直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號序列，計算獲取所述回波信號序列的數學期望值，所述回波信號序列的數學期望值作為RCS測試的背景散射波。本發明專利技術還提供一種用于RCS測試的背景提取裝置，包括：可旋轉二面角反射器和處理器；所述可旋轉二面角反射器用于反射雷達信號；所述處理器用于測量所述可旋轉二面角反射器的回波信號、獲取所述回波信號的數學期望值，所述回波信號的數學期望值作為RCS測試的背景散射波。本發明專利技術提供的用于RCS測試的背景提取方法和裝置，可以解決現有背景提取技術中輔助測量載體體積過大和輔助測量載體平移范圍過大導致的不便于測試。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及雷達信號處理技術，尤其是涉及一種用于雷達散射截面RCS測試的背景提取方法和裝置。
技術介紹
在隱身目標的研制過程中，需要在對目標縮比模型、全尺寸目標進行靜態或動態的測量，對所設計目標的RCS進行診斷測量和評估。RCS測試中，通常采用固定設置的支架以支撐目標，支架頂部安裝有目標轉頂以使目標旋轉。在隱身目標RCS的測試中，場地和支架背景往往是影響目標RCS測量精度的主要因素，為了提高測量精度，通常需要對測量數據采用背景相減處理等技術。因此，現有的背景提取輔助測量技術要求測試系統具有測量并提取測試場和測量支架的背景回波能力。具體來說，現有的背景提取輔助測量技術主要是在支架頂端安裝一個自身可以前后平移運動的輔助測量載體。測試時，使該載體作前后平移運動，平移的距離需要與雷達波長成正比，記錄雷達回波幅度和相位，供后續處理以提取出背景回波。但是，對于大型目標RCS測試場，由于目標轉頂的尺寸很大，而測量中需要把轉頂掩藏于載體中，因此所設計的輔助測量載體尺寸必然很大；并且還需要設計驅動裝置來驅動載體平移，這對于低頻測試來說，由于波長大，該載體需要平移的距離非常大，因此不便于測試。
技術實現思路
本專利技術提供一種用于RCS測試的背景提取方法和裝置，以解決現有背景提取輔助測量技術中輔助裝置體積過大及輔助裝置平移范圍過大導致的不便于測試的問題。本專利技術提供一種用于RCS測試的背景提取方法，包括獲取直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號序列；計算獲取所述回波信號序列的數學期望值，所述回波信號序列的數學期望值作為所述RCS測試的背景散射波。進一步地，該方法中，所述獲取直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號序列包括控制直角二面角反射器繞雷達發射方向旋轉至少一周，測量獲取直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號序列。進一步地，該方法中，所述測量獲取直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號序列包括測量獲取不同極化組合下的四種回波信號Vtt、Vvv、Vhv、Vvh，其中，Vhh為當雷達發射信號為水平極化的信號時，直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號的水平極化分量；Vvv為當雷達發射信號為垂直極化的信號時，直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號的垂直極化分量；vhv為當雷達發射信號為水平極化的信號時，直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號的垂直極化分量；Vvh為當雷達發射信號為垂直極化的信號時，直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號的水平極化分量；所述計算獲取所述回波信號序列的數學期望值，包括分別計算獲取所述Vvv, Vhv, Vvh序列的數學期望值。進一步地，該方法中，所述獲取直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號之前，還包括確定使得所述直角二面角反射器工作在光學區的直角二面角反射器的尺寸。進一步地且優選地，該方法中，所述直角二面角反射器為矩形直角二面角反射器或菱形直角二面角反射器。進一步地且優選地，該方法中，確定使得矩形直角二面角反射器工作在光學區的直角二面角反射器的尺寸，包括采用公式(I)、公式(2)和公式(3)的約束條件，確定所述矩形直角二面角反射器中各矩形的寬度w和長度h kw >> I(I)kh >> I(2)toon]權利要求1.一種用于RCS測試的背景提取方法，其特征在于，包括 獲取直角二面角反射器所反射的雷達發射信號的回波信號序列； 計算獲取所述回波信號序列的數學期望值，所述回波信號序列的數學期望值作為所述RCS測試的背景散射波。2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號序列，包括 控制直角二面角反射器繞雷達發射方向旋轉至少一周，測量獲取直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號序列。3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號序列，包括 獲取不同極化組合下的四種回波信號序列vtt、Vvv, Vhv, Vvh ； 其中，Vhh為當雷達發射信號為水平極化的信號時，直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號的水平極化分量； Vvv為當雷達發射信號為垂直極化的信號時，直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號的垂直極化分量； Vhv為當雷達發射信號為水平極化的信號時，直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號的垂直極化分量； Vvh為當雷達發射信號為垂直極化的信號時，直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號的水平極化分量； 所述計算獲取所述回波信號序列的數學期望值，包括 分別計算獲取所述Vvv, Vhv, Vvh序列的數學期望值。4.根據權利要求廣3任一所述的方法，其特征在于，所述獲取直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號序列之前，還包括 確定使得所述直角二面角反射器工作在光學區的直角二面角反射器的尺寸。5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述直角二面角反射器為矩形直角二面角反射器或菱形直角二面角反射器。6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，確定使得矩形直角二面角反射器工作在光學區的直角二面角反射器的尺寸，包括 采用公式(I)、公式(2)和公式(3)的約束條件，確定所述矩形直角二面角反射器中各矩形的覽度w和長度h kw >> I(I) kh >> I(2) 其中，k為雷達發射信號的波矢量，A為雷達發射信號的波長，Omax為所述矩形直角二面角反射器的最大RCS，T為預設值。7.一種用于RCS測試的背景提取裝置，其特征在于，包括可旋轉二面角反射器和處理器； 所述可旋轉二面角反射器，用于反射雷達信號；所述處理器，用于測量所述可旋轉二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號序列，獲取所述回波信號序列的數學期望值，所述回波信號序列的數學期望值作為所述RCS測試的背景散射波。8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述可旋轉二面角反射器，包括直角二面角反射器和控制機構； 所述控制機構包括連接桿、旋轉控制設備、支撐件以及吸波材料； 所述連接桿的一端與所述直角二面角反射器連接，所述連接桿的另一端與所述旋轉控制設備連接； 所述旋轉控制設備，用于控制所述直角二面角反射器繞雷達信號的發射方向旋轉； 所述支撐件，用于支撐所述旋轉控制設備； 所述吸波材料，用于對所述控制機構上的散射源進行遮擋。9.根據權利要求7或8所述的裝置，其特征在于，所述直角二面角反射器為菱形直角二面角反射器或矩形直角二面角反射器。10.根據權利要求9所述的裝置，其特征在于，矩形直角二面角反射器中各矩形的寬度w和長度h滿足公式(I)、公式(2 )和公式(3 )的約束條件全文摘要本專利技術提供一種用于RCS測試的背景提取方法，包括獲取直角二面角反射器反射的雷達發射信號的回波信號序列，計算獲取所述回波信號序列的數學期望值，所述回波信號序列的數學期望值作為RCS測試的背景散射波。本專利技術還提供一種用于RCS測試的背景提取裝置，包括可旋轉二面角反射器和處理器；所述可旋轉二面角反射器用于反射雷達信號；所述處理器用于測量所述可旋轉二面角反射器的回波信號、獲取所述回波信號的數學期望值，所述回波信號的數學期望值作為R本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種用于RCS測試的背景提取方法，其特征在于，包括：獲取直角二面角反射器所反射的雷達發射信號的回波信號序列；計算獲取所述回波信號序列的數學期望值，所述回波信號序列的數學期望值作為所述RCS測試的背景散射波。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：許小劍，
申請(專利權)人：北京航空航天大學，
類型：發明
國別省市：
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