金屬圓柱定標體雷達散射截面的計算方法技術

本發明專利技術提供一種金屬圓柱定標體雷達散射截面的計算方法。該方法包括：給定金屬圓柱定標體的尺寸；采用MoM數值分析，計算給定金屬圓柱定標體的第一總散射電場；利用PO公式得到給定金屬圓柱定標體的第一物理光學散射分量；根據第一總散射電場和第一物理光學散射分量，計算給定金屬圓柱定標體的第一表面波散射分量，并對其進行歸一化處理，得到第一歸一化表面波散射分量；采用CE模型對第一歸一化表面波散射分量建模，得到第一歸一化表面波散射分量與頻率的對應函數；利用PO公式得到待計算金屬圓柱定標體的第二物理光學散射分量；利用縮比原理，根據上述對應函數以及第二物理光學散射分量，計算得到待計算金屬圓柱定標體的第二總散射電場。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及雷達信號處理技術，尤其涉及一種。
技術介紹
目標雷達散射截面(Radar Cross Section,以下簡稱RCS)測量一般采用相對定標測量法，即對被測目標和一個可精確計算理論總散射電場的定標體分別進行測量，通過兩個雷達回波信號的比值，由定標體的已知總散射電場得到目標RCS的測量值。由于定標體和待測目標的接收回波功率均滿足雷達方程

【技術保護點】
一種金屬圓柱定標體雷達散射截面的計算方法，其特征在于，包括：給定金屬圓柱定標體的幾何尺寸，所述尺寸包括所述給定金屬圓柱定標體的半徑和高度；采用MoM數值分析，計算得到所述給定金屬圓柱定標體的第一總散射電場；利用PO計算公式得到所述給定金屬圓柱定標體的第一物理光學散射分量；根據所述第一總散射電場和第一物理光學散射分量，計算得到所述給定金屬圓柱定標體的第一表面波散射分量；對所述第一表面波散射分量進行歸一化處理，得到歸一化后的第一歸一化表面波散射分量；采用CE模型對所述第一歸一化表面波散射分量進行建模，以得到所述第一歸一化表面波散射分量與頻率的對應函數；利用PO計算公式得到待計算金屬圓柱定標體的第二物理光學散射分量；利用電磁理論中的縮比原理，根據所述對應函數以及第二物理光學散射分量，計算得到所述待計算金屬圓柱定標體的第二總散射電場。

【技術特征摘要】
1.一種金屬圓柱定標體雷達散射截面的計算方法，其特征在于，包括 給定金屬圓柱定標體的幾何尺寸，所述尺寸包括所述給定金屬圓柱定標體的半徑和高度； 采用MoM數值分析，計算得到所述給定金屬圓柱定標體的第一總散射電場； 利用PO計算公式得到所述給定金屬圓柱定標體的第一物理光學散射分量； 根據所述第一總散射電場和第一物理光學散射分量，計算得到所述給定金屬圓柱定標體的第一表面波散射分量； 對所述第一表面波散射分量進行歸一化處理，得到歸一化后的第一歸一化表面波散射分量; 采用CE模型對所述第一歸一化表面波散射分量進行建模，以得到所述第一歸一化表面波散射分量與頻率的對應函數； 利用PO計算公式得到待計算金屬圓柱定標體的第二物理光學散射分量； 利用電磁理論中的縮比原理，根據所述對應函數以及第二物理光學散射分量，計算得到所述待計算金屬圓柱定標體的第二總散射電場。2.根據權利要求1所述的計算方法，其特征在于，所述采用MoM數值分析，計算得到所述給定金屬圓柱定標體的第一總散射電場，包括 采用第一公式計算得到所述第一總散射電場EJf)； 其中，所述第一公式為Ee(f)=EM[)M(f)， 式中，EM(f)為所述給定金屬圓柱定標體總散射電場與頻率的對應關系表達式。3.根據權利要求2所述的計算方法，其特征在于，所述利用PO計算公式得到所述給定金屬圓柱定標體的第一物理光學散射分量，包括 采用第二公式計算得到所述第一物理光學散射分量Era(f)； 其中，所述第二公式為=式中，f為雷達頻率，k = y力波數，λ為波長，a為給定金屬圓柱定...

【專利技術屬性】
技術研發人員：許小劍，賀飛揚，謝志杰，
申請(專利權)人：北京航空航天大學，
類型：發明
國別省市：