提高將六硼化物單晶、過渡金屬碳化物單晶的(100)面用作電子發射面的場致發射電子源的放射角電流密度相對于總電流的比率，提高電流穩定性。在構成電子源的<100>軸的六硼化物單晶或過渡金屬碳化物單晶的針尖的前端形成由側部小面包圍...

本發明提供一種不僅能夠維護無需功率單元還能夠維護需要功率單元的容器保管裝置及自動分析系統。容器保管裝置包括具有規定的功能的多個機構和控制各機構的控制部，該裝置用于保管容器，其特征在于，所述機構具有維護需要供電的需要功率單元、維護不需要供...

本發明提供一種具備能夠抑制發光光譜及光量的變化、且能夠防止結露的LED光源的分析裝置。分析裝置具備：LED光源(激勵光LED(501)、熒光體(502)、LED封裝體(503))，其產生向試樣照射的光；LED安裝基板(504)，其安裝有...

本發明的目的在于提供如下技術：從自據點訪問其他據點而取得數據，僅取得必要的數據，取得包括自據點以外的半導體制造裝置的裝置群的可公開的數據。本發明的據點協作系統從配置第一計算機和第二計算機的第一據點訪問與第一據點不同的第二據點而取得第二據...

本發明提供一種生物化學分析裝置，其實現縮短從接通電源到LED光源的光量穩定為止所需的時間、抑制設置在溫度變動大的環境中的LED模塊的溫度變動以抑制LED的發光效率的變動這兩者。因此，在射出用于測量試樣的吸光度的光的生物化學分析裝置中，具...

本發明提供一種能夠推定成為重疊于檢測信號的噪聲的噪聲源的異常部分的范圍的測定裝置以及質量分析裝置。為了實現上述目的，一種測定裝置具有：測定單元，其對測定對象進行測定并輸出測定信號；檢測器，其檢測測定信號并輸出檢測信號；分析處理單元，其根...

提供能通過除害裝置適當地減少排氣氣體中的負荷氣體的晶片處理裝置。晶片處理裝置具備：晶片處理組件，其對容器供給處理用氣體，進行配置于容器內的處理對象即晶片的處理，與進行減少從容器排出的排氣氣體中的負荷氣體的除害處理的除害裝置連結；和控制裝...

本發明的目的在于提供一種能夠提高對裝置進行的作業的效率的技術。代表性的本發明的制造裝置之一包括多個要素裝置以及向所述多個要素裝置發送數據信號的控制部，所述多個要素裝置按各自的每個功能進行組劃分，所述多個要素裝置具有一個以上的組，所述一個...

為了提供一種能夠安全且低成本、容易制作的等離子處理裝置，具備：處理室，其配置在真空容器的內部，在其內側配置有處理對象的晶片，形成等離子；以及樣品臺，其配置在處理室內，在其上表面載置所述晶片，具有圓筒形，樣品臺具有：基材，其具有圓板形狀；...

在將由多個通道構成的反應用盒一體化時，為了不在盒上設置劃分通道的分隔壁、空氣吸入口便能夠降低產生交叉污染的風險，分注裝置構成為具備：多個分注機；分注裝置主體，其安裝該多個分注機，且能夠沿著溶液板的通道的方向移動，該溶液板是裝入試劑或檢體...

一種溫度控制裝置，具備：殼體；分隔板，其將殼體分隔為上部和下部；溫度控制部；以及排氣扇，其中，溫度控制部包括調溫部以及多孔板，多孔板配置在分隔板的上方，調溫部配置在分隔板的下方，在殼體的側面部且位于分隔板的上方的預定的部位設置有導入外部...

本發明的目的在于提供一種試樣分析裝置，即使發生磁鐵位置偏移，流路內的磁場也難以發生位置偏移，能夠進行高精度的分析。為此，本發明提供一種試樣分析裝置，具備：流路，其導入包括與標記物質結合的磁性粒子的試樣液；送液單元，其向所述流路內供給以及...

本發明的目的在于提供一種無需對分析裝置側的硬件結構施加大的變更，就能夠通過更簡單的操作來顯示用戶想要知道的信息的自動分析系統以及移動終端。為此，本發明的自動分析系統具有：自動分析裝置，其具有對檢體所包含的成分進行分析所需的多個單元；圖像...

為了輔助高效的電泳結果的解析，具有：熒光校正部(201)，其根據第二試樣(D002)的信號電荷數據(D012)，計算第二試樣(D002)的熒光光譜數據(D020)；顏色變換處理部(202)，其根據第三試樣(D003)的信號電荷數據(D0...

各方面涉及生成半導體制造設備的高準確度狀態預測結果。用于半導體制造設備的狀態預測設備包括：數據獲取單元，用于獲取第一處理腔室的第一操作數據和第二處理腔室的第二操作數據；特征管理單元，用于生成第一特征圖和第二特征圖；相關性計算單元，用于計...

在吸頭傳送時，由于吸頭與其他部件的摩擦或交接時的臺階，吸頭可能被卡住而導致傳送停止。因此，本發明構成一種移液器吸頭排列裝置，其特征在于具有提供所投入的吸頭的提供部，提供部包括兩塊板材、設置在板材的前端并支承吸頭的軌道、以及向具備收納吸頭...

測量設備具有：基板，其具有用于導入核酸溶液并進行分割的多個貫通孔；油，其在所述基板的第一面和所述基板的與所述第一面相反側的第二面，為了堵塞所述貫通孔而覆蓋；導熱板，其為了加熱所述基板而設置于所述第二面側；以及反射抑制機構，其抑制從所述第...

本發明的目的在于提供一種能夠與壓電元件的特性偏差無關地，通過穩定的聲壓的超聲波來攪拌試樣和試劑的自動分析裝置。為此，本發明的自動分析裝置通過驅動壓電元件而產生的超聲波來攪拌試樣和試劑，其中，驅動所述壓電元件的放大器具有：電壓檢測部，其檢...

一種自動分析裝置，其具備：分析部，其進行檢體的分析；以及處理部，其在分析之前進行檢體的預處理，在處理部設置有對其內部的空氣進行加熱或冷卻的調溫部，調溫部包括第一試劑調溫部以及第二試劑調溫部，第一試劑調溫部具有利用接觸熱傳遞進行第一試劑的...

本發明提供一種在降低空氣吸引的可能性的同時對應于多種檢體容器的自動分析裝置及其控制方法。自動分析裝置的動作循環包含：下降步驟，使探針下降到液體中，以使從容器中液體的液面到探針的前端的距離成為第一規定值；吸引步驟，吸引第一可變吸引量的液體...