本發(fā)明的自動(dòng)分析裝置(1)中，設(shè)置于自動(dòng)分析裝置(1)的風(fēng)道(140)具有引導(dǎo)部，該引導(dǎo)部對(duì)由于從進(jìn)氣口(130)到散熱器(120)之間空氣的流動(dòng)方向發(fā)生改變而相對(duì)于散熱器(120)以規(guī)定的角度流入的空氣進(jìn)行引導(dǎo)，以使其流到散熱器(12...

本公開的目的在于提供能夠提高處理的成品率的技術(shù)。等離子體處理裝置(100)的裝置(CPU107)使用表示在高頻電力的振幅大的期間(PA)和振幅小的期間(PB)中的任一期間(PA)開始后的經(jīng)過了規(guī)定的時(shí)間(TMV)后的期間(PA)中檢知到...

本發(fā)明的目的在于提供一種自動(dòng)分析裝置，其能夠更準(zhǔn)確地求出從接受分析指示到開始分析為止的預(yù)操作所需的時(shí)間。自動(dòng)分析裝置包括對(duì)樣品進(jìn)行分析的分析模塊、對(duì)所述分析模塊進(jìn)行控制的控制部以及對(duì)所述分析模塊的狀態(tài)進(jìn)行顯示的顯示部，其特征在于，所述控...

本發(fā)明提供等離子處理方法。具有使用等離子對(duì)含釕膜進(jìn)行蝕刻的第一蝕刻工序(S01)和在第一蝕刻工序后使用等離子對(duì)含釕膜進(jìn)行蝕刻的第二蝕刻工序(S02)，第二蝕刻工序具有：第一步驟(S11)，使用由含鹵素元素氣體生成的等離子在含釕膜的表面形...

縮短自動(dòng)分析裝置的操作時(shí)間，提高自動(dòng)分析裝置的便利性。因此，構(gòu)成為能夠在顯示裝置中顯示操作菜單畫面(400)、以及快捷方式畫面(600)，所述操作菜單畫面(400)顯示被分層定義的針對(duì)自動(dòng)分析裝置的操作菜單，所述快捷方式畫面(600)配...

本發(fā)明的蝕刻系統(tǒng)特征在于，具備：對(duì)晶片(104)進(jìn)行蝕刻的蝕刻裝置(103)；測定形成于被蝕刻裝置(103)蝕刻的晶片(104)的表面上的圖案的測定裝置(101)；和對(duì)蝕刻裝置(103)提供蝕刻條件的計(jì)算裝置(102)，計(jì)算裝置(102...

本發(fā)明提供一種分析裝置，輸出能夠跟蹤數(shù)據(jù)庫和日志的信息。分析裝置包括對(duì)檢體進(jìn)行分析的分析部；存儲(chǔ)部，其存儲(chǔ)數(shù)據(jù)庫(DB1～DB3)以及包含檢體ID的日志，該數(shù)據(jù)庫將與提供了檢體的患者的個(gè)人信息相關(guān)聯(lián)的檢體ID、由分析部分析的檢體的檢體信...

本發(fā)明的目的在于提供一種能夠抑制裝置的大型化、處理能力的降低，并且即使在發(fā)光量變動(dòng)的狀況下也能夠進(jìn)行可靠性高的分析的自動(dòng)分析裝置。因此，本發(fā)明的自動(dòng)分析裝置具備：容器保持部，其能夠保持多個(gè)容器，該容器收容通過檢體與試劑混合而生成的反應(yīng)液...

本發(fā)明目的在于，提供對(duì)SiGe相對(duì)于Ge以高選擇比進(jìn)行蝕刻的技術(shù)。本發(fā)明的蝕刻方法之一是將形成于晶片的表面的包含硅鍺膜和鍺膜的膜構(gòu)造當(dāng)中的硅鍺膜作為處理對(duì)象來進(jìn)行蝕刻處理的蝕刻方法，具備如下工序：在將所述晶片加熱的狀態(tài)下對(duì)所述膜構(gòu)造供給...

對(duì)于被傳送到自動(dòng)分析裝置內(nèi)的檢體，有無異常或原因能夠一目了然。自動(dòng)分析裝置包括：分析部(101)，該分析部(101)對(duì)收容在檢體容器(105)中的檢體進(jìn)行測量；顯示部(104)，該顯示部(104)顯示分析部的測量結(jié)果；傳送部(107)，...

目標(biāo)分類裝置生成表示目標(biāo)的區(qū)域信息的區(qū)域單位信息，基于從區(qū)域單位信息提取出的區(qū)域單位特征量和從輸入圖像的部分區(qū)域提取出的部分區(qū)域單位特征量來判別目標(biāo)的種類或狀態(tài)從而對(duì)目標(biāo)進(jìn)行分類，并向用戶提示目標(biāo)的分類結(jié)果。由此，即使在圖像內(nèi)混合存在具...

本發(fā)明提供一種物性信息檢索系統(tǒng)、物性信息檢索方法以及存儲(chǔ)介質(zhì)，容易收集為了決定測定條件以及解釋測定數(shù)據(jù)而參照的、與過去測定的物質(zhì)的測定相關(guān)的信息。物質(zhì)信息數(shù)據(jù)庫保存將確定物質(zhì)的物質(zhì)確定信息與至少一個(gè)測定記錄信息對(duì)應(yīng)起來的物性事例信息，其...

通過測長用圖像變換模型將拍攝了試樣的測量對(duì)象拍攝圖像變換為測量對(duì)象測長用圖像，對(duì)測量對(duì)象測長用圖像中包含的測量圖案像的尺寸進(jìn)行測量。在此，測長用圖像變換模型使用作為拍攝了試樣的學(xué)習(xí)用拍攝圖像和與該學(xué)習(xí)用拍攝圖像對(duì)應(yīng)的學(xué)習(xí)用測長用圖像的組...

本發(fā)明提供一種自動(dòng)分析裝置，其具備：圖像取得部(203)，其取得檢體容器(105)的圖像；確定部(204)，其根據(jù)從檢體容器(105)的開口部到檢體液面的距離信息以及圖像來確定檢體容器(105)的類別或者直徑的信息；存儲(chǔ)部(205)，其...

本發(fā)明提供一種能夠提高離子分布的再現(xiàn)性的離子研磨裝置。離子研磨裝置具有：離子源(1)；試樣臺(tái)(2)，其載置通過照射來自離子源(1)的非聚焦離子束而被加工的試樣(4)；以及驅(qū)動(dòng)單元(8)，其配置在離子源(1)與試樣臺(tái)(2)之間，使在第一方...

具備：顯示部(14)，其顯示與部件管理系統(tǒng)(1)有關(guān)的信息；自動(dòng)分析裝置存儲(chǔ)部(23)，其針對(duì)多個(gè)分析用設(shè)備(25)中的各個(gè)分析用設(shè)備(25)，將相應(yīng)的分析用設(shè)備(25)的ID與表示分析用設(shè)備(25)的狀態(tài)的狀態(tài)信息關(guān)聯(lián)起來進(jìn)行存儲(chǔ)；輸...

本公開的目的在于，在把持對(duì)象物的把持裝置中，提供除了把持動(dòng)作之外還能夠?qū)嵤┒喾N作業(yè)的通用性。本公開所涉及的把持裝置具備從臂部延伸的第一部件和第二部件，上述第一部件和上述第二部件構(gòu)成為夾入并把持對(duì)象物，上述第一部件的剛性比上述第二部件的剛...

提供能夠提高通信性能、運(yùn)算性能、另外能夠應(yīng)對(duì)數(shù)據(jù)容量的增大的通信控制裝置以及控制用通信系統(tǒng)。為此，設(shè)置有：運(yùn)算部，對(duì)控制數(shù)據(jù)進(jìn)行處理；通信部，發(fā)送包含控制數(shù)據(jù)的分組；數(shù)據(jù)存儲(chǔ)部，具有排他控制功能。運(yùn)算部將構(gòu)成控制數(shù)據(jù)的兩個(gè)以上的部分?jǐn)?shù)據(jù)...

本發(fā)明的目的在于提供一種即使不進(jìn)行專門的作業(yè)也能夠確認(rèn)光學(xué)性能的毛細(xì)管電泳裝置及其光學(xué)性能診斷方法。為此，本發(fā)明的毛細(xì)管電泳裝置包括：由多個(gè)毛細(xì)管構(gòu)成的毛細(xì)管陣列；使激光振蕩的光源；檢測向所述毛細(xì)管陣列照射激光時(shí)發(fā)出的光的檢測器；以及基...

本發(fā)明提供基因檢查方法以及基因檢查裝置。基因檢查裝置(1)還具有：運(yùn)算部(2d)，其在投入了檢體的時(shí)刻加上與檢體的優(yōu)先級(jí)對(duì)應(yīng)的可待機(jī)時(shí)間，計(jì)算到針對(duì)檢體的分注結(jié)束為止的目標(biāo)時(shí)刻，控制部(2c)按照目標(biāo)時(shí)刻的順序進(jìn)行檢體的分注處理。由此，...