物料的檢測裝置及色選機制造方法及圖紙

本實用新型專利技術公開了一種物料的檢測裝置及色選機。物料的檢測裝置包括偏振光發(fā)生器，所述偏振光發(fā)生器用于產生偏振光并照射至所述物料；采集模塊，所述采集模塊用于采集所述物料的反射光并根據(jù)所述反射光形成所述物料的圖像；及與所述采集模塊連接的處理模塊，所述處理模塊用于根據(jù)所述圖像識別所述物料。上述的物料的檢測裝置中，利用偏振光對物料進行識別，若物料為具有鏡面表面的物料，其反射光仍為偏振光。若物料為具有漫反射表面的物料，其反射光為非偏振光。由此，根據(jù)偏振光和非偏振光所形成的圖像可識別出相應的物料，進而提高了物料的識別率。

【技術實現(xiàn)步驟摘要】


本專利技術涉及物料分選設備領域，尤其涉及一種物料的檢測裝置及一種色選機。

技術介紹

目前的物料分選設備在分選物料表面具有鏡面反射特征的物料和物料表面具有漫反射特征的物料的時候，難以區(qū)分物料表面具有鏡面反射特征的物料和物料表面具有漫反射特征的物料，因此，目前的物料分選設備對于以上兩種物料的識別率較低。

技術實現(xiàn)思路

本專利技術旨在至少解決現(xiàn)有技術中存在的技術問題之一。為此，本專利技術提供一種物料的檢測裝置及一種色選機。
本專利技術實施方式的物料的檢測裝置包括偏振光發(fā)生器、采集模塊及處理模塊。
所述偏振光發(fā)生器用于產生偏振光并照射至所述物料；所述采集模塊用于采集所述物料的反射光并根據(jù)所述反射光形成所述物料的圖像；所述處理模塊連接所述采集模塊并用于根據(jù)所述圖像識別所述物料。
在某些實施方式中，所述偏振光發(fā)生器包括光源及設置于所述光源的出光方向上的線起偏器。
在某些實施方式中，所述采集模塊包括分光單元、第一檢偏器、第一傳感器、第二檢偏器及第二傳感器。
所述分光單元設置在所述反射光的光路上并用于對所述反射光進行分光以分別形成第一圖像光及第二圖像光。
所述第一檢偏器及所述第一傳感器沿所述第一圖像光的光路依次設置，所述第一傳感器用于采集經所述第一檢偏器出射的所述第一圖像光以形成第一子圖像。
所述第二檢偏器及所述第二傳感器沿所述第二圖像光的光路依次設置，所述第二傳感器用于采集經所述第二檢偏器出射的所述第二圖像光以形成第二子圖像。
所述第一檢偏器及所述第二檢偏器中的其中一個檢偏器的偏振化方向與所述偏振光的偏振方向相同，另一個檢偏器的偏振化方向與所述偏振光的偏振方向垂直。
所述處理模塊連接所述第一傳感器及所述第二傳感器并用于處理所述第一子圖像及所述第二子圖像以形成所述圖像。
在某些實施方式中，所述檢測裝置包括與所述處理模塊連接的剔除模塊，所述處理模塊用于判斷識別出的所述物料與預設物料是否匹配并在識別出的所述物料與所述預設物料匹配時控制所述剔除模塊剔除所述物料。
在某些實施方式中，所述物料為球狀物料，所述偏振光發(fā)生器的數(shù)目為多個，多個所述偏振光發(fā)生器環(huán)繞所述球形物料排布。
在某些實施方式中，所述偏振光發(fā)生器的出光方向與所述反射光的方向之間的最大夾角大于或等于40度。
在某些實施方式中，所述物料為片狀物料，所述片狀物料包括反射面，所述偏振光發(fā)生器的數(shù)目為多個，一個所述偏振光發(fā)生器的出光方向與所述采集模塊采集所述反射光的方向沿所述反射面的法線對稱設置，相鄰兩個所述偏振光發(fā)生器的出光方向之間的夾角為5~10度。
本專利技術實施方式的色選機包括上述的物料的檢測裝置。
本專利技術的附加方面和優(yōu)點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本專利技術的實踐了解到。
附圖說明
本專利技術的上述和/或附加的方面和優(yōu)點從結合下面附圖對實施方式的描述中將變得明顯和容易理解，其中：
圖1是本專利技術實施方式1的物料的檢測方法的流程示意圖。
圖2是本專利技術實施方式1的物料的檢測方法的另一流程示意圖。
圖3是本專利技術實施方式1的物料的檢測裝置的模塊示意圖。
圖4是本專利技術實施方式1的色選機的結構示意圖。
圖5是本專利技術實施方式2的色選機的結構示意圖。
圖6是本專利技術實施方式3的色選機的結構示意圖。
具體實施方式
下面詳細描述本專利技術的實施方式，所述實施方式的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施方式是示例性的，僅用于解釋本專利技術，而不能理解為對本專利技術的限制。
為了方便說明，下文將物料具有鏡面表面的物料可稱為鏡面物料，將物料具有漫反射表面的物料可稱為漫反射物料，但不能理解為對本專利技術的限制。
實施方式1：
請參閱圖1，本專利技術實施方式的物料的檢測方法包括以下步驟：
步驟S1，產生偏振光并照射至物料；
步驟S2，采集物料的反射光并根據(jù)反射光形成物料的圖像；及
步驟S3，根據(jù)物料的圖像識別物料。
上述的物料的檢測方法中，利用偏振光對物料進行識別，若物料為具有鏡面表面的物料，其反射光仍為偏振光。若物料為具有漫反射表面的物料，其反射光為非偏振光。由此，根據(jù)偏振光和非偏振光所形成的圖像可識別出相應的物料，進而提高了物料的識別率。
具體地，在步驟S2中，采集物料的反射光后，將反射光的光信號轉換為電信號，然后根據(jù)電信號形成物料的圖像。
若反射光為偏振光，則采集到的電信號的強度較強；若反射光為非偏振光，則采集到的電信號較弱，而根據(jù)電信號的強弱所形成的圖像存在差異，由此可識別出相應的物料。
本實施方式中，偏振光為線偏振光。
線偏振光易于形成且易于檢測，因此，線偏振光能夠進一步提高物料的識別率及降低成本。
請參閱圖2，在本實施方式中，步驟S2包括：
步驟S21，對反射光進行分光以分別形成第一圖像光及第二圖像光；
步驟S22，采集第一圖像光以形成第一子圖像，及采集第二圖像光以形成第二子圖像；及
步驟S23，處理第一子圖像及第二子圖像以形成圖像。
如此，通過兩源信道將根據(jù)線偏振光及非線偏振光形成的圖像區(qū)分，能夠明顯增強根據(jù)偏振光及非偏振光形成的圖像之間的差異，可提高物料的識別率。
具體地，在步驟S21中，可對反射光進行反射及折射以對反射光進行分光，從而分別得到第一圖像光及第二圖像光。
若反射光為偏振光，反射光分光后分別得到的第一圖像光及第二圖像光仍為偏振光。若反射光為非偏振光，反射光分光后分別得到的第一圖像光及第二圖像光仍為非偏振光。
在步驟S22中，采集第一圖像光及第二圖像光后，可使用檢偏器對第一圖像光及第二圖像光進行處理。
例如，可使在第一圖像光的光路上的檢偏器的偏振化方向與線偏振光的偏振方向平行，而在第二圖像光的光路上的檢偏器的偏振化方向與線偏振光的偏振方向垂直。
也就是說，若物料的反射光為線偏振光，則只能在第一圖像光的光路上采集根據(jù)反射光形成的物料的圖像。若物料的反射光為非線偏振光，則在第一圖像光的光路上及第二圖像光的光路上均能采集根據(jù)反射光形成物料的圖像。如此，可分別獲取根據(jù)線偏振光及非線偏振光形成的物料的圖像以進行識別。
假設第一圖像和第二圖像為黑白傳感器采集的信號，所述第一圖像的檢偏器偏振方向為與所述偏振光偏振方向相同，第二圖像的檢偏器偏振方向與所述偏振光偏振方向垂直。第一圖像定義為R值，第二圖像定義為G值，所形成的圖像為R、G的假彩色圖像。
若反射光為偏振光，則采集到的R值強度比G值強；若反射光為非偏振光，則采集到的R值強度與G值相當，根據(jù)R、G值的強弱可識別出相應的物料。
在步驟S23中，可通過圖像融合技術處理將第一子圖像及第二子圖像融合，從而形成高質量的物料的圖像，獲得高分辨率的物料圖像，能夠明顯增強根據(jù)線偏振光及非線偏振光形成的圖像的差異，進而提高了物料的識別率。
請參閱圖1，本實施方式中，物料的檢測方法還包括以下步驟：
步驟S4，判斷識別出的物料與預設物料是否匹配；若是，進入步驟S5，若否，進入步驟S6；
步驟S5，剔除物料；
步驟S6，保留物料。
如此，可根據(jù)需求將物料中的異樣物料剔除，從而得到需要保留的物料。
例如，預設物料可為鏡面物料，在識別出的物料為鏡面物本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種物料的檢測裝置，其特征在于，包括：偏振光發(fā)生器，所述偏振光發(fā)生器用于產生偏振光并照射至所述物料；采集模塊，所述采集模塊用于采集所述物料的反射光并根據(jù)所述反射光形成所述物料的圖像；及與所述采集模塊連接的處理模塊，所述處理模塊用于根據(jù)所述圖像識別所述物料。

【技術特征摘要】
1.一種物料的檢測裝置，其特征在于，包括：
偏振光發(fā)生器，所述偏振光發(fā)生器用于產生偏振光并照射至所述物料；
采集模塊，所述采集模塊用于采集所述物料的反射光并根據(jù)所述反射光形成所述物料的圖像；及
與所述采集模塊連接的處理模塊，所述處理模塊用于根據(jù)所述圖像識別所述物料。
2.如權利要求1所述的物料的檢測裝置，其特征在于，所述偏振光發(fā)生器包括光源及設置于所述光源的出光方向上的線起偏器。
3.如權利要求2所述的物料的檢測裝置，其特征在于，所述采集模塊包括：
設置在所述反射光的光路上的分光單元，所述分光單元用于對所述反射光進行分光以分別形成第一圖像光及第二圖像光；
沿所述第一圖像光的光路依次設置的第一檢偏器及第一傳感器，所述第一傳感器用于采集經所述第一檢偏器出射的所述第一圖像光以形成第一子圖像；及
沿所述第二圖像光的光路依次設置的第二檢偏器及第二傳感器，所述第二傳感器用于采集經所述第二檢偏器出射的所述第二圖像光以形成第二子圖像；
所述第一檢偏器及所述第二檢偏器中的其中一個檢偏器的偏振化方向與所述偏振光的偏振方向相同，另一個檢偏器的偏振化方向與所述偏振光的偏...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：李廣，常宏，李凱，陶俊，
申請(專利權)人：合肥美亞光電技術股份有限公司，
類型：新型
國別省市：安徽;34