閃爍校正方法和閃爍校正設備技術

本發明專利技術公開了閃爍校正方法和閃爍校正設備。根據本發明專利技術的閃爍校正方法包括：將輸入圖像幀序列中的待校正圖像沿行的方向從行的開始到行的結束劃分為多個大小相同的塊，每個塊包括所述待校正圖像的若干連續的列；生成每個塊的每一行的平均像素值構成的行均值向量；計算包括當前待校正圖像的連續的3t幀的對應待校正圖像的對應塊的所述行均值向量的均值向量，作為當前待校正圖像的該對應塊的幀均值向量，其中t為正整數；將每個塊的行均值向量與該塊的幀均值向量的對應元素相除，所獲得的商構成的向量作為該塊的粗校正參數向量，該向量的每個元素是該塊的對應行的各個像素共同的粗校正參數；以及根據每個像素的所述粗校正參數，獲得該像素的校正值。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術一般地涉及視頻處理領域。具體而言，本專利技術涉及一種能夠校正圖像幀序列中的閃爍的閃爍校正方法和閃爍校正設備。
技術介紹
近年來，CMOS圖像傳感器廣泛地應用于各種圖像捕獲設備，如數碼相機、數字攝像機、移動電話等。由于在光電轉換過程中，每一個像素或每一行像素的光電轉換時刻不一致，所以捕獲圖像中會存在亮暗的水平條帶，尤其是在熒光燈照明或者亮度周期性變化的其他照明條件下進行圖像捕獲的情況下。這種因照明光存在周期性變化而導致的捕獲圖像中的水平條帶被稱作閃爍(flicker)。傳統的閃爍校正技術的計算復雜度高，效果一般，實時性不好。因此，期望一種閃爍校正方法和閃爍校正設備，其能夠以較低的計算復雜度，較好地、實時地校正圖像幀序列中的閃爍。
技術實現思路
在下文中給出了關于本專利技術的簡要概述，以便提供關于本專利技術的某些方面的基本理解。應當理解，這個概述并不是關于本專利技術的窮舉性概述。它并不是意圖確定本專利技術的關鍵或重要部分，也不是意圖限定本專利技術的范圍。其目的僅僅是以簡化的形式給出某些概念，以此作為稍后論述的更詳細描述的前序。本專利技術的目的是針對現有技術的上述問題，提出了一種能夠以優異性能校正閃爍的方法和設備。為了實現上述目的，根據本專利技術的一個方面，提供了一種閃爍校正方法，該閃爍校正方法包括：將輸入圖像幀序列中的待校正圖像沿行的方向從行的開始到行的結束劃分為多個大小相同的塊，每個塊包括所述待校正圖像的若干連續的列；生成每個塊的每一行的平均像素值構成的行均值向量；計算包括當前待校正圖像的連續的3t幀的對應待校正圖像的對應塊的所述行均值向量的均值向量，作為當前待校正圖像的該對應塊的幀均值向量，其中t為正整數；將每個塊的行均值向量與該塊的幀均值向量的對應元素相除，所獲得的商構成的向量作為該塊的粗校正參數向量，該向量的每個元素是該塊的對應行的各個像素共同的粗校正參數；以及根據每個像素的所述粗校正參數，獲得該像素的校正值。根據本專利技術的另一個方面，提供了一種閃爍校正設備，該閃爍校正設備包括：塊劃分裝置，被配置為：將輸入圖像幀序列中的待校正圖像沿行的方向從行的開始到行的結束劃分為多個大小相同的塊，每個塊包括所述待校正圖像的若干連續的列；行均值向量生成裝置，被配置為：生成每個塊的每一行的平均像素值構成的行均值向量；均值向量計算裝置，被配置為：計算包括當前待校正圖像的連續的3t幀的對應待校正圖像的對應塊的所述行均值向量的均值向量，作為當前待校正圖像的該對應塊的幀均值向量，其中t為正整數；粗校正參數生成裝置，被配置為：將每個塊的行均值向量與該塊的幀均值向量的對應元素相除，所獲得的商構成的向量作為該塊的粗校正參數向量，該向量的每個元素是該塊的對應行的各個像素共同的粗校正參數；以及校正值生成裝置，被配置為：根據每個像素的所述粗校正參數，獲得該像素的校正值。另外，根據本專利技術的另一方面，還提供了一種存儲介質。所述存儲介質包括機器可讀的程序代碼，當在信息處理設備上執行所述程序代碼時，所述程序代碼使得所述信息處理設備執行根據本專利技術的上述方法。此外，根據本專利技術的再一方面，還提供了一種程序產品。所述程序產品包括機器可執行的指令，當在信息處理設備上執行所述指令時，所述指令使得所述信息處理設備執行根據本專利技術的上述方法。附圖說明參照下面結合附圖對本專利技術實施例的說明，會更加容易地理解本專利技術的以上和其它目的、特點和優點。附圖中的部件只是為了示出本專利技術的原理。在附圖中，相同的或類似的技術特征或部件將采用相同或類似的附圖標記來表示。附圖中：圖1示出了根據本專利技術的第一實施例的閃爍校正方法的流程圖；圖2示出了根據本專利技術的第二實施例的閃爍校正方法的流程圖；圖3示出了根據本專利技術的第三實施例的閃爍校正方法的流程圖；圖4示出了根據本專利技術實施例的閃爍校正設備的結構方框圖；以及圖5示出了可用于實施根據本專利技術實施例的方法和設備的計算機的示意性框圖。具體實施方式在下文中將結合附圖對本專利技術的示范性實施例進行詳細描述。為了清楚和簡明起見，在說明書中并未描述實際實施方式的所有特征。然而，應該了解，在開發任何這種實際實施方式的過程中必須做出很多特定于實施方式的決定，以便實現開發人員的具體目標，例如，符合與系統及業務相關的那些限制條件，并且這些限制條件可能會隨著實施方式的不同而有所改變。此外，還應該了解，雖然開發工作有可能是非常復雜和費時的，但對得益于本公開內容的本領域技術人員來說，這種開發工作僅僅是例行的任務。在此，還需要說明的一點是，為了避免因不必要的細節而模糊了本發明，在附圖中僅僅示出了與根據本專利技術的方案密切相關的裝置結構和/或處理步驟，而省略了與本專利技術關系不大的其他細節。另外，還需要指出的是，在本專利技術的一個附圖或一種實施方式中描述的元素和特征可以與一個或更多個其它附圖或實施方式中示出的元素和特征相結合。下面將參照圖1描述根據本專利技術的第一實施例的閃爍校正方法的流程。圖1示出了根據本專利技術的第一實施例的閃爍校正方法的流程圖。如圖1所示，根據本專利技術的第一實施例的閃爍校正方法包括如下步驟：將輸入圖像幀序列中的待校正圖像沿行的方向從行的開始到行的結束劃分為多個大小相同的塊，每個塊包括所述待校正圖像的若干連續的列(步驟S1)；生成每個塊的每一行的平均像素值構成的行均值向量(步驟S2)；計算包括當前待校正圖像的連續的3t幀的對應待校正圖像的對應塊的所述行均值向量的均值向量，作為當前待校正圖像的該對應塊的幀均值向量，其中t為正整數(步驟S3)；將每個塊的行均值向量與該塊的幀均值向量的對應元素相除，所獲得的商構成的向量作為該塊的粗校正參數向量，該向量的每個元素是該塊的對應行的各個像素共同的粗校正參數(步驟S4)；以及根據每個像素的所述粗校正參數，獲得該像素的校正值(步驟S5)。本專利技術處理的對象是視頻，即圖像幀構成的幀序列，每一幀即為一幅圖像。視頻可以是彩色視頻，也可以是灰度視頻。相應地，幀圖像可以是彩色圖像，也可以是灰度圖像。如果待處理的圖像幀序列包括的是灰度圖像，則待校正的圖像是灰度圖像本身。如果待處理的圖像幀序列包括的是彩色圖像，則待校正的圖像是彩色圖像的R分量圖、G分量圖、B分量圖。在步驟S1中，將待校正圖像進行劃分。劃分的方式為將待校正圖像沿行的方向從行的開始到行的結束劃分為多個大小相同的塊，每個塊包括所述待校正圖像的若干連本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種閃爍校正設備，包括：塊劃分裝置，被配置為：將輸入圖像幀序列中的待校正圖像沿行的方向從行的開始到行的結束劃分為多個大小相同的塊，每個塊包括所述待校正圖像的若干連續的列；行均值向量生成裝置，被配置為：生成每個塊的每一行的平均像素值構成的行均值向量；均值向量計算裝置，被配置為：計算包括當前待校正圖像的連續的3t幀的對應待校正圖像的對應塊的所述行均值向量的均值向量，作為當前待校正圖像的該對應塊的幀均值向量，其中t為正整數；粗校正參數生成裝置，被配置為：將每個塊的行均值向量與該塊的幀均值向量的對應元素相除，所獲得的商構成的向量作為該塊的粗校正參數向量，該向量的每個元素是該塊的對應行的各個像素共同的粗校正參數；以及校正值生成裝置，被配置為：根據每個像素的所述粗校正參數，獲得該像素的校正值。

【技術特征摘要】
1.一種閃爍校正設備，包括：
塊劃分裝置，被配置為：將輸入圖像幀序列中的待校正圖像沿行的方
向從行的開始到行的結束劃分為多個大小相同的塊，每個塊包括所述待校
正圖像的若干連續的列；
行均值向量生成裝置，被配置為：生成每個塊的每一行的平均像素值
構成的行均值向量；
均值向量計算裝置，被配置為：計算包括當前待校正圖像的連續的
3t幀的對應待校正圖像的對應塊的所述行均值向量的均值向量，作為當前
待校正圖像的該對應塊的幀均值向量，其中t為正整數；
粗校正參數生成裝置，被配置為：將每個塊的行均值向量與該塊的幀
均值向量的對應元素相除，所獲得的商構成的向量作為該塊的粗校正參數
向量，該向量的每個元素是該塊的對應行的各個像素共同的粗校正參數；
以及
校正值生成裝置，被配置為：根據每個像素的所述粗校正參數，獲得
該像素的校正值。
2.如權利要求1所述的閃爍校正設備，其中，相鄰的兩個塊之間重
合預定數量的列。
3.如權利要求2所述的閃爍校正設備，其中所述校正值生成裝置被
進一步配置為：
對于兩塊重合部分的像素，將該像素的像素值除以該像素所在行的該
兩個塊的粗校正參數的均值，所獲得的商作為該像素的校正值；
對于不重合部分的像素，將該像素的像素值除以該像素所在塊的所在
行的粗校正參數，所獲得的商作為該像素的校正值。
4.如權利要求2所述的閃爍校正設備，還包括：
精細校正參數生成裝置，被配置為：利用低通濾波，根據所述粗校正
參數，得到精細校正參數；
所述校正值生成裝置被配置為：根據每個像素的精細校正參數，獲得
該像素的校正值。
5.如權利要求4所述的閃爍校正設備，其中所述精細校正參數生成

\t裝置包括：
強低通濾波器，用于對所述粗校正參數進行濾波，以得到強濾波結果；
弱低通濾波器，用于對所述粗校正參數進行濾波，以得到弱濾波結果；
無運動精細校正參數生成單元，配置為：
在粗校正參數與強濾波結果的差異較小的情況下，生成等于粗校
正參數加上弱濾波結果與強濾波結果之差的無運動精細校正參數，作為所
述精細校正參數；
在粗校正參數與強濾波結果的差異較大的情況下，生成等于弱濾
波結果的無運動精細校正參數，作為所述精細校正參數。
6.如權利要求5所述的閃爍校正設備，還包括：運動...

【專利技術屬性】
技術研發人員：伍健榮，
申請(專利權)人：富士通株式會社，
類型：發明
國別省市：日本;JP