雷達散射截面近場到近場的變換方法技術

本發明專利技術提供一種雷達散射截面近場到近場的變換方法，包括：測量獲取雷達目標在第一距離的第一近場散射數據；對所述第一近場散射數據進行預處理，獲取第一近場預處理數據；根據所述第一近場預處理數據，獲取所述雷達目標在第二距離的第二近場預處理數據；根據所述第二近場預處理數據，獲取所述雷達目標在所述第二距離的第二近場散射數據，以實現從已測得的某一距離的近場散射數據獲得該目標在近場范圍內任意距離下的散射數據，從而獲得該目標在近場范圍內任意距離下的RCS數據，降低測試成本，從而便于研究待測目標散射特性隨距離的變化。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及雷達信號處理技術，尤其涉及一種。
技術介紹
雷達散射截面(Radar Cross Section，簡稱RCS)測 量技術是研究目標雷達散射特性的重要手段之一，RCS與雷達發射信號的波長λ、待測目標的形狀與材質，以及待測目標的所在位置有關。RCS的核心數據為散射數據，獲取待測目標的RCS，即測量其散射數據，再通過公式計算得到RCS。但直接測量散射數據的成本較高，目前，一般可以采用基于圖像的近場-遠場變換(Image-Based Near Field-to-Far Field Transformation,簡稱IBNFFFT)技術，通過待測目標在某一位置的近場散射數據得到遠場散射數據，進而獲得待測目標的遠場RCS。IB NFFFT技術針對自身高度較小、在俯仰面上滿足遠場條件的目標，建立二維多散射中心模型，應用物理光學(Physical Optics,簡稱P0)理論中的單雙站等效定理與柱面波函數的展開，給出了單站圓周掃描模式下的近遠場變換關系式。但是，NFFFT實現的是基于圖像的近場到遠場RCS的變換，即給定近場RCS測量數據，可以得到目標的遠場RCS數據，但無法從已測得的近場RCS推導出不同距離下的其它近場RCS數據。
技術實現思路
本專利技術提供一種，以實現基于圖像的近場到近場的變換(Imaged-Based Near Field-to-Near Field Transformation,簡稱IBNFNFT) ο本專利技術提供一種，包括測量獲取雷達目標在第一距離的第一近場散射數據；對所述第一近場散射數據進行預處理，獲取第一近場預處理數據；根據所述第一近場預處理數據，獲取所述雷達目標在第二距離的第二近場預處理數據；根據所述第二近場預處理數據，獲取所述雷達目標在所述第二距離的第二近場散射數據。進一步地，該方法中，所述對所述第一近場散射數據進行預處理，獲取第一近場預處理數據，包括對所述第一近場散射數據進行兩次傅里葉變換和一次加權處理，獲取所述第一近場預處理數據。進一步地，該方法中，所述對所述第一近場散射數據進行兩次傅里葉變換和一次加權處理，獲取所述第一近場預處理數據，包括采用公式(I)表示所述第一近場散射數據u (k, Φ) Γ JlkR W(々,φ) = ——TJJγ(P\φ') -T- p'dp'd4'( I ) \ 冗、--其中，該公式各參量是在以雷達目標的掃描中心為原點所在的極坐標下測得，k為雷達發射信號的波矢量，Φ為雷達所在位置的角度坐標，u(k, Φ)為雷達目標在第一距離的第一近場散射數據，(P '，Φ ')為雷達目標任意一點的坐標，T (P '，φ ')為雷達目標的散射分布函數，R為雷達距離雷達目標上任意一點(P '，Φ ')的距離；采用公式(2)獲取所述第一近場預處理數據權利要求1.一種，其特征在于，包括 測量獲取雷達目標在第一距離的第一近場散射數據； 對所述第一近場散射數據進行預處理，獲取第一近場預處理數據； 根據所述第一近場預處理數據，獲取所述雷達目標在第二距離的第二近場預處理數據； 根據所述第二近場預處理數據，獲取所述雷達目標在所述第二距離的第二近場散射數據。2.根據權利要求I所述的方法，其特征在于，所述對所述第一近場散射數據進行預處理，獲取第一近場預處理數據，包括 對所述第一近場散射數據進行兩次傅里葉變換和一次加權處理，獲取所述第一近場預處理數據。3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述對所述第一近場散射數據進行兩次傅里葉變換和一次加權處理，獲取所述第一近場預處理數據，包括 采用公式(I)表示所述第一近場散射數據u(k，Φ)4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一近場預處理數據，獲取所述雷達目標在第二距離的第二近場預處理數據，包括 采用公式(3)獲取所述第二近場預處理數據5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據所述第二近場預處理數據，獲取所述雷達目標在所述第二距離的第二近場散射數據，包括 對所述第二近場預處理數據進行兩次傅里葉變換和一次加權處理，獲取所述第二近場散射數據。6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述對所述第二近場預處理數據進行兩次傅里葉變換和一次加權處理，獲取所述第二近場散射數據，包括 采用公式(4)獲取所述第二近場散射數據7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，根據所述第二近場預處理數據，獲取所述雷達目標在所述第二距離的第二近場散射數據之后，還包括 采用公式(5)獲取所述第二近場RCS數據全文摘要本專利技術提供一種，包括測量獲取雷達目標在第一距離的第一近場散射數據；對所述第一近場散射數據進行預處理，獲取第一近場預處理數據；根據所述第一近場預處理數據，獲取所述雷達目標在第二距離的第二近場預處理數據；根據所述第二近場預處理數據，獲取所述雷達目標在所述第二距離的第二近場散射數據，以實現從已測得的某一距離的近場散射數據獲得該目標在近場范圍內任意距離下的散射數據，從而獲得該目標在近場范圍內任意距離下的RCS數據，降低測試成本，從而便于研究待測目標散射特性隨距離的變化。文檔編號G01S7/41GK102944872SQ20121048465公開日2013年2月27日 申請日期2012年11月23日 優先權日2012年11月23日專利技術者孫雙鎖, 許小劍 申請人:北京航空航天大學本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種雷達散射截面近場到近場的變換方法，其特征在于，包括：測量獲取雷達目標在第一距離的第一近場散射數據；對所述第一近場散射數據進行預處理，獲取第一近場預處理數據；根據所述第一近場預處理數據，獲取所述雷達目標在第二距離的第二近場預處理數據；根據所述第二近場預處理數據，獲取所述雷達目標在所述第二距離的第二近場散射數據。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：孫雙鎖，許小劍，
申請(專利權)人：北京航空航天大學，
類型：發明
國別省市：