一種邊角落下測(cè)試治具，包含一基座、二支撐柱與一定位件。基座的放置面設(shè)有二插設(shè)孔。此二支撐柱分別插設(shè)于此二插設(shè)孔內(nèi)，可分別支撐電子產(chǎn)品的二相鄰側(cè)面，以讓電子產(chǎn)品二相鄰側(cè)面之間的邊角通過此二支撐柱之間以于落下后，撞擊一待撞擊平臺(tái)。定位件配置于放置面上，并限位電子產(chǎn)品于定位件與放置板之間。由于本實(shí)用新型專利技術(shù)的放置面所配置的此些第二插設(shè)孔的排列方向，使得第二支撐柱選擇地插設(shè)于任一第二插設(shè)孔內(nèi)時(shí)，都可改變電子產(chǎn)品的另一側(cè)面與放置面的下側(cè)側(cè)邊之間的夾角，進(jìn)而提供電子產(chǎn)品的邊角進(jìn)行落地測(cè)試的變數(shù)選擇。（*該技術(shù)在2022年保護(hù)過期，可自由使用*）
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)關(guān)于一種測(cè)試治具，特別關(guān)于一種邊角落下測(cè)試治具。
技術(shù)介紹
制造業(yè)廠商為了確保電子產(chǎn)品(如筆記型電腦、平板電腦或智慧型手機(jī)等)的穩(wěn)定度及耐用度，通常都會(huì)在電子產(chǎn)品出廠前，進(jìn)行落下測(cè)試(Drop Test)，以驗(yàn)證電子產(chǎn)品在各種不同操作環(huán)境下或運(yùn)送過程中能維持應(yīng)有的品質(zhì)。甚至，為了確保電子產(chǎn)品落下時(shí) 即便由其最脆弱的邊角撞擊地面后，仍保有電子產(chǎn)品基本的物理強(qiáng)度及耐用度，因此，讓電子產(chǎn)品自由落體的落摔并刻意由電子產(chǎn)品各邊角落下的測(cè)試(corner drop test)是有必要的。一般而言，測(cè)試人員大部分均直接使電子產(chǎn)品的邊角朝下，且以自由落體的方式讓電子產(chǎn)品的邊角撞擊地面。然而，這樣的落下測(cè)試方法不夠精確，無法精準(zhǔn)地涵蓋電子產(chǎn)品本身被定出的測(cè)試環(huán)境與落下角度，例如無法刻意讓電子產(chǎn)品的邊角處與地面保有一特定夾角時(shí)進(jìn)行落地測(cè)試。綜上所述，在現(xiàn)有電子產(chǎn)品的邊角落下測(cè)試(corner drop test)中，仍存在著部分困難以待克服。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本技術(shù)提供一種邊角落下測(cè)試治具，用以提供良好的落下測(cè)試環(huán)境以及讓電子產(chǎn)品的邊角具有精確的落下角度。本技術(shù)提供一種邊角落下測(cè)試治具，以便于電子產(chǎn)品的邊角進(jìn)行落地測(cè)試時(shí)，讓電子產(chǎn)品的邊角與地面的夾角提供可調(diào)整的設(shè)計(jì)。本技術(shù)依據(jù)一實(shí)施方式所提供的邊角落下測(cè)試治具。此邊角落下測(cè)試治具適于承載一電子產(chǎn)品，以供此電子產(chǎn)品二相鄰側(cè)面之間的一邊角落下并撞擊一待撞擊平臺(tái)。此邊角落下測(cè)試治具包含一基座、一第一支撐柱、至少一第二支撐柱與一定位件。此基座可活動(dòng)升降地位于此待撞擊平臺(tái)上方，包含一放置面。此放置面配置有一第一插設(shè)孔與多個(gè)第二插設(shè)孔。此第一支撐柱插設(shè)于第一插設(shè)孔內(nèi)，用以支撐此電子產(chǎn)品的一側(cè)面。此第二支撐柱選擇地插設(shè)于任一第二插設(shè)孔內(nèi)，用以支撐此電子產(chǎn)品的另一側(cè)面，以致此邊角自第一支撐柱與第二支撐柱之間朝待撞擊平臺(tái)的方向伸出此放置面的一下側(cè)側(cè)邊。此定位件配置于此放置面上，并使此電子產(chǎn)品被限位于此定位件與此放置板之間。此實(shí)施方式的一選項(xiàng)中，基座更包含一座體與一放置面板。座體包含一斜面。放置面板鎖附于斜面上。放置面板背對(duì)斜面的一面為上述放置面。此實(shí)施方式的又一選項(xiàng)中，此邊角落下測(cè)試治具更包含多個(gè)第一緩沖彈簧。此些第一緩沖彈簧分別套設(shè)于此些第一螺栓的螺柱上，且各第一緩沖彈簧的兩端分別抵靠第一螺栓的螺栓頭與放置面。此實(shí)施方式的又一選項(xiàng)中，當(dāng)?shù)诙沃逶O(shè)于不同的此些第二插設(shè)孔內(nèi)以支撐電子產(chǎn)品的另一側(cè)面時(shí)，電子產(chǎn)品的另一側(cè)面與放置面的下側(cè)側(cè)邊之間具有不同的夾角。此實(shí)施方式的又一選項(xiàng)中，放置面更配置有多個(gè)第三插設(shè)孔。此些第三插設(shè)孔的數(shù)量與第二插設(shè)孔的數(shù)量相同。此外，邊角落下測(cè)試治具更包含至少一第三支撐柱。第三支撐柱選擇地插設(shè)于任一第三插設(shè)孔內(nèi)，以致與第二支撐柱一同支撐電子產(chǎn)品的另一側(cè)面。此實(shí)施方式的又一選項(xiàng)中，放置面板的上側(cè)與下側(cè)分別經(jīng)由多個(gè)第二螺栓與第三螺栓鎖附于斜面上。此些第二螺栓鎖附于斜面的深度與此些第三螺栓鎖附于斜面的深度不一致，以致放置面與斜面具不同的斜度。此實(shí)施方式的又一選項(xiàng)中，邊角落下測(cè)試治具更包含多個(gè)第二緩沖彈簧與多個(gè)第三緩沖彈簧。第二緩沖彈簧分別套設(shè)于此些第二螺栓的螺柱上，且各第二緩沖彈簧分別抵靠斜面與第二螺栓的螺栓頭。第三緩沖彈簧分別套設(shè)于此些第三螺栓的螺柱上，且各第三緩沖彈簧分別抵靠斜面與第三螺栓的螺栓頭。 此實(shí)施方式的又一選項(xiàng)中，邊角落下測(cè)試治具更包含一載具。載具包含一升降臺(tái)與數(shù)個(gè)叉架。升降臺(tái)鎖固于基座與一升降機(jī)構(gòu)之間。此些叉架相互平行且間隔地設(shè)置于升降臺(tái)的一側(cè)，此些叉架連接基座。此實(shí)施方式的又一選項(xiàng)中，座體更包含多個(gè)支撐腳，此些支撐腳實(shí)體連接于座體與此些叉架之間。綜上所述，由于本技術(shù)的放置面所配置的此些第二插設(shè)孔的排列方向，使得第二支撐柱選擇地插設(shè)于任一第二插設(shè)孔內(nèi)時(shí)，都可改變電子產(chǎn)品的另一側(cè)面與放置面的下側(cè)側(cè)邊之間的夾角，進(jìn)而提供電子產(chǎn)品的邊角進(jìn)行落地測(cè)試的變數(shù)選擇。附圖說明為讓本技術(shù)的上述和其他目的、特征、優(yōu)點(diǎn)與實(shí)施例能更明顯易懂，所附圖式的詳細(xì)說明如下圖IA為本技術(shù)邊角落下測(cè)試治具的一部分于一實(shí)施例下的分解圖。圖IB為圖IA的組合圖。圖2A為本技術(shù)邊角落下測(cè)試治具的另一部分于此實(shí)施例下的分解圖。圖2B為本技術(shù)邊角落下測(cè)試治具于此實(shí)施例下的分解圖。圖3A為本技術(shù)邊角落下測(cè)試治具于此實(shí)施例下的一種操作示意圖。圖3B為圖3A的區(qū)域M的局部放大圖。圖4為本技術(shù)邊角落下測(cè)試治具于此實(shí)施例下的另種操作示意圖。圖5為本技術(shù)邊角落下測(cè)試治具于此實(shí)施例下的又一種操作示意圖。主要元件符號(hào)說明10 :邊角落下測(cè)試治具100 :基座110:座體111 :底面板112:外壁板113:狹長螺孔114:側(cè)壁板115:容置空間116:斜面Il7:螺孔118:支撐腳120 :放置面板130 :放置面131 :下側(cè)側(cè)邊132:間隙140 :第一插設(shè)孔150 :第二插設(shè)孔160 :第三插設(shè)孔170 :第一支撐柱180 :第二支撐柱180a:首位第二支撐柱180b :第三位第二支撐柱190 :第三支撐柱200 :軟質(zhì)墊環(huán)300 :定位件310 :透明板體311:間隙312 :開孔400 :載具410 :升降臺(tái)420 :叉架500 :升降機(jī)構(gòu)600 :待撞擊平臺(tái)610 :開槽710 :第一螺栓711 :螺柱712 :螺栓頭720 :第二螺栓721 :螺柱722 :螺栓頭730 :第三螺栓731 :螺柱732 :螺栓頭810 :第一螺帽900 :第一緩沖彈簧910 :第二緩沖彈簧920 :第三緩沖彈簧P:電子產(chǎn)品SI :第一側(cè)面S2 :第二側(cè)面C :邊角R :上升D 自由落下Θ I :第一夾角 Θ 2 :第二夾角X、Y、Z:軸向具體實(shí)施方式以下將以圖式及詳細(xì)說明清楚說明本技術(shù)的精神，如熟悉此技術(shù)的人員在了解本技術(shù)的較佳實(shí)施例后，當(dāng)可由本技術(shù)所教示的技術(shù)，加以改變及修飾，其并不脫離本技術(shù)的精神與范圍。本技術(shù)的邊角落下測(cè)試治具可承載一電子產(chǎn)品，例如筆記型電腦、平板電腦、行動(dòng)電話等，并帶領(lǐng)此電子產(chǎn)品進(jìn)行升降的位移，以便讓此電子產(chǎn)品二相鄰側(cè)面所交集形成的一邊角落下并撞擊一待撞擊平臺(tái)。圖IA為本技術(shù)邊角落下測(cè)試治具10的一部分于一實(shí)施例下的分解圖。圖IB為圖IA的組合圖。如圖1Α、圖IB所示。此邊角落下測(cè)試治具10包含一基座100、一或多個(gè)第一支撐柱170、一或多個(gè)第二支撐柱180與一定位件300。此基座100包含一放置面130。此放置面130配置有一或多個(gè)第一插設(shè)孔140與多個(gè)第二插設(shè)孔150。至少一第一支撐柱170插設(shè)于一第一插設(shè)孔140內(nèi)。此些第二支撐柱180分別插設(shè)于此些第二插設(shè)孔150內(nèi)，然而，亦可至少一第二支撐柱180插設(shè)于一第二插設(shè)孔150內(nèi)。此定位件300配置于此放置面130上，并使此電子產(chǎn)品P被限位于此定位件300與此放置面130之間，以避免電子產(chǎn)品P掉出此邊角落下測(cè)試治具10。此實(shí)施例中，具體來說，如圖IA所示，基座100更包含一座體110與一放置面板120。座體110呈楔形狀，具有一底面板111、一外壁板112、二側(cè)壁板114與多個(gè)支撐腳118。此外壁板112與底面板111位于此二側(cè)壁板114之間，使得本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種邊角落下測(cè)試治具，其特征在于，適于承載一電子產(chǎn)品，以供該電子產(chǎn)品二相鄰側(cè)面之間的一邊角落下并撞擊一待撞擊平臺(tái)，該邊角落下測(cè)試治具包含：一基座，可活動(dòng)升降地位于該待撞擊平臺(tái)上方，包含一放置面，該放置面配置有一第一插設(shè)孔與多個(gè)第二插設(shè)孔；一第一支撐柱，插設(shè)于該第一插設(shè)孔內(nèi)，用以支撐該電子產(chǎn)品的該一側(cè)面；至少一第二支撐柱，選擇地插設(shè)于任一該些第二插設(shè)孔內(nèi)，用以支撐該電子產(chǎn)品的該另一側(cè)面，以致該邊角自該第一支撐柱與該第二支撐柱之間朝該待撞擊平臺(tái)的方向伸出該放置面的一下側(cè)側(cè)邊；以及一定位件，配置于該放置面上，并使該電子產(chǎn)品被限位于該定位件與該放置板之間。
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：溫宏權(quán)，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：廣達(dá)電腦股份有限公司，
類型：實(shí)用新型
國別省市：
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