本發明專利技術公開了一種光盤重放設備、方法及系統。該光盤重放設備包括:第一激光器和第二激光器、光學組件、第一光學檢測器和第二光學檢測器、以及與所述光學檢測器耦合的控制器電路。所述光學組件被配置為引導來自第一激光器和第二激光器的入射光,從而在光盤的表面上形成相應的前導掃描點和尾隨掃描點,以及還被配置為將來自光盤的表面上的所述前導掃描點和所述尾隨掃描點的對應的反射光引導至所述光學檢測器中的相應檢測器。所述控制器電路被配置為在所述尾隨掃描點到達光盤的表面缺陷之前,通過處理與所述前導掃描點相關聯的反射光來識別所述光盤的表面缺陷。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術一般地涉及光盤重放設備,更為具體地涉及在光盤上存在表面缺陷的情況下提高這樣的設備的讀出性能的技術。
技術介紹
標準化的光盤存儲格式最近從數字多功 能光盤(DVD)發展到藍光(Blu-ray)。使用405納米波長的藍色激光來讀取藍光光盤,藍色激光顯著地短于用于讀取DVD的650納米的紅色激光。因此,信息能夠以高得多的密度被存儲在藍光光盤上。例如,一個單層的藍光光盤能夠存儲大約25千兆字節(GB)的數據,相比之下DVD是約5GB。眾所周知,通過將光盤配置為包括多個存儲層,能夠達到更高的存儲密度。雖然藍光光盤具有存儲密度更高的優點,但是使用較短波長的激光用于進行讀出也是有問題的,問題在于它會導致對于由在光盤表面上或表面附近的刮痕、指紋、灰塵顆粒、氣泡或其它缺陷所造成的重放錯誤有更高的敏感性。根據表面缺陷的程度,光盤重放設備的重放會被暫時中斷或全部一起停止。對于小的缺陷,重放設備通常會首先嘗試重新讀取處于錯誤狀態的數據,而如果它不能重新讀取該數據,則該設備可以向前跳過并嘗試讀取下一個數據位置,繼續這一處理,直到表面缺陷最終被繞過而正常重放恢復。對于較大的缺陷,當重放設備中所執行的校正處理不能解決該情況時,重放時常完全凍結。用戶可能之后不得不使用重放設備的“跳過”或“快進”功能,以便在重放序列中手動向前步進,直到繞過該表面缺陷。
技術實現思路
本專利技術的說明性的實施例在存在表面缺陷的情況下通過執行預掃描功能以及在讀取激光到達表面缺陷之前啟動的適當的錯誤恢復算法而在光盤重放設備中提供改進的讀出性能,在所述預掃描功能中,能夠檢測所述表面缺陷。根據本專利技術的一個方面,一種光盤重放設備包括第一激光器和第二激光器、光學組件、第一光學檢測器和第二光學檢測器、以及與所述光學檢測器耦合的控制器電路。所述光學組件被配置為引導來自所述第一激光器和第二激光器的入射光,從而在光盤的表面上形成相應的前導掃描點和尾隨掃描點,并且還被配置為將來自光盤表面上的所述前導掃描點和所述尾隨掃描點的對應的反射光引導至所述光學檢測器中的相應檢測器。所述控制器電路被配置為在所述尾隨掃描點到達表面缺陷之前,通過處理與所述前導掃描點相關聯的所述反射光來識別所述光盤的該表面缺陷。所述控制器電路還可以被配置為響應于對所述表面缺陷的識別而啟動糾錯算法或其它類型的錯誤恢復算法。所述第一激光器和所述第二激光器可以都具有基本相同的波長,或者可工作于不同的波長。在后一種類型的設置中,所述第一激光器可以具有特別適于從第一類型的光盤讀取存儲的信息的波長,而所述第二激光器可以具有特別適于從不同于所述第一類型的光盤的第二類型的光盤讀取存儲的信息的波長。例如,所述第一類型的光盤可以是DVD光盤,而所述第二類型的光盤可以是藍光光盤,其中使用DVD激光器來提供前導掃描點以對于表面缺陷進行預掃描,而使用藍光激光器來提供尾隨掃描點以從所述光盤讀取存儲的信息。例如,所述光盤重放設備還可以包括與相應的第一光學檢測器和第二光學檢測器相關聯的第一解碼器和第二解碼器。其中響應于對所述表面缺陷的識別而在所述第二解碼器啟動錯誤恢復算法。例如,所述光學組件可以包括與所述第一激光器相關聯的第一光學器件和與所述第二激光器相關聯的第二光學器件。例如,第一光學檢測器和第二光學檢測器可以包括相應的第一光電檢測器陣列和第二光電檢測器陣列?!だ纾龅谝患す馄骱偷诙す馄鞅慌渲脼樯苫鞠嗤ㄩL的入射光。例如,僅利用與尾隨掃描點相關聯的反射光來從所述光盤讀取存儲信息。根據本專利技術的另一個方面,一種光盤重放方法包括使用來自相應的第一激光器和第二激光器的入射光在光盤的表面上形成前導掃描點和尾隨掃描點;檢測來自所述前導掃描點和所述尾隨掃描點的反射光;以及在所述尾隨掃描點到達光盤的表面缺陷之前,通過處理與所述前導掃描點相關聯的所述反射光來識別所述光盤的表面缺陷。例如,所述光盤重放方法還可以包括響應于對所述表面缺陷的識別而啟動錯誤恢復算法的步驟。例如,所述光盤重放方法還可以包括僅利用與所述尾隨掃描點相關聯的所述反射光來從所述光盤讀取存儲信息的步驟。例如,所述光盤重放方法還可以包括顯示表明所述表面缺陷已被識別的消息的步驟。例如,所述光盤重放方法還可以包括對啟用所述前導掃描點的生成和禁用所述前導掃描點的生成中的至少一個提供可選擇的選項的步驟。根據本專利技術的再一個方面,一種非暫態的計算機可讀存儲介質具有用于執行所述的光盤重放方法的步驟的可執行代碼。根據本專利技術的又一個方面,一種光盤重放系統包括第一重放機構和第二重放機構;所述第一重放機構和所述第二重放機構用于在所述光盤的表面上形成相應的前導掃描點和尾隨掃描點,并檢測來自相應的前導掃描點和尾隨掃描點的反射光;其中在所述尾隨掃描點到達光盤的表面缺陷之前,通過處理與所述前導掃描點相關聯的反射光來識別所述光盤的表面缺陷。例如,所述第一重放機構特別適于從第一類型的光盤讀取存儲信息,而所述第二重放機構特別適于從不同于所述第一類型的光盤的第二類型的光盤讀取存儲信息。例如,所述第一類型的光盤是DVD光盤,而所述第二類型的光盤是藍光光盤。優選地,示例性的實施例在藍光光盤或其它類型的光盤上存在表面缺陷的情況下,提供了在所述光盤的讀出性能方面的顯著改進。使用前導掃描點早期檢測表面缺陷,因此能夠以對觀眾完全透明的方式對表面缺陷自動處理,從而避免了人工干預的需要。舉例來說,在已經包括DVD和藍光讀出能力的重放設備中,通過利用DVD激光器生成前導掃描點,能夠實現相對于常規方式的這種顯著進步,其中,所述前導掃描點在藍光激光器的讀出之前檢測表面缺陷。在這樣的設置中,不需要任何大量的額外光學器件或讀出硬件,就可以提供增強的讀出性能。附圖說明 圖I是本專利技術的一個說明性的實施例中的結合有用于表面缺陷的早期檢測的預掃描功能的光盤重放系統的框圖。圖2示出了圖I的系統的一部分的更詳細的視圖,圖示了通過光學拾取單元在光盤表面上形成前導掃描點和尾隨掃描點。圖3是示出圖I的系統的一種工作模式的流程圖。具體實施例方式在此將結合有利地結合有用于表面缺陷的早期檢測的預掃描功能的示例性的光盤重放系統來對本專利技術進行說明。然而,應當理解,本專利技術不限于所示和所說明的特定系統和技術。本專利技術更普遍地適用于任何期望提高讀出性能的光盤重放系統,并且可以使用除了結合說明性的實施例所具體示出和說明的部件之外的其它部件來實現。圖I示出了根據本專利技術的一個說明性的實施例的光盤重放系統100。在此實施例中的重放系統100更具體地包括從光盤104讀取存儲的信息的光學拾取單元102。該光學拾取單元還可以被配置為將信息寫到可記錄光盤,盡管這樣的功能不是本專利技術的要求。在一個典型的配置中,光盤104被插入光盤驅動器,光盤驅動器控制光盤的旋轉以及光學拾取單元102相對于光盤凹槽的定位。為了說明的清楚和簡要,從圖中省略了用于控制光盤104的旋轉和光學拾取單元102的定位的驅動機構和關聯的電子器件,但可以假定為它們以常規的方式實施。在本實施例中的光學拾取單元102包括激光器110、光學器件112和光學檢測器114。非限制性地假定,有至少第一激光器和第二激光器以及至少第一光學檢測器和第二光學檢測器,盡管在其它實施例中可以使用其它數量的激光器和檢測器。第一激光器和第二激光器可以本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種光盤重放設備,包括:第一激光器和第二激光器;光學組件;第一光學檢測器和第二光學檢測器;以及與所述光學檢測器耦合的控制器電路;所述光學組件被配置為引導來自所述第一激光器和所述第二激光器的入射光,從而在光盤的表面上形成相應的前導掃描點和尾隨掃描點;所述光學組件還被配置為將來自所述光盤的表面上的所述前導掃描點和所述尾隨掃描點的對應的反射光引導至所述光學檢測器中的相應檢測器;其中所述控制器電路被配置為在所述尾隨掃描點到達光盤的表面缺陷之前,通過處理與所述前導掃描點相關聯的反射光來識別所述光盤的表面缺陷。
【技術特征摘要】
...
【專利技術屬性】
技術研發人員:J·M·福萊恩德,
申請(專利權)人:LSI公司,
類型:發明
國別省市:
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