一種孔徑測量裝置及方法，該裝置包括：底座；移動平臺，設于底座上，并且相對于底座可滑動；平臺驅動裝置，用于驅動移動平臺滑動；兩個CCD相機，固定于底座上，并間隔相對設置，兩個CCD相機均具有攝像鏡頭，并且相對安置；兩個遠心透鏡，分別設于兩個CCD相機的鏡頭處；兩個光源，分別安裝在兩個遠心透鏡中；定位夾具，固定于移動平臺上，并且位于兩個攝像孔之間；反光鏡，靠近定位夾具設置，反光鏡的相對兩側面均為反射面；反光鏡驅動裝置，設于移動平臺上，用于驅動反光鏡移動；平臺驅動裝置驅動移動平臺在兩個CCD相機之間移動。上述孔徑測量裝置及方法，其可測量具有多層結構的工件的中間孔徑，并且檢測效率較高、速度較快、可避免刮傷待檢測工件。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種測量裝置及方法，特別是涉及一種。
技術介紹
在檢測一個具有多層結構的工件的中間孔徑時,例如,檢測硬盤磁頭驅動架的中間指片的尾孔的孔徑，使用光學檢測技術一直很難實現。請參閱圖1，一種檢測硬盤磁頭驅動架10，其包括四個指片，分別為第一指片11、第二指片12、第三指片13及第四指片14，其中，第一指片11及第四指片14位于外側，第二指片12及第三指片13位于中間，第一指片11、第二指片12、第三指片13及第四指片14分別對應設置有尾孔lla、12a、13a、14a。為了檢測中間指片(即第二指片12及第三指片13) 的尾孔12a、13a的孔徑，在該領域一直使用接觸式測量，但接觸式測量需要檢測多點才能計算圓的直徑，速度慢，效率低，有時還會對工件內壁產生刮傷，在大批量的生產過程中，難以實現全檢。
技術實現思路
鑒于上述狀況，有必要提供一種，其可測量具有多層結構的工件的中間孔徑，并且檢測效率較高、速度較快、可避免刮傷工件。一種孔徑測量裝置，包括底座；移動平臺，設于所述底座上，并且相對于所述底座可滑動；平臺驅動裝置，用于驅動所述移動平臺滑動；(XD相機A及(XD相機B，固定于所述底座上,并間隔相對設置,所述(XD相機A及CXD相機B均具有攝像孔，并且所述CXD相機A及CXD相機B的攝像孔相對設置；遠心透鏡A及遠心透鏡B，分別設于所述CXD相機A及CXD相機B的攝像孔處；光源A及光源B，分別靠近所述遠心透鏡A及遠心透鏡B設置；定位夾具，固定于所述移動平臺上，并且位于所述兩個攝像孔之間；反光鏡，靠近所述定位夾具設置，所述反光鏡的相對兩側面均為反射面；及反光鏡驅動裝置，設于所述移動平臺上，用于驅動反光鏡移動；其中，所述C⑶相機A、C⑶相機B的攝像孔、遠心透鏡A、遠心透鏡B、光源A及光源B位于同一條光軸上；所述平臺驅動裝置驅動所述移動平臺在所述CCD相機A與CCD相機B之間移動，以改變所述定位夾具與所述CCD相機A及CCD相機B的攝像孔之間的間距；所述反光鏡驅動裝置可驅動所述反光鏡插入到所述光軸上。相較于傳統(tǒng)的孔徑測量裝置，上述孔徑測量裝置至少具有以下優(yōu)點(I)上述孔徑測量裝置的光源發(fā)射的光線，通過反光鏡片的反射，照射到中間延伸部的上表面或下表面，從而獲取中間延伸部的輪廓尺寸，進而獲取中間延伸部的通孔的孔徑。(2)上述孔徑測量裝置可采用非接觸的方式測量孔徑，其測試速度快，例如，一個具有四個延伸部的工件完成測試僅6S左右，而接觸式測量需30S。(3)上述孔徑測量裝置與工件的通孔的內壁不接觸，避免了接觸式檢測方式對工件的刮傷。(4)上述孔徑測量裝置采用雙面的反光鏡片，可以適應具有三層延伸部以上的中間孔徑的全檢。(5)上述孔徑測量裝置可以應用到其他具有多層結構的工件的中間尺寸的測量中。在其中一個實施例中，所述光源A及光源B分別設于所述遠心透鏡A及遠心透鏡B上。在其中一個實施例中，所述光源A及光源B均為點光源。在其中一個實施例中，所述平臺驅動裝置為伺服電機。在其中一個實施例中，所述平臺驅動裝置為旋轉電機，所述孔徑測量裝置還包括絲桿及套設于所述絲桿上的螺母，所述絲桿與所述旋轉電機的驅動軸固定連接，所述螺母與所述移動平臺固定連接，所述旋轉電機驅動所述絲桿轉動，所述螺母帶動所述移動平臺沿所述絲桿平移。在其中一個實施例中，還包括夾具驅動裝置，用于驅動所述定位夾具夾緊待測試的工件。在其中一個實施例中，還包括設于所述底座上的導軌，所述移動平臺沿所述導軌滑動。一種采用上述的孔徑測量裝置的孔徑測量方法，包括如下步驟步驟a，將待測試的工件夾持在所述定位夾具上，所述工件包括至少三層的間隔設置的延伸部，每個延伸部上對應開設有通孔，并且每個延伸部的上表面與所述光源A相對，下表面與所述光源B相對；步驟b，在所述光源A及光源B全部啟動的情況下，所述反光鏡驅動裝置驅動所述反光鏡插入所述位于中間的延伸部的下表面所在的一側，所述平臺驅動裝置驅動所述移動平臺移動，使所述位于中間的延伸部的上表面聚焦在所述CCD相機A，獲得所述位于中間的延伸部的上表面的圖像數據；步驟C，所述反光鏡驅動裝置驅動所述反光鏡插入所述位于中間的延伸部的上表面所在的一側，所述平臺驅動裝置驅動所述移動平臺移動，使所述位于中間的延伸部的下表面聚焦在所述CCD相機B，獲得所述位于中間的延伸部的下表面的圖像數據；及步驟d，根據所述位于中間的延伸部的上表面及下表面的圖像數據，獲得所述位于中間的延伸部的通孔的孔徑。在其中一個實施例中，若需要測量所述工件的位于外側的延伸部的通孔的孔徑，則所述孔徑測量方法還包括如下步驟步驟e，在所述光源A關閉及所述光源B啟動的情況下，所述平臺驅動裝置驅動所述移動平臺移動，使所述工件的位于外側的延伸部的上表面聚焦在所述CCD相機A，獲得所述位于外側的延伸部的上表面的圖像數據；步驟f，在所述光源B關閉及所述光源A啟動的情況下，所述平臺驅動裝置驅動所述移動平臺移動，使所述位于外側的延伸部的下表面聚焦在所述CCD相機B，獲得所述位于外側的延伸部的下表面的圖像數據；步驟g，根據所述位于外側的延伸部的上表面及下表面的圖像數據，獲得所述位于外側的延伸部的通孔的孔徑。在其中一個實施例中，所述步驟d或步驟g具體包括如下步驟利用圖像算法獲取上表面的孔徑邊緣點的坐標，再擬合成一次圓，得到所述一次圓的直徑；除去所述一次圓上偏移量較大的點，再進行二次擬合而形成二次圓，得到所述二次圓的直徑，即所述上表面的孔徑；同理，獲得所述下表面的孔徑； 根據所述上表面及下表面的孔徑，獲得孔徑的平均值、最大值及最小值。附圖說明圖1為一種可采用本專利技術的孔徑測量裝置檢測中間孔徑的硬盤磁頭驅動架的結構示意圖；圖2為本專利技術實施方式的孔徑測量裝置的立體圖；圖3為圖2中A部分的放大圖。具體實施方式為了便于理解本專利技術，下面將參照相關附圖對本專利技術進行更全面的描述。附圖中給出了本專利技術的較佳的實施例。但是，本專利技術可以以許多不同的形式來實現，并不限于本文所描述的實施例。相反地，提供這些實施例的目的是使對本專利技術的公開內容的理解更加透徹全面。需要說明的是，當元件被稱為“固定于”另一個元件，它可以直接在另一個元件上或者也可以存在居中的元件。當一個元件被認為是“連接”另一個元件，它可以是直接連接到另一個元件或者可能同時存在居中元件。本文所使用的術語“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及類似的表述只是為了說明的目的。除非另有定義，本文所使用的所有的技術和科學術語與屬于本專利技術的
的技術人員通常理解的含義相同。本文中在本專利技術的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施例的目的，不是旨在于限制本專利技術。本文所使用的術語“及/或”包括一個或多個相關的所列項目的任意的和所有的組合。請參閱圖2及圖3，本專利技術的一實施方式的孔徑測量裝置100，包括底座110、移動平臺120、平臺驅動裝置130、C⑶相機A 141、CCD相機B 143、遠心透鏡A 151、遠心透鏡B153、光源A 161、光源B 163、定位夾具170、反光鏡180及反光鏡驅動裝置(圖未示)。底座110包括矩形板及四個支腳，四個支腳分別設于矩形板的四個頂角處，用于支撐及平衡矩形板。當然，在本專利技術中，底座110的結構不限于上述結構，也可為其他結構，例如，具有頂板的框架結構本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種孔徑測量裝置，其特征在于，包括：底座；移動平臺，設于所述底座上，并且相對于所述底座可滑動；平臺驅動裝置，用于驅動所述移動平臺滑動；CCD相機A及CCD相機B，固定于所述底座上，并間隔相對設置，所述CCD相機A及CCD相機B均具有遠心鏡頭，并且所述CCD相機A及CCD相機B的攝像孔相對設置；遠心透鏡A及遠心透鏡B，分別設于所述CCD相機A及CCD相機B的攝像孔處；光源A及光源B，分別安裝在所述遠心透鏡A及遠心透鏡B上；定位夾具，固定于所述移動平臺上，并且位于所述兩個攝像孔之間；反光鏡，靠近所述定位夾具設置，所述反光鏡的相對兩側面均為反射面；及反光鏡驅動裝置，設于所述移動平臺上，用于驅動反光鏡移動；其中，所述CCD相機A、CCD相機B的攝像孔、遠心透鏡A、遠心透鏡B、光源A及光源B位于同一條光軸上；所述平臺驅動裝置驅動所述移動平臺在所述CCD相機A與CCD相機B之間移動，以調節(jié)所述定位夾具與所述CCD相機A及CCD相機B的攝像孔之間的焦距；所述反光鏡驅動裝置可驅動所述反光鏡插入到所述光軸上。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：方文，李嘯，蘇志鋒，劉旭明，陳玨然，
申請(專利權)人：福群電子深圳有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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