本發(fā)明專利技術(shù)涉及一種存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)及存儲(chǔ)器測(cè)試方法。其中，該存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)包括：控制器，用于生成測(cè)試向量，通過(guò)總線將所述測(cè)試向量發(fā)送給多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置；所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，用于根據(jù)所述測(cè)試向量對(duì)各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器分別進(jìn)行測(cè)試，并將各自對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果發(fā)送給所述控制器。通過(guò)本發(fā)明專利技術(shù)實(shí)施例，避免了現(xiàn)有技術(shù)中針對(duì)每一個(gè)存儲(chǔ)器都設(shè)計(jì)相應(yīng)的內(nèi)建自測(cè)電路，因此節(jié)省了對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試所需的控制邏輯電路和制作該控制邏輯電路所占用的芯片面積，進(jìn)一步降低硬件成本。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及存儲(chǔ)器測(cè)試技術(shù)，尤其涉及一種。
技術(shù)介紹
為了確保存儲(chǔ)器能夠正常存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，確保存儲(chǔ)器在存儲(chǔ)數(shù)據(jù)時(shí)沒有故障，需要對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試。現(xiàn)有技術(shù)通常采用內(nèi)建自測(cè)(Built-1n Self Test，簡(jiǎn)稱為BIST)技術(shù)對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試，每一存儲(chǔ)器對(duì)應(yīng)一個(gè)內(nèi)建自測(cè)電路，每一內(nèi)建自測(cè)電路對(duì)相應(yīng)的存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試。由于各個(gè)存儲(chǔ)器的BIST電路相互獨(dú)立，因此測(cè)試不同的存儲(chǔ)器需要不同的邏輯電路，從而增加了在測(cè)試多個(gè)存儲(chǔ)器時(shí)使用的邏輯電路。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
有鑒于此，本專利技術(shù)目的在于提供一種，減少測(cè)試存儲(chǔ)器所需的邏輯電路。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)實(shí)施例提供一種存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)，該存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)包括:控制器，用于生成測(cè)試向量，通過(guò)總線將所述測(cè)試向量發(fā)送給多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置；以及所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，用于根據(jù)所述測(cè)試向量對(duì)各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器分別進(jìn)行測(cè)試，并將各自對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果發(fā)送給所述控制器。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)還提供了一種存儲(chǔ)器測(cè)試方法，該存儲(chǔ)器測(cè)試方法包括:生成測(cè)試向量；通過(guò)總線將所述測(cè)試向量發(fā)送給多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，以使得所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置根據(jù)所述測(cè)試向量對(duì)各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器分別進(jìn)行測(cè)試；以及接收來(lái)自所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置各自對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果。本專利技術(shù)實(shí)施例提供的，通過(guò)控制器生成的測(cè)試向量對(duì)多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器分別進(jìn)行測(cè)試，避免了現(xiàn)有技術(shù)中針對(duì)每一個(gè)存儲(chǔ)器都設(shè)計(jì)相應(yīng)的內(nèi)建自測(cè)電路，因此節(jié)省了對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試所需的控制邏輯電路和制作該控制邏輯電路所占用的芯片面積，進(jìn)一步降低硬件成本。附圖說(shuō)明包含在本說(shuō)明書中并且構(gòu)成說(shuō)明書的一部分的附圖與說(shuō)明書一起示出了本專利技術(shù)的示例性實(shí)施例、特征和方面，并且用于解釋本專利技術(shù)的原理。圖1為本專利技術(shù)一個(gè)實(shí)施例提供的存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本專利技術(shù)又一個(gè)實(shí)施例提供的存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為圖2所示實(shí)施例中的控制器的結(jié)構(gòu)示意圖4為圖2所示實(shí)施例中對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行讀寫操作的時(shí)序示意圖；圖5為本專利技術(shù)一個(gè)實(shí)施例提供的存儲(chǔ)器測(cè)試方法的流程示意圖；以及圖6為本專利技術(shù)又一個(gè)實(shí)施例提供的存儲(chǔ)器測(cè)試方法的流程示意圖。具體實(shí)施例方式以下將對(duì)本專利技術(shù)的實(shí)施例給出詳細(xì)的參考。盡管本專利技術(shù)通過(guò)這些實(shí)施方式進(jìn)行闡述和說(shuō)明，但需要注意的是本專利技術(shù)并不僅僅只局限于這些實(shí)施方式。相反，本專利技術(shù)涵蓋所附權(quán)利要求所定義的專利技術(shù)精神和專利技術(shù)范圍內(nèi)的所有替代物、變體和等同物。另外，為了更好的說(shuō)明本專利技術(shù)，在下文的具體實(shí)施方式中給出了眾多的具體細(xì)節(jié)。本領(lǐng)域技術(shù)人員將理解，沒有這些具體細(xì)節(jié)，本專利技術(shù)同樣可以實(shí)施。在另外一些實(shí)例中，對(duì)于大家熟知的方法、程續(xù)、元件和電路未作詳細(xì)描述，以便于凸顯本專利技術(shù)的主旨。圖1為本專利技術(shù)一個(gè)實(shí)施例提供的存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；如圖1所示，本專利技術(shù)實(shí)施例提供的存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)100包括控制器110和多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置(存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1、...存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-N)，本專利技術(shù)實(shí)施例以存儲(chǔ)器的個(gè)數(shù)為N(N> 1，且N為整數(shù))進(jìn)行示例性說(shuō)明，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解的是，該個(gè)數(shù)N并不能形成對(duì)本專利技術(shù)實(shí)施例的限制；其中，控制器110通過(guò)總線與各個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1、...存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-N相耦接；進(jìn)一步地，控制器110生成測(cè)試向量，通過(guò)總線將該測(cè)試向量發(fā)送給存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1、...存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-N，存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1、...存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-N根據(jù)該測(cè)試向量對(duì)各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器分別進(jìn)行測(cè)試，并將各自對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果發(fā)送給控制器110。例如:存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1根據(jù)該測(cè)試向量對(duì)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1需要測(cè)試的存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試，并將存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1得到的測(cè)試結(jié)果發(fā)送給控制器110。進(jìn)一步地，可以采用高速時(shí)鐘信號(hào)控制控制器110生成測(cè)試地址和測(cè)試數(shù)據(jù)，從而使得N個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置具有相同的數(shù)據(jù)讀寫時(shí)序，從而避免現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)每一個(gè)存儲(chǔ)器采用不同的測(cè)試電路導(dǎo)致測(cè)試時(shí)序不統(tǒng)一的缺陷，便于對(duì)N個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置的測(cè)試時(shí)間進(jìn)行統(tǒng)一管理。由圖1所示實(shí)施例可知，本專利技術(shù)通過(guò)控制器110生成的測(cè)試向量對(duì)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1.....存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-N各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器分別進(jìn)行測(cè)試，避免了現(xiàn)有技術(shù)中針對(duì)每一個(gè)存儲(chǔ)器都設(shè)計(jì)相應(yīng)的內(nèi)建自測(cè)電路，因此節(jié)省了對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試所需的控制邏輯電路和制作該控制邏輯電路所占用的芯片面積，進(jìn)一步降低了硬件成本。圖2為本專利技術(shù)又一個(gè)實(shí)施例提供的存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)200的結(jié)構(gòu)示意圖，圖3為圖2所示實(shí)施例中的控制器的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2中標(biāo)號(hào)與圖1中標(biāo)號(hào)相同的功能模塊具有相同或者相似的功能，在此不再贅述。如圖2所示，本專利技術(shù)實(shí)施例中的存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1.....存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-N均包括:地址比較單元11、數(shù)據(jù)比較單元12 ;如圖3所示，控制器110包括:測(cè)試數(shù)據(jù)生成單元21、測(cè)試地址生成單元22、結(jié)果存儲(chǔ)單元23、輸出單元24 ;進(jìn)一步地，數(shù)據(jù)比較單元12通過(guò)總線中的數(shù)據(jù)線與測(cè)試數(shù)據(jù)生成單元21相耦接，地址比較單元11通過(guò)總線中的地址線與測(cè)試地址生成單元22相耦接。為了更清楚地理解本專利技術(shù)實(shí)施例所描述的技術(shù)方案，下面結(jié)合圖2和圖3對(duì)本專利技術(shù)實(shí)施例提供的存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)200進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。如圖2所示，控制器110的測(cè)試數(shù)據(jù)生成單元21根據(jù)預(yù)定算法生成需要寫入存儲(chǔ)器10-1.....存儲(chǔ)器IO-N的測(cè)試數(shù)據(jù)，并將該測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)總線以廣播的形式發(fā)送給存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1.....存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-N ;控制器110中的測(cè)試地址生成單元22生成測(cè)試地址，并通過(guò)總線以廣播的形式發(fā)送給存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1.....存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-N。進(jìn)一步地，測(cè)試數(shù)據(jù)生成單元21基于存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1.....存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-N各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器具有的最大容量生成測(cè)試數(shù)據(jù)，例如:存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1.....存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-N中存儲(chǔ)容量最大為32位(bit)，則控制器110依據(jù)該32bit生成測(cè)試數(shù)據(jù)，從而對(duì)N個(gè)存儲(chǔ)器均能夠進(jìn)行測(cè)試；測(cè)試地址生成單元22基于存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1.....存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-N各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器具有的最大地址生成測(cè)試地址，例如:N個(gè)存儲(chǔ)器的最大地址為Offf，則生成的測(cè)試地址不能夠超過(guò)該最大地址Offf，從而對(duì)N個(gè)存儲(chǔ)器均能夠進(jìn)行地址訪問(wèn)。存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1.....存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-N接收來(lái)自控制器110的測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試地址；具體地，以存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1為例進(jìn)行示例性說(shuō)明，存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1中的地址比較單元11將來(lái)自控制器110的測(cè)試地址與存儲(chǔ)器測(cè)試裝置120-1對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器10-1所具有的最大地址進(jìn)行比較；若該測(cè)試地址位于存儲(chǔ)器10-1所具有的最大地址范圍(例如:測(cè)試地址為0001，存儲(chǔ)器10-1所具有的最大地址為Offf，則最大地址范圍為0000 Offf)內(nèi)，根據(jù)測(cè)試向量所包括的寫指令將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器10-1中與該測(cè)試地址所對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元以及數(shù)據(jù)比較單元12 ;數(shù)據(jù)比較單元12根據(jù)測(cè)試向量中所包含的讀指令讀取已寫入存儲(chǔ)器10-1中與該測(cè)試地址所對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元的測(cè)試數(shù)據(jù)，并將已從存儲(chǔ)器10-1中讀取到本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：控制器，用于生成測(cè)試向量，通過(guò)總線將所述測(cè)試向量發(fā)送給多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置；以及所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，用于根據(jù)所述測(cè)試向量對(duì)各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器分別進(jìn)行測(cè)試，并將各自對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果發(fā)送給所述控制器。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括: 控制器，用于生成測(cè)試向量，通過(guò)總線將所述測(cè)試向量發(fā)送給多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置；以及 所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置，用于根據(jù)所述測(cè)試向量對(duì)各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器分別進(jìn)行測(cè)試，并將各自對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果發(fā)送給所述控制器。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試向量包括測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試地址，所述測(cè)試地址包括對(duì)所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀寫操作的地址，所述控制器包括: 測(cè)試數(shù)據(jù)生成單元，用于根據(jù)預(yù)定算法生成需要寫入所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器的所述測(cè)試數(shù)據(jù)，并將所述測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)總線發(fā)送給所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置；以及 測(cè)試地址生成單元，用于生成所述測(cè)試地址，并將所述測(cè)試地址通過(guò)總線發(fā)送給所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成單元基于所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器具有的最大容量生成測(cè)試數(shù)據(jù)；所述測(cè)試地址生成單元基于所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器具有的最大地址生成所述測(cè)試地址。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試向量包括讀指令或者寫指令，每一個(gè)所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置包括:地址比較單元和數(shù)據(jù)比較單元； 所述地址比較單元，用于將來(lái)自所述控制器的所述測(cè)試地址與該存儲(chǔ)器測(cè)試裝置對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器所具有的最大地址進(jìn)行比較，在確定所述測(cè)試地址在所述存儲(chǔ)器測(cè)試裝置對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器所具有的最大地址范圍內(nèi)時(shí)，根據(jù)所述寫指令將所接收到的測(cè)試向量中的測(cè)試數(shù)據(jù)寫入該存儲(chǔ)器中的與所述測(cè)試地址對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元和所述數(shù)據(jù)比較單元; 所述數(shù)據(jù)比較單元，用于根據(jù)所述讀指令讀取已寫入所述存儲(chǔ)單元中的測(cè)試數(shù)據(jù)，并將從所述存儲(chǔ)單元中讀取到的數(shù)據(jù)與已寫入所述數(shù)據(jù)比較單元中的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，得出測(cè)試結(jié)果。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述地址比較單元通過(guò)所述總線中的地址線與所述測(cè)試地址生成單元相耦接，所述數(shù)據(jù)比較單元通過(guò)所述總線中的數(shù)據(jù)線與所述測(cè)試數(shù)據(jù)生成單元相耦接。6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，若從所述存儲(chǔ)單元中已讀取到的數(shù)據(jù)與已寫入所述數(shù)據(jù)比較單元中的測(cè)試數(shù)據(jù)相同，所述數(shù)據(jù)比較單元將所述測(cè)試結(jié)果設(shè)置為第一邏輯電平信號(hào)；若不相同，所述數(shù)據(jù)比較單元將所述測(cè)試結(jié)果設(shè)置為第二邏輯電平信號(hào)。7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述控制器還包括: 結(jié)果存儲(chǔ)單元，用于存儲(chǔ)來(lái)自所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置的各自對(duì)應(yīng)所述多個(gè)測(cè)試結(jié)果；以及 輸出單元，與所述結(jié)果存儲(chǔ)單元相耦接，用于輸出所述多個(gè)測(cè)試結(jié)果，以通過(guò)所述多個(gè)測(cè)試結(jié)果確定所述多個(gè)存儲(chǔ)器測(cè)試裝置各自對(duì)應(yīng)的待測(cè)試的存儲(chǔ)器是否存在故障...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：張衛(wèi)華，喻梅，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：邁實(shí)電子上海有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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