一種測量裝置以及軸體檢測設備制造方法及圖紙

本發明專利技術提供了一種測量裝置，用于測量軸體尺寸，包括工作平臺、PLC控制中心和光學測量裝置，還包括一對平臺導軌、治具導軌、置于所述治具導軌上的治具以及長度測量裝置。本發明專利技術所提供的一種測量裝置，可以置于現有的測量設備中，用于測量軸體的外徑、長度以及階梯軸的各階梯段的外徑尺寸等等，本發明專利技術提供的測量裝置，結構較為簡單且容易實現，并且成本較低、推廣性好、適于生產現場大批量的尺寸檢測使用；還能夠用于檢測打印機的核心零件扁軸的規格尺寸，尤其是特別針對扁軸的扁頭部分作出精確的測量，能夠對扁頭的扁寬和扁長進行精確測量并且檢測速度較快，能夠對批量的扁軸進行檢測，對于扁軸的生產檢測起到重要的作用。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種測量裝置，尤其是涉及一種測量裝置以及軸體檢測設備。
技術介紹
扁軸是打印機的核心零件，其形狀如圖5-1所示，為一端扁頭，一端圓軸的結構。在對扁軸進行裝配前往往需要對其扁軸規格進行檢測，其中對扁頭的扁寬和扁長為檢測重點。但是目前技術中，國外均采用三坐標的方式對扁軸進行檢測，采用三坐標測量儀測量扁軸時存在檢測速度慢、準確性差、效率低以及三坐標測量儀本身投資成本高、后期維護成本高的問題
技術實現思路
·本專利技術的目的在于解決現有扁軸測量采用三坐標測量儀時存在檢測速度慢、準確性差、效率低以及三坐標測量儀本身投資成本高、后期維護成本高的缺點，提供一種測量裝置，專門用于對扁軸的長度、外徑、扁厚和扁寬的測量裝置。本專利技術解決其技術問題采用的技術方案是一種測量裝置，用于測量軸體尺寸，包括工作平臺、PLC控制中心以及位于所述工作平臺上與所述PLC控制中心連接的可測量所述軸體尺寸的光學測量裝置，還包括置于所述工作平臺上的一對平行放置的平臺導軌、可沿所述平臺導軌滑行且垂直于所述平臺導軌的用于放置所述光學測量裝置的橫梁、位于所述平臺導軌之間且平行于與所述平臺導軌的治具導軌、置于所述治具導軌上且可沿所述治具導軌滑行的用于定位夾持所述軸體的治具以及置于所述治具導軌上與所述PLC控制中心連接的且可沿所述治具導軌滑行的用于測量所述軸體長度的長度測量裝置，所述治具包括平行排列于所述治具導軌上用于支撐夾持所述軸體的第一治具和第二治具，所述長度測量裝置與所述第一治具相對設置，所述第二治具位于所述第一治具與所述長度測量裝置之間。進一步地，所述第一治具包括可在所述治具導軌上滑行的第一基座、固定于所述第一基座上且垂直于所述工作平臺平面的第一限位塊以及固定于所述第一限位塊上由所述PLC控制中心控制的電機，所述第一限位塊頂部設有一可定位所述軸體的第一 V型槽。具體地，所述第一治具還包括固定于所述第一限位塊上相對于所述第二治具一側的與所述第一 V型槽水平高度一致的可放置所述軸體的第一滾輪組、置于所述第一滾輪組下方的由所述PLC控制中心控制的第一氣缸以及由所述第一氣缸帶動可上下移動的第一升降塊，所述第一升降塊的頂部設有一可支撐所述軸體的第一 U型槽。更具體地，所述第一滾輪組包括位于所述第一 V型槽下方對稱設有的可放置所述軸體且帶動所述軸體轉動的第一滾輪和第二滾輪、與所述第二滾輪左側相切的第一皮帶輪、與所述第一滾輪右側的第二皮帶輪以及位于所述第一滾輪和第二滾輪正下方且與所述第一滾輪和第二滾輪相切的第三皮帶輪，所述第一滾輪組還包括一皮帶，所述皮帶套設于所述第一皮帶輪、第四皮帶輪和第三皮帶輪上，用于帶動所述第一滾輪和第二滾輪轉動，所述第一皮帶輪由所述電機帶動轉動。更具體地，所述第一治具還包括置于所述第一限位塊另一側、可頂接所述軸體的第一橫軸，所述第一橫軸可調節的固定于所述第一抵接塊上且通過所述第一抵接塊固定于所述第一限位塊上。進一步地，所述第二治具包括可在所述治具導軌上滑行的第二基座以及固定于所述第二基座上且垂直于所述工作平臺的第二限位塊，所述第二限位塊的頂部設有一與所述第一 V型槽水平高度一致的第二 V型槽，于所述第二 V型槽下方對稱設有第二滾輪組，所述第二滾輪組包括可放置所述軸體且轉動所述軸體的第三滾輪和第四滾輪。進一步地，所述長度測量裝置包括可在所述治具導軌上滑行的第三基座、固定于所述第三基座與所述治具相對一側的由所述PLC控制中心控制第二氣缸、由所述第二氣缸帶動可上下移動的第二升降塊，所述第二升降塊的頂部設有一可支撐所述軸體的第二 U型槽。 具體地，所述長度測量裝置還包括固定于所述第三基座另一側的由所述PLC控制中心控制的第三氣缸和傳感器組以及固定于所述傳感器組上的第三導軌和設于所述第三導軌上的可隨所述第三氣缸沿所述治具導軌方向滑動的第二抵接塊組，所述傳感器組包括傳感器和與所述傳感器抵壓的伸縮塊，所述第二抵接塊組包括第二抵接塊、使所述第二抵接塊與所述第三導軌連接且由所述第三氣缸帶動的支撐塊以及將所述第二抵接塊與所述傳感器伸縮塊連接的L型連接塊。具體地，所述長度測量裝置還包括置于與所述第三導軌同側的可頂接所述軸體且與所述第一橫軸水平高度一致的第二橫軸，所述第二橫軸可調節的固定于所述第二抵接塊上且通過所述第二抵接塊固定于所述支撐塊上。本專利技術的另一目的，在于提供了一種軸體檢測設備，包括上述的一種測量裝置以及上料裝置、下料裝置和機械手抓取裝置。本專利技術提供的一種測量裝置的有益效果在于I)、本專利技術所提供的一種測量裝置，可以置于現有的測量設備中，用于測量軸體的外徑、長度以及階梯軸的各階梯段的外徑尺寸等等，本專利技術提供的測量裝置，結構較為簡單且容易實現，并且成本較低、推廣性好、檢測速度快、適于生產現場大批量的尺寸檢測使用；2)、本專利技術提供的測量裝置，還能夠用于檢測打印機的核心零件扁軸的規格尺寸，尤其是特別針對扁軸的扁頭部分作出精確的測量，能夠對扁頭的扁寬和扁長進行精確測量并且檢測速度較快，能夠對批量的扁軸進行檢測，對于扁軸的生產檢測起到重要的作用；3)、本專利技術提供的測量裝置中的包括用于支撐和夾持待測量軸體的第一治具和第二治具，在測量軸體的外徑時，將待測量的軸體放置于治具的第一治具和第二治具的V型槽上，治具起到支撐待測軸體的作用，治具與光學測量裝置的相互配合，使得待測量的軸體放置于光學測量裝置的測量區域內，再利用光學測量裝置對放置于治具上的軸體進行測量；在測量扁軸的扁寬和扁長時，放置在第一治具和第二治具上的待測量的扁軸的扁頭落入光學測量裝置的光學測量區域內，并且扁軸通過第一治具上的第一滾輪組和第二治具上的第二滾輪組帶動轉動到最佳測量位置，光學測量裝置再測量扁頭的扁厚和扁寬的具體數據；4)、本專利技術提供的測量裝置中的長度測量裝置，通過與治具配合測量軸體的長度，長度測量儀與第一治具之間設有一初始長度位置，然后長度測量裝置上的第二橫軸與治具上第一治具上的第一橫軸相互抵壓待測軸體的兩端，通過長度測量儀上的傳感器測量長度測量儀的移動的位置差，通過初始長度減去移動的位置，以得出待測軸體的長度精確值，結構簡單、容易實現且檢測速度快。本專利技術提供的一種軸體分類設備的有益效果在于能夠通過本專利技術提供的一種軸體檢測設備，對軸體的尺寸進行檢測，通過本專利技術提供的測量裝置，測量軸體的尺寸，再通過檢測出的軸體尺寸與軸體的標準值進行比對以確定待測軸體是否達標合格，由PLC控制中心對設備進行控制，將軸體進行測量、分類以及分揀，將軸體根據預設值進行分類下料，完成全自動化的軸體分類過程。因此，減少人工操作的勞動強度、適用于大批量的軸體檢測分類，降低了人工檢測的人工工作強度，同時也提高了檢測效率以及檢測準確率。附圖說明圖I是本專利技術實施例提供的測量裝置的整體結構示意圖； 圖2是本專利技術實施例提供的測量裝置的俯視圖；圖3-1是本專利技術實施例提供的長度測量裝置的整體結構示意圖；圖3-2是本專利技術實施例提供的長度測量裝置的整體結構示意圖；圖4-1是本專利技術實施例提供的第一治具的結構示意圖；圖4-2是本專利技術實施例提供的第二治具的結構示意圖；圖5-1是本專利技術實施例提供的測量扁軸的結構示意圖；圖5-2是圖5-1的A處的局部放大圖；圖5-3是本專利技術實施例提供的扁軸的扁頭的結構示意圖；圖6是設有本專利技術提供的一種軸體的本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種測量裝置，用于測量軸體尺寸，包括工作平臺、PLC控制中心以及位于所述工作平臺上與所述PLC控制中心連接的可測量所述軸體尺寸的光學測量裝置，其特征在于，還包括置于所述工作平臺上的一對平行放置的平臺導軌、可沿所述平臺導軌滑行且垂直于所述平臺導軌的用于放置所述光學測量裝置的橫梁、位于所述平臺導軌之間且平行于與所述平臺導軌的治具導軌、置于所述治具導軌上且可沿所述治具導軌滑行的用于定位夾持所述軸體的治具以及置于所述治具導軌上與所述PLC控制中心連接的且可沿所述治具導軌滑行的用于測量所述軸體長度的長度測量裝置，所述治具包括平行排列于所述治具導軌上用于支撐夾持所述軸體的第一治具和第二治具，所述長度測量裝置與所述第一治具相對設置，所述第二治具位于所述第一治具與所述長度測量裝置之間。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：鄭青煥，
申請(專利權)人：深圳深藍精機有限公司，
類型：發明
國別省市：