本實用新型專利技術涉及電子技術領域,是一種提高數字電路應用能力的演示教具。數字電路課程是大學電子類專業(yè)的重點必修課程,在平時的實驗中所給的芯片都是老師事先用集成電路測試儀篩選出的好芯片,即使有一小部分損壞也將當報廢件處理,在做實驗時還給定芯片內部邏輯結構圖,學生做實驗只是按照圖紙連線,能力提高緩慢而且有限,本實用新型專利技術可以教會學生在沒有測試儀的情況下如何檢測芯片好壞,在不知芯片內部邏輯結構圖時如何測得引腳功能。本實用新型專利技術包括包括第一IC測試區(qū)1;第二IC測試區(qū)2;真值表區(qū)3;電源區(qū)4;LED指示燈5;第一芯片插座6;第二芯片插座7;狀態(tài)記錄燈8;轉換開關9。演示實驗時,根據需要配備相關的芯片和導線,實驗是通過給相應引腳輸入電平,根據輸出情況判斷芯片好壞和引腳功能。(*該技術在2022年保護過期,可自由使用*)
【技術實現步驟摘要】
本技術屬于電子
,涉及一種提高數字電路應用能力的演示教具。
技術介紹
數字電路課程是大學電子類專業(yè)的重點必修課程,該課程是一門實踐性很強的課,必須多動手,多實驗才能學的好,在平時的實驗中所給的芯片都是老師事先用集成電路測試儀篩選出的好芯片,即使有一小部分損壞也將當報廢件處理,在做實驗時還給定芯片內部邏輯結構圖,學生做實驗只是按照圖紙連線,能力提高緩慢而且有限,這種實驗方式不利于提高大學生的應用能力和專業(yè)應變能力,碰到一點問題就無法處理,不利于培養(yǎng)有創(chuàng) 造力的大學生。
技術實現思路
本技術正是為解決上述問題而提供的一種提高數字電路應用能力的演示教具,采用的技術方案如下所述。如圖I所示的一種提高數字電路應用能力的演示教具,其特征在于包括第一 IC測試區(qū)I ;第二 IC測試區(qū)2 ;真值表區(qū)3 ;電源區(qū)4 ;LED指示燈5 ;第一芯片插座6 ;第二芯片插座7 ;狀態(tài)記錄燈8 ;轉換開關9。第一 IC測試區(qū)I提供14腳芯片插座一個,該插座位于一個大的芯片輪廓內部,背面用導線一一對應相連,芯片輪廓外部有對應的插線孔;第一 IC測試區(qū)I還包括LED指示燈5,該燈有一個插線孔。第二 IC測試區(qū)2提供14腳芯片插座一個,該插座位于一個放大的芯片圖形內部,放大的芯片圖形內部畫有芯片內部結構圖,背面用導線一一對應相連,芯片輪廓外部有對應的插線孔;真值表區(qū)3的特征在于AB變量的各種組合旁邊都有一個插線孔,對應的提供和旁邊數字標記統一的電平;輸出變量Y的狀態(tài)用下面的4個狀態(tài)記錄燈8記錄,燈亮表示1,燈滅表示0,狀態(tài)的改變是通過轉換開關9來實現。附圖說明圖I是本技術的正面布局圖;圖中,第一 IC測試區(qū)I ;第二 IC測試區(qū)2 ;真值表區(qū)3 ;電源區(qū)4 ;LED指示燈5 ’第一芯片插座6 ;第二芯片插座7 ;狀態(tài)記錄燈8 ;轉換開關9具體實施方式以下是本技術的具體實施例并結合附圖,對本技術的技術方案作進一步的描述,但本技術并不限于這些實施例。實施例I利用本技術測試芯片好壞給定一個芯片74LS08,如果已知其內部結構,不知道該芯片內部的器件是否完好,可以把芯片74LS08插入第二芯片插座7的核心插座上,用一條導線連接第二芯片插座7的GND和電源區(qū)4的GND ;再用一條導線連接第二芯片插座7的VCC和電源區(qū)4的+5V ;用一條導線連接第二芯片插座7的第3腳和LED指示燈5的插線孔;再用2條導線分別連接第二芯片插座7的1,2腳和真值表區(qū)3的00兩個端子,觀察LED指示燈5的狀態(tài),通過撥動真值表區(qū)3的00狀態(tài)后面對應的轉換開關9來記錄本次實驗狀態(tài),撤掉剛才的2條導線,按同樣方法,再用這2條導線分別連接第二芯片插座7的1,2腳和真值表區(qū)3的01對應的兩個端子,觀察LED指示燈5的狀態(tài),再通過撥動真值表區(qū)3的01狀態(tài)后面對應的轉換開關9來記錄本次實驗狀態(tài)……,通過觀察狀態(tài)記錄燈8的情況,結合芯片74LS08的邏輯表達式Y = AB,即可以判斷第一套與門是否完好.同理可以測試其它3套與門的好壞。實施例2利用本技術測試芯片弓丨腳給定一個芯片74LS08,如果只知其是與門芯片,不知道該芯片內部結構和引腳功能。可以把芯片74LS08插入第一芯片插座6的核心插座上,用一條導線連接第一芯片插座6的GND和電源區(qū)4的GND ;再用一條導線連接第一芯片插座6的VCC和電源區(qū)4的+5V ;用一條導線一端連接LED指示燈5的插線孔,另一端依次在第一芯片插座6的1-6和8-13插線孔碰觸,注意觀察LED指示燈5,發(fā)現有四次LED指示燈5是亮的,那么這四個插線孔對應的內部就是該芯片內部四套與門的輸出端子;下一步實驗是確定和這四個輸出端子對應的輸入端子用一根導線連接LED指示燈5和一個輸出端,此時LED指示燈5是亮的,再用一根導線,一端接電源區(qū)4的GND,另一端依次碰觸剩余的8個插線孔,有2次碰觸會使LED指示燈5熄滅,熄滅的這兩次對應的就是該套與門的2個輸入端子,同理可以測出其余三套與門的引腳功能。根據需要不同,本技術還可以使用74LS32等等芯片進行演示,還可以判斷芯片的好壞等。本文中所描述的具體實施例僅僅是對本技術精神作舉例說明。本技術所屬
的技術人員可以對所描述的具體實施例做各種各樣的修改或補充或采用類似的方式替代,但并不會偏離本技術的精神所定義的范圍。權利要求1.一種提高數字電路應用能力的演示教具,其特征在于包括第一IC測試區(qū)(I)、第二IC測試區(qū)(2)、真值表區(qū)(3)、電源區(qū)(4)、LED指示燈(5)、第一芯片插座(6)、第二芯片插座(7)、狀態(tài)記錄燈(8)、轉換開關(9);電源區(qū)(4)。2.根據權利要求I所述的一種提高數字電路應用能力的演示教具,其第一IC測試區(qū)(1)提供一個14腳芯片插座第一芯片插座(6),該插座位于一個大的芯片輪廓內部,背面用導線一一對應相連,芯片輪廓外部有對應的插線孔;第一 IC測試區(qū)(I)還包括LED指示燈(5),該燈有一個插線孔。3.根據權利要求I所述的一種提高數字電路應用能力的演示教具,其第二IC測試區(qū)(2)提供14腳芯片插座一個第二芯片插座(7),該插座位于一個放大的芯片圖形內部,放大的芯片圖形內部畫有芯片內部結構圖,背面用導線一一對應相連,芯片輪廓外部有對應的插線孔。4.根據權利要求I所述的一種提高數字電路應用能力的演示教具,其真值表區(qū)(3)的特征在于AB變量的各種組合旁邊都有一個插線孔,對應的提供和旁邊數字標記統一的電平;輸出變量Y的狀態(tài)用下面的4個狀態(tài)記錄燈(8)記錄,燈亮表示I,燈滅表示O,狀態(tài)的改變是通過轉換開關(9)來實現。專利摘要本技術涉及電子
,是一種提高數字電路應用能力的演示教具。數字電路課程是大學電子類專業(yè)的重點必修課程,在平時的實驗中所給的芯片都是老師事先用集成電路測試儀篩選出的好芯片,即使有一小部分損壞也將當報廢件處理,在做實驗時還給定芯片內部邏輯結構圖,學生做實驗只是按照圖紙連線,能力提高緩慢而且有限,本技術可以教會學生在沒有測試儀的情況下如何檢測芯片好壞,在不知芯片內部邏輯結構圖時如何測得引腳功能。本技術包括包括第一IC測試區(qū)1;第二IC測試區(qū)2;真值表區(qū)3;電源區(qū)4;LED指示燈5;第一芯片插座6;第二芯片插座7;狀態(tài)記錄燈8;轉換開關9。演示實驗時,根據需要配備相關的芯片和導線,實驗是通過給相應引腳輸入電平,根據輸出情況判斷芯片好壞和引腳功能。文檔編號G09B23/18GK202771695SQ201220048908公開日2013年3月6日 申請日期2012年2月16日 優(yōu)先權日2012年2月16日專利技術者趙德才 申請人:趙德才本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種提高數字電路應用能力的演示教具,其特征在于包括:第一IC測試區(qū)(1)、第二IC測試區(qū)(2)、真值表區(qū)(3)、電源區(qū)(4)、LED指示燈(5)、第一芯片插座(6)、第二芯片插座(7)、狀態(tài)記錄燈(8)、轉換開關(9);電源區(qū)(4)。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員:趙德才,
申請(專利權)人:趙德才,
類型:實用新型
國別省市:
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