形位公差檢測工具制造技術(shù)

形位公差檢測工具，包括底座、立柱、滑動(dòng)組件、磁力表架、千分表，所述的底座上表面設(shè)置凸條和若干條滑動(dòng)凹槽；所述的滑動(dòng)組件放置在所述的滑動(dòng)凹槽內(nèi)，并且所述的凸條的上表面與嵌在所述的滑動(dòng)凹槽內(nèi)的滑動(dòng)組件的上表面處于同一水平面上；所述的立柱的底端固定在所述的底座上、所述的立柱上端安裝磁力表架，所述的磁力表架末端鉸接千分表。本實(shí)用新型專利技術(shù)的有益效果是：與CMM檢測數(shù)值基本相符，能達(dá)到預(yù)期的檢測效果；本實(shí)用新型專利技術(shù)在現(xiàn)場發(fā)揮了較大作用，使用相對方便；提升了車間加工效率，也提高了成品檢測速度，同時(shí)不失測量精度。（*該技術(shù)在2023年保護(hù)過期，可自由使用*）

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
形位公差檢測工具，其特征在于：包括底座、立柱、滑動(dòng)組件、磁力表架、千分表，所述的底座上表面設(shè)置凸條和若干條滑動(dòng)凹槽；所述的滑動(dòng)組件放置在所述的滑動(dòng)凹槽內(nèi)，并且所述的凸條的上表面與嵌在所述的滑動(dòng)凹槽內(nèi)的滑動(dòng)組件的上表面處于同一水平面上；所述的立柱的底端固定在所述的底座上、所述的立柱上端安裝磁力表架，所述的磁力表架末端鉸接千分表。

【技術(shù)特征摘要】

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：成結(jié)輝，孫永強(qiáng)，
申請(專利權(quán))人：慈溪市匯麗機(jī)電有限公司，
類型：實(shí)用新型
國別省市：