一種灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置及檢驗(yàn)方法制造方法及圖紙

本發(fā)明專利技術(shù)提供一種灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置及檢驗(yàn)方法，所述灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置包括X射線機(jī)、灌漿套筒試件、數(shù)字影像板、操作平臺(tái)和計(jì)算機(jī)，灌漿套筒試件和數(shù)字影像板固定在操作平臺(tái)上，操作平臺(tái)上設(shè)有載物臺(tái)，載物臺(tái)可相對(duì)所述操作平臺(tái)進(jìn)行移動(dòng)，灌漿套筒試件固定在載物臺(tái)上，數(shù)字影像板和計(jì)算機(jī)連接，X射線機(jī)發(fā)出的X射線照射在灌漿套筒試件后在數(shù)字影像板上投影成像。本發(fā)明專利技術(shù)的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置及檢驗(yàn)方法，通過(guò)對(duì)灌漿套筒試件進(jìn)行位置調(diào)整，X射線機(jī)對(duì)灌漿套筒試件進(jìn)行照射后由數(shù)字影像板得到投影圖像文件，再對(duì)投影圖像文件進(jìn)行參數(shù)分析，即可得到灌漿套筒試件的缺陷寬度和缺陷面積等精確信息。

Defect inspection device and test method for grouting sleeve specimen

The invention provides a grouting sleeve defect test device and method for testing parts, the grouting sleeve defect inspection device test including X ray machine, filling sleeve specimen, digital image board, operating platform and computer, grout sleeve specimen and digital imaging plate is fixed on the operating platform is arranged on the operating platform carrier carrier relative to the operation of the mobile platform, grout sleeve specimens were fixed in the stage, connecting board and computer digital image, X ray emitted X ray machine specimens in the grout sleeve after projection in the digital image on the imaging plate. The defect inspection device and inspection method of the grouting sleeve of the invention, the position adjustment through the grout sleeve specimen, X ray machine for filling sleeve specimen irradiated by digital imaging plate projection image file, and then analysis the parameters of the projection image file, can obtain the grout sleeve specimen width and defects the defect area of accurate information.

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
一種灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置及檢驗(yàn)方法
本專利技術(shù)涉及建筑工程
，主要涉及一種灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置及檢驗(yàn)方法。
技術(shù)介紹
國(guó)務(wù)院《國(guó)家中長(zhǎng)期科學(xué)和技術(shù)發(fā)展規(guī)劃綱要》(2006-2020年)確定了國(guó)民經(jīng)濟(jì)和社會(huì)發(fā)展的重點(diǎn)領(lǐng)域，建筑工業(yè)化是規(guī)劃確定的任務(wù)之一，是我國(guó)建筑行業(yè)未來(lái)的發(fā)展方向，灌漿套筒試件是建筑結(jié)構(gòu)中常用的連接結(jié)構(gòu)，通常包括套筒，內(nèi)部鋼筋，以及用于連接固定套筒和內(nèi)部鋼筋的灌漿，建筑結(jié)構(gòu)在正常使用過(guò)程中或地震等突發(fā)狀況時(shí)，灌漿套筒試件將承受拉、壓等作用，內(nèi)部灌漿材料的應(yīng)力很大，如果灌漿不密實(shí)或存在較大缺陷必將嚴(yán)重影響建筑結(jié)構(gòu)的力學(xué)性能，產(chǎn)生安全隱患。因此，對(duì)灌漿套筒試件的材料密實(shí)度進(jìn)行檢測(cè)是建筑行業(yè)廣泛關(guān)注并亟待解決的問(wèn)題。“十三五”國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃課題“工業(yè)化建筑質(zhì)量驗(yàn)收方法及標(biāo)準(zhǔn)體系”等項(xiàng)目已開(kāi)展工業(yè)化建筑節(jié)點(diǎn)驗(yàn)收的相關(guān)研究，以期解決灌漿缺陷的定量識(shí)別問(wèn)題。目前，常用的檢測(cè)方法是對(duì)灌漿套筒試件進(jìn)行力學(xué)性能的檢驗(yàn)，檢驗(yàn)過(guò)程會(huì)對(duì)灌漿套筒試件造成損壞，而且不能對(duì)灌漿套筒試件的缺陷面積和缺陷位置等進(jìn)行精確計(jì)算。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的目的在于提供一種可實(shí)現(xiàn)對(duì)缺陷面積和缺陷位置等進(jìn)行精確計(jì)算且能夠避免對(duì)灌漿套筒試件造成損壞的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)采取的技術(shù)方案為：一種灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置，包括X射線機(jī)、灌漿套筒試件、數(shù)字影像板、操作平臺(tái)和計(jì)算機(jī)，所述灌漿套筒試件和所述數(shù)字影像板固定在所述操作平臺(tái)上，所述操作平臺(tái)上設(shè)有載物臺(tái)，所述載物臺(tái)可相對(duì)所述操作平臺(tái)進(jìn)行移動(dòng)，所述灌漿套筒試件固定在所述載物臺(tái)上，所述數(shù)字影像板和所述計(jì)算機(jī)連接，所述X射線機(jī)發(fā)出的X射線照射在所述灌漿套筒試件后在所述數(shù)字影像板上投影成像。本專利技術(shù)的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置，通過(guò)對(duì)灌漿套筒試件進(jìn)行位置調(diào)整，X射線機(jī)照射后由數(shù)字影像板得到投影成像圖像，再對(duì)投影成像圖像進(jìn)行參數(shù)分析，即可得到灌漿套筒試件的缺陷面積和缺陷位置等精確信息。所述灌漿套筒試件沿豎直方向固定在所述載物臺(tái)上，所述載物臺(tái)可在水平方向和豎直方向進(jìn)行移動(dòng)并可繞灌漿套筒試件軸線進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)。所述數(shù)字影像板緊貼所述灌漿套筒試件，所述數(shù)字影像板與所述X射線機(jī)的發(fā)射源和所述灌漿套筒試件的中心連線垂直。所述灌漿套筒試件上還設(shè)有用于測(cè)定所述X射線在所述數(shù)字影音板上投影成像靈敏度的像質(zhì)計(jì)。本專利技術(shù)的目的還在于提供一種可實(shí)現(xiàn)對(duì)缺陷面積和缺陷位置等進(jìn)行精確計(jì)算且能夠避免對(duì)灌漿套筒試件造成損壞的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)方法。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)采取的技術(shù)方案為：一種灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)方法，其特征在于，包括以下步驟：S1、測(cè)量灌漿套筒試件的套筒的外徑D以及所述套筒內(nèi)的鋼筋的直徑Φ；S2、將所述灌漿套筒試件固定在載物臺(tái)上，所述載物臺(tái)設(shè)在操作平臺(tái)上，所述載物臺(tái)可相對(duì)所述操作平臺(tái)進(jìn)行移動(dòng)，所述灌漿套筒試件的一側(cè)設(shè)置X射線機(jī)，所述灌漿套筒試件的另一側(cè)設(shè)置數(shù)字影像板，所述數(shù)字影像板連接計(jì)算機(jī)；S3、將所述載物臺(tái)調(diào)整至第一位置，測(cè)定所述X射線機(jī)的射線源與套筒試件軸線的距離H，打開(kāi)所述X射線機(jī)，所述X射線機(jī)發(fā)射的X射線穿過(guò)所述灌漿套筒試件后由所述數(shù)字影像板接收，所述數(shù)字影像板接收所述X射線進(jìn)行處理后得到第一張投影圖像文件；S4、將所述載物臺(tái)調(diào)整至第二位置從而使所述灌漿套筒試件繞軸線旋轉(zhuǎn)一定角度，得到第二張投影圖像文件；S5、對(duì)所獲得的第一張投影圖像文件和第二張投影圖像文件進(jìn)行參數(shù)分析，進(jìn)而計(jì)算出所述灌漿套筒試件的缺陷的寬度、長(zhǎng)度和面積信息。本專利技術(shù)的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)方法，通過(guò)對(duì)灌漿套筒試件進(jìn)行位置調(diào)整，經(jīng)X射線機(jī)照射后由數(shù)字影像板得到投影成像圖像，再對(duì)投影成像圖像進(jìn)行參數(shù)分析，即可得到灌漿套筒試件的缺陷面積和缺陷位置等精確信息。所述灌漿套筒試件沿豎直方向固定在所述載物臺(tái)上，所述載物臺(tái)可進(jìn)行水平方向和豎直方向的移動(dòng)，并可繞灌漿套筒試件軸線進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)。所述數(shù)字影像板緊貼所述灌漿套筒試件，所述數(shù)字影像板與所述X射線機(jī)的發(fā)射源和所述灌漿套筒試件的中心連線垂直。所述步驟S4中灌漿套筒試件繞軸線的旋轉(zhuǎn)角度為90°。所述步驟S5中參數(shù)分析的方法為：l＝min(l1,l2)，A＝s×l,其中s為缺陷實(shí)際寬度，H為X射線機(jī)的射線源與套筒試件軸線的距離，R為灌漿套筒試件的半徑，a1為第一位置投影成像缺陷顯示寬度，a2為第二位置投影成像缺陷顯示寬度，l為缺陷實(shí)際長(zhǎng)度，l1為第一位置投影成像缺陷顯示長(zhǎng)度，l2為第二位置投影成像缺陷顯示長(zhǎng)度，A為缺陷當(dāng)量面積。所述灌漿套筒試件上還設(shè)有用于測(cè)定所述X射線在所述數(shù)字影音板上投影成像靈敏度的像質(zhì)計(jì)。附圖說(shuō)明圖1為本專利技術(shù)的具體實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為圖1的俯視圖；圖3為本專利技術(shù)的具體實(shí)施例一中缺陷寬度的參數(shù)分析示意圖；圖4為本專利技術(shù)的具體實(shí)施例一中缺陷長(zhǎng)度的參數(shù)分析示意圖。具體實(shí)施方式下面結(jié)合附圖對(duì)本專利技術(shù)作進(jìn)一步說(shuō)明。本專利技術(shù)的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置的具體實(shí)施例一，如圖1至圖4中所示，包括灌漿套筒試件1、載物臺(tái)2、操作平臺(tái)3、X射線機(jī)4、數(shù)字影像板5、像質(zhì)計(jì)6和計(jì)算機(jī)7，灌漿套筒試件1和數(shù)字影像板5固定在操作平臺(tái)3上，數(shù)字影像板5設(shè)置在灌漿套筒試件1一側(cè)，數(shù)字影像板5連接有計(jì)算機(jī)7，X射線機(jī)4設(shè)置在灌漿套筒試件1的另一側(cè)，X射線機(jī)4發(fā)出X射線對(duì)灌漿套筒試件1進(jìn)行照射，數(shù)字影像板5接收穿過(guò)灌漿套筒試件1的X射線并通過(guò)計(jì)算機(jī)7得到投影圖像文件。操作平臺(tái)3上設(shè)有載物臺(tái)2，載物臺(tái)2可相對(duì)操作平臺(tái)3進(jìn)行豎直方向和水平方向的移動(dòng)并可繞灌漿套筒試件軸線進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)，灌漿套筒試件1通過(guò)內(nèi)部的鋼筋垂直固定在載物臺(tái)2上并隨載物臺(tái)2一起相對(duì)操作平臺(tái)進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，通過(guò)載物臺(tái)2的移動(dòng)可實(shí)現(xiàn)灌漿套筒試件1的位置調(diào)整，再通過(guò)數(shù)字影像板5即可得到投影圖像文件。數(shù)字影像板5緊貼灌漿套筒試件1安裝固定，數(shù)字影像板5與X射線機(jī)4的發(fā)射源和灌漿套筒試件1的中心連線垂直，從而便于對(duì)數(shù)字影像板5得到的投影圖像文件進(jìn)行參數(shù)分析，當(dāng)然，在本專利技術(shù)的漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置的其他實(shí)施例中，數(shù)字影像板5可以和灌漿套筒試件1保持一定的間距，從而避免數(shù)字影像板5和灌漿套筒試件1安裝固定時(shí)發(fā)生干涉，另外，數(shù)字影像板5與X射線機(jī)4的發(fā)射源和灌漿套筒試件1的中心線也可根據(jù)實(shí)際狀況設(shè)定為其他角度。像質(zhì)計(jì)6設(shè)置在灌漿套筒試件1上，用于測(cè)定X射線在數(shù)字影像板5上投影成像靈敏度，安裝像質(zhì)計(jì)6，可檢驗(yàn)X射線投影成像的精準(zhǔn)性，從而保證灌漿套筒試件1的缺陷分析的準(zhǔn)確性，本實(shí)施例中像質(zhì)計(jì)6的型號(hào)為10FE16，射線檢驗(yàn)技術(shù)等級(jí)為AB級(jí)。本專利技術(shù)的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)方法的具體實(shí)施例一，如圖1至圖4中所示，所涉及的檢驗(yàn)裝置和上述灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置的具體實(shí)施例一中的檢驗(yàn)裝置一致，包括灌漿套筒試件1、操作平臺(tái)3、X射線機(jī)4、數(shù)字影像板5、像質(zhì)計(jì)6和計(jì)算機(jī)7，灌漿套筒試件1和數(shù)字影像板5固定在操作平臺(tái)3上，數(shù)字影像板5設(shè)置在灌漿套筒試件1一側(cè)，數(shù)字影像板5連接有計(jì)算機(jī)7，X射線機(jī)4設(shè)置在灌漿套筒試件1的另一側(cè)，X射線機(jī)4發(fā)出X射線對(duì)灌漿套筒試件1進(jìn)行照射，數(shù)字影像板5接收穿過(guò)灌漿套筒試件1的X射線并通過(guò)計(jì)算機(jī)7得到投影圖像文件。數(shù)字影像板5緊貼灌漿套筒試件1安裝固定，數(shù)字影像板5與X射線機(jī)4的發(fā)射源和灌漿套筒試件1的中心連線垂直本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置，其特征在于，包括X射線機(jī)、灌漿套筒試件、數(shù)字影像板、操作平臺(tái)和計(jì)算機(jī)，所述灌漿套筒試件和所述數(shù)字影像板固定在所述操作平臺(tái)上，所述操作平臺(tái)上設(shè)有載物臺(tái)，所述載物臺(tái)可相對(duì)所述操作平臺(tái)進(jìn)行移動(dòng)，所述灌漿套筒試件固定在所述載物臺(tái)上，所述數(shù)字影像板和所述計(jì)算機(jī)連接，所述X射線機(jī)發(fā)出的X射線照射在所述灌漿套筒試件后在所述數(shù)字影像板上投影成像。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置，其特征在于，包括X射線機(jī)、灌漿套筒試件、數(shù)字影像板、操作平臺(tái)和計(jì)算機(jī)，所述灌漿套筒試件和所述數(shù)字影像板固定在所述操作平臺(tái)上，所述操作平臺(tái)上設(shè)有載物臺(tái)，所述載物臺(tái)可相對(duì)所述操作平臺(tái)進(jìn)行移動(dòng)，所述灌漿套筒試件固定在所述載物臺(tái)上，所述數(shù)字影像板和所述計(jì)算機(jī)連接，所述X射線機(jī)發(fā)出的X射線照射在所述灌漿套筒試件后在所述數(shù)字影像板上投影成像。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述灌漿套筒試件沿豎直方向固定在所述載物臺(tái)上，所述載物臺(tái)可在水平方向和豎直方向進(jìn)行移動(dòng)并可繞所述灌漿套筒試件軸線進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述數(shù)字影像板緊貼所述灌漿套筒試件，所述數(shù)字影像板與所述X射線機(jī)的發(fā)射源和所述灌漿套筒試件的中心連線垂直。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)裝置，其特征在于，所述灌漿套筒試件上還設(shè)有用于測(cè)定所述X射線在所述數(shù)字影音板上投影成像靈敏度的像質(zhì)計(jì)。5.一種灌漿套筒試件的缺陷檢驗(yàn)方法，其特征在于，包括以下步驟：S1、測(cè)量灌漿套筒試件的套筒的外徑D以及所述套筒內(nèi)的鋼筋的直徑Φ；S2、將所述灌漿套筒試件固定在載物臺(tái)上，所述載物臺(tái)設(shè)在操作平臺(tái)上，所述載物臺(tái)可相對(duì)所述操作平臺(tái)進(jìn)行移動(dòng)，所述灌漿套筒試件的一側(cè)設(shè)置X射線機(jī)，所述灌漿套筒試件的另一側(cè)設(shè)置數(shù)字影像板，所述數(shù)字影像板連接計(jì)算機(jī)；S3、將所述載物臺(tái)調(diào)整至第一位置，測(cè)定所述X射線機(jī)的射線源與套筒試件軸線的距離H，打開(kāi)所述X射線機(jī)，所述X射線機(jī)發(fā)射的X射線穿過(guò)所述灌漿...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：陶里，鄭清林，徐文杰，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：中國(guó)建筑科學(xué)研究院，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：北京,11